Исследование процессов получения голограммных дифракционных решеток на основе слоев As2S3
Костюкевич С.А., Шепелявый П.Е., Романенко П.Ф., Твердохлеб И.В.1
1Национальный университет им. Т. Шевченко, Киев, Украина
Email: spe@isp.kiev.ua
Поступила в редакцию: 28 января 2002 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2002 г.
Приводятся результаты исследований процессов формирования голограммных дифракционных решеток на основе слоев As2S3. С помощью микроскопа атомных сил исследована форма профиля штрихов получаемых решеток в зависимости от величины экспозиции. Проведено измерение спектральных зависимостей их дифракционной эффективности и проанализирована их связь с формой рельефа поверхности решеток.
- Hatley M.C. Diffraction Grating. London: Academic Press, 1982
- Коломиец Б.Т., Любин В.М., Шило В.П. // Физика и химия стекла. 1978. С. 351--357
- Indutnyi I.Z., Robur I.I., Romanenko P.F., Stronski A.V. // Proc. SPIE. 1991. Vol. 1555. P. 248--257
- Indutnyi I.Z., Stronski A.V., Kostioukevitch S.A. et al. // Optical Engineering. 1995. Vol. 34. P. 1030--1039
- Романенко П.Ф., Робур И.И., Стронский А.В. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 1994. Вып. 27. С. 47--50
- Романенко П.Ф., Сопинский Н.В., Индутный И.З. и др. // Фурнал прикладной спектроскопии. 1999. Т. 66. С. 587--590
- Герке Р.Р., Михайлов М.Д., Юсупов И.Ю., Яковук О.А. // Гологр. опт. элементы и системы / Под ред. Ю.Н. Денисюка. Л.: Наука, 1994. С. 84--90
- Венгер Е.Ф., Костюкевич С.А., Шепелявый П.Е. и др. // Патент Российской Федерации. N 2165902. БИ. 2001. N 12
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
