Оптимизация параметров компактного источника мягкого рентгеновского излучения для работы в диапазоне длин волн 2-5 nm
Российский научный фонд, Проведение исследований научными группами под руководством молодых ученых» Президентской программы исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, 21-79-10110
Самохвалов А.А.1,2, Сергушичев К.А.2, Елисеев С.И.2,3, Бронзов Т.П.2, Большаков Е.П.2, Гетман Д.В.2, Смирнов А.А.2
1Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
2ООО "Лаборатория им. В.А. Бурцева", Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
Email: samokhvalov.itmo@gmail.com
Поступила в редакцию: 4 апреля 2022 г.
В окончательной редакции: 4 апреля 2022 г.
Принята к печати: 4 апреля 2022 г.
Выставление онлайн: 12 июня 2022 г.
Представлен компактный источник мягкого рентгеновского излучения для работы в диапазоне длин волн 2-5 nm с частотой следования импульсов более 500 Hz. Проведена оптимизация параметров источника для уменьшения интенсивности абляции стенки разрядного объема и получения максимальной интенсивности спектральных линий многозарядных ионов C V - 4 nm и Ar IX - 4.87 nm. Полученные результаты могут быть использованы при разработке микроскопа для задач клеточной микроскопии на просвет с нанометровым разрешением. Ключевые слова: наносекундный капиллярный разряд, плазма, мягкое рентгеновское излучение, многозарядные ионы.
- M. Kordel, A. Dehlinger, C. Seim, U. Vogt, E. Fogelqvist, J.A. Sellberg, H. Stiel, H.M. Hertz. Optica, 7 (6), 658 (2020). DOI: 10.1364/OPTICA.393014
- A. Artukov, I. Vinogradov, Y. Bugayev, Y. Devizenko, V. Kondratenko, Y. Kasyanov. J. Exp. Theor. Phys., 109 (5), 872 (2009). DOI: 10.1134/S1063776109110156
- E.S. Wyndham, M. Favre, M.P. Valdivia, J.C. Valenzuela, H. Chuaqui, H. Bhuyan. Rev. Sci. Instrum., 81 (9), 093502--8 (2010). DOI: 10.1063/1.3482070
- H. Avaria, G. Guzman, F. Ruiz, M. Favre, M. Wyndham, E. Bhuyan, H. Chuaqui. Plasma Sources Sci. Technol., 18, 045014 (2009). DOI: 10.1088/0963-0252/18/4/045014
- J. Vieker, K. Bergmann. J. Phys. D. Appl. Phys., 50 (34), 345601 (2017). DOI: 10.1088/1361-6463/aa7c9f
- M.P. Valdivia, E.S. Wyndham, M. Favre, J.C. Valenzuela, H. Chuaqui, H. Bhuyan. Plasma Sources Sci. Technol., 21 (2), 025011 (2012). DOI: 10.1088/0963-0252/21/2/025011
- N.I. Chkhalo, M.N. Drozdov, S.A. Gusev, E.B. Kluenkov, A.Y. Lopatin, V.I. Luchin. Proc. SPIE, 8076, 1-11 (2011). DOI: 10.1117/12.886781
- I.I. Sobel'man, A.P. Shevelko, O.F. Yakushev, L.V. Knight, R.S. Turley. Quant. Electron., 33 (1), 3-6 (2003). DOI: 10.1070/qe2003v033n01abeh002357
- Atomic Spectra Database NIST [Электронный ресурс]. Режим доступа: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database, свободный. (дата обращения: 26.04.2022)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
