Вышедшие номера
Исследование микрорельефа обработанных поверхностей с помощью методов фрактальных сигнатур
Потапов А.А., Булавкин В.В., Герман В.А., Вячеславова О.Ф.1
1Московский государственный технический университет "Московский автомеханический институт" Москва, Россия
Email: potapov@mail.cplire.ru
Поступила в редакцию: 20 сентября 2004 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2005 г.

Рассмотрен новый подход к исследованию свойств микрорельефа конструкционных материалов, основанный на понятии фрактальных сигнатур. Данный подход был специально разработан и успешно апробирован при решении радиофизических задач обнаружения малоконтрастных целей. В основе метода заложены идеи теории фракталов, а в качестве оценочного параметра используются фрактальные сигнатуры и фрактальные размерности D, тесно связанные не только с топологией объектов, но и с процессами эволюции динамических систем. С помощью полученных экспериментальных результатов доказано существование на уровне микрорельефа обработанной поверхности фрактальных кластеров и определены их количественные характеристики.