Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2026
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Зеркала для двухзеркального монохроматора станции " Микрофокус" синхротрона СКИФ
Russian science foundation, 21-72-30029-P
Russian science foundation, 21-72-20108-P
1Институт физики микроструктур РАН, Афонино, Кстовский р-он, Нижегородская обл., Россия 
Email: smertin_ruslan@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 23 апреля 2026 г.
В окончательной редакции: 23 апреля 2026 г.
Принята к печати: 23 апреля 2026 г.
Выставление онлайн: 12 августа 2026 г.
Для двухзеркального монохроматора для станции 1-1 " Микрофокус" синхротрона СКИФ изготовлена пара высокоточных и идентичных по параметрам трехстрипповых многослойных зеркал. Каждый стрипп был рассчитан на свой спектральный диапазон и требуемое спектральное разрешение, что позволило всего двумя зеркалами перекрыть диапазон энергий фотонов 10-30 keV. Подробно описана процедура осаждения отражающих многослойных покрытий. Определены отражательные и спектральные характеристики изготовленных зеркал. Ключевые слова: многослойные рентгеновские зеркала, синхротронное излучение, рентгеновский монохроматор.
- Е.И. Глушков, А.А. Ахсахалян, П.А. Вепрев, И.Г. Забродин, М.В. Зорина, И.В. Малышев, М.С. Михайленко, А.Е. Пестов, Е.В. Петраков, Р.С. Плешков, Е.С. Антюшин, В.Н. Полковников, Д.Г. Реунов, А.Б. Уласевич, А.К. Чернышев, Н.И. Чхало, Р.А. Шапошников, Я.В. Ракшун, Ю.В. Хомяков, В.А. Чернов, И.П. Долбня. ЖТФ, 95 (10), 1963 (2025). DOI: 10.61011/JTF.2025.10.61350.125-25
- A. Erko, M. Idir, Th. Krist, A.G. Michette. Modern Developments in X-ray and Neutron Optics (Springer, NY., Berlin, Heidelberg, 2008)
- Н.И. Чхало, И.В. Малышев, А.Е. Пестов, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.Н. Торопов. УФН, 190 (1), 74 (2020)
- U. Dinger, F. Eisert, H. Lasser, M. Mayer, A. Seifert, G. Seitz, S. Stacklies, F. Stickel, M. Weiser. In: Soft X-Ray and EUV Imaging Systems. SPIE, 4146, 35 (2000). DOI: 10.1117/12.406674
- A. Chernyshev, N. Chkhalo, I. Malyshev, M. Mikhailenko, A. Pestov, R. Pleshkov, R. Smertin, M. Svechnikov, M. Toropov. Precision Engineer, 69, 29 (2021). DOI: 10.1016/j.precisioneng.2021.01.006
- S.R. Wilson, D.W. Reicher, J.R. McNeil. In: Advances in Fabrication and Metrology for Optics and Large Optics, SPIE, 996, 74 (1989). DOI: 10.1117/12.948051
- T.W. Drueding, S.C. Fawcett, S.R. Wilson, T.G. Bifano. Opt. Engineer., 34 (12), 3565 (1995). DOI: 10.1117/12.215648
- M. Xu, Y. Dai, X. Xie, L. Zhou, W. Liao. Appl. Opt., 54 (27), 8055 (2015). DOI: 10.1364/AO.54.008055
- M. Zeuner, S. Kiontke. Opt. Photonik, 7 (2), 56 (2012). DOI: 10.1002/opph.201290051
- T. Franz, T. Hansel. In: Optical fabrication and testing. OThC7, Optica Publishing Group (2008), DOI: 10.1364/OFT.2008.OThC7
- Я.В. Зубавичус. Технологическая инфраструктура сибирского кольцевого источника фотонов " СКИФ". Т. 1. Экспериментальные станции первой очереди и Лабораторный комплекс (Ин-т катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск, 2022)
- Я.В. Ракшун, Ю.В. Хомяков, Е.И. Глушков, А.С. Гоголев, М.В. Горбачев, А.В. Дарьин, Ф.А. Дарьин, И.П. Долбня, С.В. Ращенко, В.А. Чернов, Н.И. Чхало, М.Р. Шарафутдинов. Известия ТПУ. Инжиниринг георесурсов, 336 (5), 229 (2025). DOI: 10.18799/24131830/2025/5/5122
- M. Svechnikov. Appl. Crystallography, 57 (3), 848 (2024)
- S.A. Bogachev, N.I. Chkhalo, S.V. Kuzin, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, S.V. Shestov, S.Y. Zuev. Appl. Optics, 55 (9), 2126 (2016). DOI: 10.1364/AO.55.002126
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
