Хомченко В.С.1, Сопинский Н.В.1, Савин А.К.1, Литвин О.С.1, Заяц Н.С.1, Хачатрян В.Б.1, Корчевой А.А.1
1Институт физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Email: vsk@isp.kiev.ua
Поступила в редакцию: 27 июля 2007 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2008 г.
Впервые пленки углерода получены простейшим, экологически чистым, модифицированным методом сублимации с близкого расстояния при атмосферном давлении. Пленки углерода были нанесены на кварцевые, стеклянные, ситалловые и кремниевые подложки. Детально исследованы основные свойства пленок, такие как скорость роста, морфология и структура пленок, оптические свойства, зависимость этих характеристик от температуры осаждения и материала подложки. Для исследования были использованы различные методы - рентгенодифракционный, микроскопии атомных сил, многоугловой эллипсометрии, измерения спектров пропускания и отражения в видимой и ближней УФ-областях. Скорость роста составляла 5 nm/min при температуре зарождения пленки 800oC. Толщина пленок варьировалась от 0.2 до 2.2 mum. Минимальная шероховатость поверхности образцов - 0.5 nm. Показатель преломления пленок варьируется от 1.3 до 1.8 в зависимости от условий получения и последующей термообработки. Оптическая ширина запрещенной зоны составляет 5.4 eV. PACS: 81.05.Uw, 81.15.-z, 68.55.-a, 78.20.Ci
- Popov C., Rulish W., Jelineck M. et al. // Thin Solid Films. 2006. Vol. 494. N 1--2. P. 92--97
- Shirakura A. et al. // Thin Solid Films. 2006. Vol. 494. N 1--2. P. 84--91
- Ястребов С.Г., Иванов-Омский В.И., Рихтер А. // ФТП. 2003. Т. 37. Вып. 10. С. 1193--1196
- Клюй Н.И., Литовченко В.Г., Лукьянов А.Н. и др. // ЖТФ. 2006. Т. 76. Вып. 5. С. 122--126
- Givargizov E.I., Zhirnov V.V., Stepanova A.N. // Appl. Surf. Sci. 1995. Vol. 87--88. P. 24--30
- Иванов-Омский В.И., Толмачев А.В., Ястребов С.Г. // ФТП. 2001. Т. 35. Вып. 2. С. 227--232
- Звонарева Т.К., Лебедев В.М., Полянская Т.А. и др. // ФТП. 2000. Т. 34. Вып. 9. С. 1135--1141
- Myong Hyun S., Park Yong S. et al. // Thin Solid Films. 2006. Vol. 494. N 1--2. P. 123--127
- Семенов А.П., Белянин А.Ф., Семенова И.А. и др. // ЖТФ. 2004. Вып. 5. С. 101--104
- Schultrich B. // Adv. Eng. Mater. 2000. Vol. 2. P. 419--423
- Хомченко В.С., Сопинский Н.В., Савин А.К. и др. // Тр. IV Междунар. конф. "Материалы и покрытия в экстремальных условиях" (MEE-2006). Крым, Украина, 2006. С. 220
- Abbas Shan N., Ali A., Ali Z. et al. // J. Cryst. Growth. 2005. Vol. 284. N 3--4. P. 477--485
- Бережинский Л.И., Сопинский Н.В., Хомченко В.С. // ЖПС. 2001. Т. 68. Вып. 1. С. 103--109
- Кокс Д., Хасс Г. // Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения / Под ред. Г. Хасса и Р.Э. Туна. Т. 2. М.: Мир, 1967. С. 186--253. (Physics of thin films. Acvances in Research and Development / Ed. by G. Hass and R.E. Thun. V. 2. N.Y.; London: Academic Press, 1964)
- Физические свойства алмаза. Справочник / Под ред. В.Н. Новикова. Киев: Наук. думка, 1987. 192 с
- Звонарева Т.К., Шаронова Л.В. // ФТП. 1999. Вып. 6. С. 742--746
- Ястребов С.Г., Гаррига М., Алонсо М.И., Иванов-Омский В.И. // ФТП. 2003. Т. 37. Вып. 10. С. 1241--1243
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.