Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Визуализация магнитных полей в растровом электронном микроскопе
Переводная версия: 10.61011/TP.2023.07.56643.81-23 
РНФ, №21-72-10176
1Институт физики микроструктур РАН, д. Афонино, Кстовский р-он, Нижегородская обл., Россия 
2Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: tatarsky@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 12 апреля 2023 г.
В окончательной редакции: 12 апреля 2023 г.
Принята к печати: 12 апреля 2023 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2023 г.
Продемонстрирована принципиальная возможность измерения распределений полей рассеяния магнитных объектов в растровом электронном микроскопе. Основная идея метода заключается в использовании держателя образцов для работы в режиме сканирующего просвечивающего микроскопа, дополнительно оснащенном квадратной дифракционной решеткой. Эта решетка, сформированная на основе металлической пленки, размещена на некотором расстоянии под магнитным образцом. Восстановление отклонений прошедших электронов методом анализа геометрической фазы по видимым искажениям дифракционной решетки позволила реконструировать распределение магнитного поля, создаваемое исследуемым образцом. Ключевые слова: лоренцева электронная микроскопия, электронная голография, магнитное поле, магнитные наноструктуры.
- Y. Aharonov, D. Bohm. Phys. Rev. B, 115, 485 (1959)
- A. Tonomura, N. Osakabe, T. Matsuda, T. Kawasaki, J. Endo, S. Yano, H. Yamada. Phys. Rev. Lett., 56, 792 (1986)
- T. Tanigaki, K. Harada, Y. Murakami, K. Niitsu, T. Akashi, Y. Takahashi, A. Sugawara, D. Shindo. J. Phys. D: Appl. Phys., 49, 244001 (2016)
- A. Kohn, A. Habibi, M. Mayo. Ultramicroscopy, 160, 44 (2016)
- M. Huang, A. Eljarrat, C. Koch. Ultramicroscopy, 231, 113264 (2021)
- K. Harada, K. Shimada, Y. Takashi. Microscopy, 71, 93 (2022)
- J.N. Chapman, I.R. McFadyen, S. McVitie. IEEE Transactions on Мagnetics, 26, 1506 (1990)
- M.R. Scheinfein, J. Unguris, M.H. Kelley, D.T. Pierce, R.J. Celotta. Rev. Scientific Instruments, 61, 2501 (1990)
- T. Kohashi, K. Koike. Jpn. J. Appl. Phys., 40, L1264 (2001)
- С.А. Гусев, В.Н. Петров, Е.В. Скороходов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 7, 40 (2010)
- В.Л. Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии (ИФМ РАН, Нижний Новгород, 2004)
- L. Kong, St.Y. Chou, J. Appl. Phys., 81, 5026 (1997)
- P.J.A. van Schendel, H.J. Hug, B. Stiefel, S. Martin, H.-J. Guntherodt. J. Appl. Phys., 88, 435 (2000)
- D. Nev cas, P. Klapetek, V. Neu, M. Havl cek, R. Puttock, O. Kazakova, X. Hu, L. Zaj ckova. Scientific Reports, 9, 3880 (2019)
- M.J. Hytch, E. Snoeck, R. Kilaas. Ultramicroscopy, 74, 131 (1998)
- J.L. Rouvi\`ere, E. Sarigiannidou. Ultramicroscopy, 106, 1 (2005)
- K.-H. Kim. Appl. Micro., 45, 101 (2015)
- V. Panchal, H. Corte-Leon, B. Gribkov, L.A. Rodriguez, E. Snoeck, A. Manzin, E. Simonetto, S. Vock, V. Neu, O. Kazakova, Scientific Reports, 7, 7224 (2017)
- V. Boureau, M. Stano, J.-L. Rouviere, J.-Ch. Toussaint, O. Fruchart, D. Cooper. J. Phys. D: Appl. Phys., 54, 085001 (2021)
- H.S. Park, X. Yu, Sh. Aizawa, T. Tanigaki, T. Akashi, Y. Takahashi, T. Matsuda, N. Kanazawa, Y. Onose, D. Shindo, A. Tonomura, Y. Tokura. Nature Nanotech., 9, 337 (2014)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
