"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Формирование магнитных никелевых наночастиц и изменения матрицы фталоцианина никеля при допировании натрием
Колпачева Н.А.1,2, Авраменко М.В.1, Авакян Л.А.1, Зубавичус Я.В.3, Мирзаханян А.А.4, Манукян А.С.4, Шароян Э.Г.4, Бугаев Л.А.1
1Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
2Донской государственный технический университет, Ростов-на-Дону, Россия
3Национальный исследовательский центр Курчатовский институт", Москва, Россия
4Институт физических исследований НАН Армении, Гитаван-2, Аштарак, Армения
Email: bugaev@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 27 декабря 2016 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2017 г.

Представлены результаты газофазного допирования фталоцианина никеля (NiPc) натрием с разной степенью допирования (x), выполненного при 300oC, а также результаты структурного анализа полученных образцов Nax=0.2NiPc, Nax=1NiPc, Nax=3NiPc. Для изучения строения образцов и изменений их атомной структуры в зависимости от степени допирования использовались методы просвечивающей электронной микроскопии (TEM), спектроскопии комбинационного рассеяния света, рентгеновской дифракции (XRD) и рентгеновской абсорбционной спектроскопии (XAFS). Определены структурные параметры связей Ni-N, Ni-C, Ni-Ni, на основании которых установлено, что при малых дозах допирования натрием имеют место локальные структурные искажения части молекул фталоцианиновой матрицы в окрестности никеля, доля которых возрастает с увеличением степени допирования от x=0.2 до x=1. В результате допирования изменяется характер колебаний легких атомов, что указывает на появление дополнительной электронной плотности на пяти- и шестичленных кольцах. При высокой степени допирования натрием (x=3) во фталоцианиновой матрице обнаружены никелевые наночастицы со средним размером около 20 nm и продукты распада молекул. Оцененная по данным XAFS доля атомов Ni в никелевых наночастицах от общего числа атомов Ni в Nax=3NiPc обеспечила наличие устойчивых на воздухе комнатно-температурных магнитных свойств образца, сохраняющихся длительное время. DOI: 10.21883/JTF.2017.10.44998.2149
  • Aiken III J.D., Finke R.G. // J. of Mol. Cat. A: Chem. 1999. Vol. 145. P. 1--44
  • Reisfeld R., Saraidarov T., Levchenko V. // Opt. Appl. 2008. Vol. 38. N 1. P. 83--92
  • Jia C.-J., Schuth F. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2011. Vol. 13. N 7. P. 2457--2487
  • Liu C.-X., Liu Q., Guo C.-C., Tan Z. // J. Porphyrins Phthalocyanines. 2010. Vol. 14. P. 825--831
  • Idowu M., Nyokong T. // Int. J. Nanosci. 2012. Vol. 11. N 2. P. 1250018
  • Guan J.G., Wang W., Gong R.Z., Yuan R.Z., Gan L.H., Tam K.C. // Langmuir. 2002. Vol. 18. N 11. P. 4198--4204
  • Brauer B., Vaynzof Y., Zhao W., Kahn A., Li W., ZahnD.R.T., Fernandez C. de Julian, Sangregorio C., Salvan G. // J. Phys. Chem. 2009. Vol. 113. P. 4565--4570
  • Schaak R.E., Sra A.K., Leonard B.M, Cable R.E., Bauer J.C., Han Y.-F, Means J., Teizer W., Vasquez Y., Funck E.S. // J. Am. Chem. Soc. 2005. Vol. 127. N 10. P. 3506--3515
  • Li F., Yu X., Pan H., Wang M., Xin X. // Sol. Stat. Sci. 2000. Vol. 2. N 8. P. 767--772
  • Колпачева Н.А., Авакян Л.А., Манукян A.С., Mирзаханян A.A., Шароян E.Г., Прядченко В.В., Зубавичус Я.В., Тригуб A.Л., Федоренко A.Г., Бугаев Л.A. // ФТТ. 2016. Т. 58. Вып. 5. С. 972--978
  • Zhou S., Li Y., Chen Z., Li X.X., Chen N., Du G. // Ceramics International. 2013. Vol. 39. N 6. P. 6763--6768
  • Grigoryan L., Simonyan M., Sharoyan E. Patent of USSR N 120686. 1984
  • Robertson J.M., Woodward I. // J. Chem. Soc. 1937. Vol. 36. P. 219
  • Chichagov A.V., Varlamov D.A., Dilanyan R.A., Dokina T.N., Drozhzhina N.A., Samokhvalova O.L., Ushakovskaya T.V. // Cryst. Rep. 2001. Vol. 46. N 5. P. 876--879
  • Pryadchenko V.V., Srabionyan V.V., Mikheykina E.B., Avakyan L.A., Murzin V.Y., Zubavichus Y.V., Zizak I., Guterman V.E., Bugaev L.A. // J. Phys. Chem. C. 2015. Vol. 119. P. 3217--3227
  • Srabionyan V.V., Bugaev A.L., Pryadchenko V.V., Makhiboroda A.V, Rusakova E.B., Avakyan L.A., Schneider R., Dubiel M., Bugaev L.A. // J. Non-Crys. Sol. 2013. Vol. 382. P. 24--31
  • Newville M., Ravel B., Haskel D., Rehr J.J., Stern E.A., Yacoby Y. // Physica B: Condensed Matter. 1995. Vol. 208--209. P. 154--156
  • Koningsberger D.C., Mojet B.L., van Dorssen G.E., Ramaker D.E. // Topics Catalys. 2000. Vol. 10. N 3. P. 143--155
  • Poiarkova A.V., Rehr J.J. // Phys. Rev. B. 1999. Vol. 59. P. 948
  • Melendres C.A., Maroni V.A. // J. Raman Spectroscopy. 1984 Vol. 15. N 5. P. 319--326
  • Basova T.V., Kolesov B.A., Gurek A.G., Ahsen V. // Thin Solid Films. 2001. Vol. 385. P. 246--251
  • Александров И.В., Бобович Я.С., Маслов В.Г., Сидоров А.Н. // Опт. и спектр. 1974. Т. 37. Вып. 3. С. 467-475
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.