Температурная стабильность тонкопленочных периодических структур IZO с градиентной модуляцией содержания кислорода по толщине
Russian Science Foundation, 22-19-00157
Ахмедов А.К.1, Асваров А.Ш.1, Мурлиев Э.К.1, Абдуев А.Х.2
1Институт физики им. Х.И. Амирханова ДФИЦ РАН, Махачкала, Россия
2Московский государственный университет просвещения, Москва, Россия

Email: cht-if-ran@mail.ru, abil-as@list.ru, a_abduev@mail.ru
Поступила в редакцию: 10 августа 2024 г.
В окончательной редакции: 13 ноября 2024 г.
Принята к печати: 13 ноября 2024 г.
Выставление онлайн: 14 марта 2025 г.
Путем периодического изменения содержания кислорода в составе рабочего газа в процессе высокочастотного магнетронного распыления мишени на основе In2O3 с добавкой 10 wt.% ZnO (IZO) получены тонкопленочные прозрачные периодические структуры высокой проводимости с градиентной модуляцией содержания кислорода по толщине. Исследована температурная стабильность электрических характеристик полученных структур при отжигах в вакууме и открытой атмосфере. Установлено, что в результате обоих отжигов сопротивление структуры растет. Показано, что при атмосферном отжиге рост сопротивления происходит преимущественно за счет снижения концентрации свободных электронов, обусловленного нейтрализацией вакансионных донорных центров атмосферным кислородом, а при вакуумном отжиге - за счет снижения их подвижности, обусловленного разрушением модулированной структуры пленки. Ключевые слова: магнетронное распыление, оксид индия, оксид цинка, тонкопленочная периодическая структура, градиентная модуляция, электрическое сопротивление.
- Y. Zhidik, A. Ivanova, S. Smirnov, K. Zhuk, I. Yunusov, P. Troyan, Coatings, 12 (12), 1868 (2022). DOI: 10.3390/coatings12121868
- H. Liu, V. Avrutin, N. Izyumskaya, U. Ozgur, H. Morko c, Superlat. Microstruct., 48, 458 (2010). DOI: 10.1016/j.spmi.2010.08.011
- Ю.С. Жидик, П.Е. Троян, В.В. Козик, С.А. Козюхин, А.В. Заболотская, С.А. Кузнецова, Изв. вузов. Физика, 63 (7), 31 (2020). DOI: 10.17223/00213411/63/7/31 [Y.S. Zhidik, P.E. Troyan, V.V. Kozik, S.A. Kozyukhin, A.V. Zabolotskaya, S.A. Kuznetsova, Russ. Phys. J., 63 (7), 1139 (2020). DOI: 10.1007/s11182-020-02167-4]
- D.C. Look, J.W. Hemsky, J.R. Sizelove, Phys. Rev. Lett., 82, 2552 (1999). DOI: 10.1103/PhysRevLett.82.2552
- A. Zunger, Appl. Phys. Lett., 83, 57 (2003). DOI: 10.1063/1.1584074
- R.J. Hamers, Nature, 412, 489 (2001). DOI: 10.1038/35087682
- Y. Liu, M. Pharr, G.A. Salvatore, ACS Nano, 11, 9614 (2017). DOI: 10.1021/acsnano.7b04898
- P. Zhao, S. Kim, S. Yoon, P. Song, Thin Solid Films, 665, 137 (2018). DOI: 10.1016/j.tsf.2018.09.018
- A.K. Akhmedov, A.Kh. Abduev, V.M. Kanevsky, A.E. Muslimov, A.Sh. Asvarov, Coating, 10 (3), 269 (2020). DOI: 10.3390/coatings10030269
- H. Hara, T. Hanada, T. Shiro, T. Yatabe, J. Vac. Sci. Technol. A, 22 (4), 1726 (2004). DOI: 10.1116/1.1692270
- S. Li, Z. Shi, Z. Tang, X. Li, Vacuum, 145, 262 (2017). DOI: 10.1016/j.vacuum.2017.09.011
- H. Hosono, J. Non-Cryst. Solids, 352, 851 (2006). DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2006.01.073
- A.K. Akhmedov, E.K. Murliev, A.Sh. Asvarov, A.E. Muslimov, V.M. Kanevsky, Coating, 12 (10), 1583 (2022). DOI: 10.3390/coatings12101583
- J.J. Robbins, C.A. Wolden, Appl. Phys. Lett., 83 (19), 3933 (2003). DOI: 10.1063/1.1625435
- A.K. Akhmedov, A.K. Abduev, E.K. Murliev, V.V. Belyaev, A.S. Asvarov, Materials, 16, 3740 (2023). DOI: 10.3390/ma16103740
- А.Ш. Асваров, А.К. Ахмедов, А.Э. Муслимов, В.М. Каневский, Письма в ЖТФ, 48 (2), 51 (2022). DOI: 10.21883/PJTF.2022.02.51914.19001 [A.Sh. Asvarov, A.K. Akhmedov, A.E. Muslimov, V.M. Kanevsky, Tech. Phys. Lett., 48 (1), 91 (2022). DOI: 10.21883/TPL.2022.01.52481.19001]
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.