Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2026, выпуск 9 » Статья стр. 1870
<<<>>>
Влияние Si-прослойки на отражательную способность нейтронных периодических зеркал Ni/Ti
Российский научный фонд, Конкурс 2025 года «Проведение инициативных исследований молодыми учеными» Президентской программы исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, приоритетного направления деятельности Российского научного фонда «Поддержка молодых ученых», 25-72-00156
Министерство образования и науки Российской Федерации, Государственное задание, FFUF-2024-0022
Савченков П.С.1,2, Плешков Р.С.3, Серов Е.О.1, Сидоров В.В.1,2, Кондратьев О.А.1, Боднарчук В.И.1,4, Полковников В.Н.3, Чхало Н.И.3, Белушкин А.В.1,4, Якунин С.Н.1
1НИЦ " Курчатовский институт", Москва, Россия
2Национальный исследовательский ядерный университет " МИФИ", Москва, Россия
3Институт физики микроструктур РАН, Афонино, Кстовский р-н, Нижегородская обл., Россия
4Объединенный институт ядерных исследований, Дубна, Московская обл., Россия
Email: pleshkov@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 14 мая 2026 г.
В окончательной редакции: 14 мая 2026 г.
Принята к печати: 14 мая 2026 г.
Выставление онлайн: 14 июля 2026 г.
PDF версия
Методами рентгеновской рефлектометрии, диффузного рассеяния рентгеновского излучения и нейтронной рефлектометрии исследована серия периодических многослойных зеркал (МЗ) Ti/Ni с прослойкой Si и без с толщинами слоев, соответствующими параметру нейтронных зеркал m = 3. Показано, что добавление Si- прослойки на границу Ni-на-Ti понижает межслоевую шероховатость с 2.0 до 1.67 Angstrem. При этом абсолютный коэффициент отражения нейтронов, измеренный в первом брэгговском максимуме, увеличивается с 67 % до 69.2 %. Ключевые слова: многослойные рентгеновские зеркала, нейтронная оптика, нейтронное излучение, интерфейс инжиниринг.
  1. W. Singhapong, C. Bowen, H. Wang, K. Sawhney, A.J. Lunt. Advanced Mater. Technol., 9 (18), 2302187 (2024). DOI: 10.1002/admt.202302187
  2. C. Schanzer, M. Schneider, P. Boni. J. Physics: Conf. Ser., 746, 012024 (2016). DOI: 10.1088/1742-6596/746/1/012024
  3. P. Sarkar, A. Biswas, N. Abharana, S. Rai, M. Modi, D. Bhattacharyya. Synchrotron Radiation, 28 (1), 224 (2021). DOI: 10.1107/S1600577520013429
  4. H. Takenaka, H. Ito, K. Nagai, Y. Muramatsu, E. Gullikson, R.C. Perera. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 467, 341 (2001). DOI: 10.1016/S0168-9002(01)00320-5
  5. S.S. Sakhonenkov, A. Gaisin, A. Konashuk, A. Bugaev, R. Pleshkov, V. Polkovnikov, E. Filatova. J. Phys. Chem. Solids, 207, 113003 (2025). DOI: 10.1016/j.jpcs.2025.113003
  6. R.M. Smertin, M.M. Barysheva, N.I. Chkhalo, S.A. Garakhin, I.V. Malyshev, V.N. Polkovnikov. Opt. Express, 32 (15), 26583 (2024). DOI: 10.1364/OE.524921
  7. R.A. Shaposhnikov, V.N. Polkovnikov, S.A. Garaknin, N.I. Chkhalo, M.M. Barysheva. Opt. Lett., 51 (4), 1049 (2026). DOI: 10.1364/OL.584623
  8. R.S. Pleshkov, N.I. Chkhalo, K.V. Durov, V.N. Polkovnikov, R.A. Shaposhnikov, R.M. Smertin, S.Y. Zuev. Opt. Lett., 48 (20), 5301 (2023). DOI: 10.1364/OL.500966
  9. A. Schebetov. Neutron News, 9 (3), 35 (1998). DOI: 10.1080/10448639808233462
  10. R. Kovacs-Mezei, T. Krist, Z. Revay. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 586 (1), 51 (2008). DOI: 10.1016/j.nima.2007.11.034
  11. H. Jiao, C. Yu, Z. Zhang, W. Li, Q. Huang, H. Chen, Z. Wang. Vacuum, 155, 49 (2018). DOI: 10.1016/j.vacuum.2018.05.043
  12. S. Broekhuijsen, N. Ghafoor, A. Vorobiev, J. Birch, F. Eriksson. Opt. Mater. Express, 13 (4), 1140 (2023). DOI: 10.1364/OME.481049
  13. S. Stendahl, N. Ghafoor, A. Zubayer, M. Lorentzon, A. Vorobiev, J. Birch, F. Eriksson. Mater. Design, 243, 113061 (2024). DOI: 10.48550/arXiv.2404.03390
  14. Q. Qiu, X. Li, Y. Zhang, Y. Zhang, J. Liu, B. Dai, Y. Ren. Appl. Phys. A, 131 (12), 993 (2025). DOI: 10.1007/s00339-025-09130-5
  15. R. Smertin, E. Antyushin, I. Malyshev, M. Zorina, N. Chkhalo, P. Yunin, S. Garakhin, V. Polkovnikov, Y. Vainer. Appl. Crystall., 57 (5), 477 (2024). DOI: 10.1107/S1600576724007702
  16. R. Pleshkov, N. Chkhalo, V. Polkovnikov, M. Svechnikov, M. Zorina. J. Appl. Crystall., 54 (6), 1747 (2021). DOI: 10.1107/S160057672101027X
  17. M. Svechnikov. Appl. Crystall., 53 (1), 244 (2020). DOI: 10.1107/S160057671901584X
  18. E. Serov, P. Savchenkov, A. Rogachev, A. Kalyukanov, V. Bodnarchuk, A. Belushkin. J. Surf. Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 19 (1), 37 (2025). DOI: 10.1134/S1027451025700065
  19. A. Belushkin, A. Bogdzel', V. Zhuravlev, S. Kutuzov, F. Levchanovskii, J. Li Yong, E. Litvinenko, A. Nikiforov, T. Panteleev, V. Prikhod'ko, A. Chernikov, A. Churakov, V. Shvetsov. Instruments and Experimental Techniques, 50 (6), 737 (2007). DOI: 10.1134/S0020441207060048
  20. A. Zameshin, I.A. Makhotkin, S.N. Yakunin, R.W. Van De Kruijs, A.E. Yakshin, F. Bijkerk. Appl. Crystall., 49 (4), 1300 (2016). DOI: 10.1107/S160057671601044X
  21. S. Blundell, J. Bland. Phys. Rev. B, 46 (6), 3391 (1992). DOI: 10.1103/physrevb.46.3391
  22. M. Bass. Handbook of Optics: Fundamentals, Techniques, and Design, Volume I (McGraw-Hill, 1995)

Учредители

Издатель

© 2026 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme