Контактные системы мостикового" типа в InGaAs/InP фотоэлектрических преобразователях
Малевская А.В.
1, Калюжный Н.А.
1, Ильинская Н.Д.
1, Солдатенков Ф.Ю.
1, Пивоварова А.А.
1, Салий Р.А.
1, Лебедева Н.М.
1, Левин Р.В.
1, Эполетов В.С.
1, Покровский П.В.
1, Малевский Д.А.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия

Email: amalevskaya@mail.ioffe.ru, nickk@mail.ioffe.ru, Nataliya.Ilynskaya@mail.ioffe.ru, f.soldatenkov@mail.ioffe.ru, pivovarova.antonina@gmail.com, r.saliy@mail.ioffe.ru, natali_lebedeva@mail.ioffe.ru, lev@vpegroup.ioffe.ru, vadep@mail.ioffe.ru, P.Pokrovskiy@mail.ioffe.ru, dmalevsky@scell.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 2 июня 2025 г.
В окончательной редакции: 28 июля 2025 г.
Принята к печати: 7 августа 2025 г.
Выставление онлайн: 5 января 2026 г.
Разработаны методы снижения резистивных потерь и емкости фотоэлектрических преобразователей лазерного излучения (1.55 μm) на основе InGaAs/InP-гетероструктур, выращенных методом МОС-гидридной эпитаксии. Проведены исследования различных контактных систем: NiCr/Ag/Au, AgMn/Ni/Au, Cr/Au/Ni/Au и Pd/Ge/Au, Au(Ge)/Ni/Au к слоям InGaAs и InP p- и n-типа проводимости соответственно. Проведен анализ влияния состава и режимов формирования омических контактов на величину удельного контактного сопротивления и вольт-амперные характеристики приборов. Минимальные значения удельного контактного сопротивления получены при формировании омического контакта Pd/Ge/Au к n+-InGaAs (~10-7 Ω·cm2) и NiCr/Ag/Au к p-InGaAs (-10-6 Ω·cm2). Разработана конструкция фотоэлектрических преобразователей с диаметром фоточувствительной области от 30 μm с контактной системой "мостикового" типа, которая позволила уменьшить площадь p-n-перехода в фотоэлементе и соответственно его емкость. Ключевые слова: InGaAs/InP фотоэлектрический преобразователь, контактные системы, резистивные потери.
- C. Algora, I. Garci a, M. Delgado, R. Pena, C. Vazquez, M. Hinojosa, I. Rey-Stolle. Joule, 6, 340 (2022). DOI: 10.1016/j.joule.2021.11.014
- Y. Zheng, G. Zhang, Zh. Huan, Y. Zhang, G. Yuan, Q. Li, G. Ding, Zh. Lv, W. Ni, Yu. Shao, X. Liu, J. Zu. Space Solar Power and Wireless Transmission, 1 (1), 17 (2024). DOI: 10.1016/j.sspwt.2023.12.001
- Д.Ф. Зайцев, В.М. Андреев, И.А. Биленко, А.А. Березовский, П.Ю. Владиславский, Ю.Б. Гурфинкель, Л.И. Цветкова, В.С. Калиновский, Н.М. Кондратьев, В.Н. Косолобов, В.Ф. Курочкин, С.О. Слипченко, Н.В. Смирнов, Б.В. Яковлев. Радиотехника, 85 (4), 153 (2021). DOI: 10.18127/j00338486-202104-17
- N.A. Kalyuzhnyy, A.V. Malevskaya, S.A. Mintairov, M.A. Mintairov, M.V. Nakhimovich, R.A. Salii, M.Z. Shvarts, V.M. Andreev. Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 262, 112551 (2023). DOI: 10.1016/j.solmat.2023.112551
- D.C. Scott, T.A. Vang, J.E. Leigth, D.V. Forbes, K. Everett, F. Alvarez, R. Johnson, J. Brock, L. Lembo. Proc. SPIE, 4112, 75 (2000). DOI: 10.1117/12.399379
- B. Li, S. Tang, N. Jiang, Z. Shi, R.T. Chen. Proc. SPIE, 3952, 114 (2000). DOI: 10.1117/12.384390
- V.J. Urick. In Conf. Оn lasers and electro-optics, OSA Technical Digest (online) (Optica Publ. Group, 2018), paper SM1C.6. DOI: 10.1364/CLEO_SI.2018.SM1C.6
- В.М. Андреев, В.С. Калиновский, Н.А. Калюжный, Е.В. Контрош, А.В. Малевская, С.А. Минтаиров, М.З. Шварц. Письма в ЖТФ, 50 (19), 5 (2024). DOI: 10.61011/PJTF.2024.19.58647.19957
- R. Pena, C. Algora. 20th European Photov. Sol. Energy Conf. (Barcelons, Spain, 2005), p. 488
- F. Koyama, D. Schlenker, T. Miyamoto, Z. Chen, A. Matsutani, T. Skaguchi, K. Iga. Electron. Lett., 35, 1079 (1999). DOI: 10.1049/el:19990756
- A.E. Zhukov, A.R. Kovsh, N.A. Maleev, S.S. Mikhrin, V.M. Ustinov, A.F. Tsatsul'nikov, M.V. Maximov, B.V. Volovik, D.A. Bedarev, Yu.M. Shernyakov, P.S. Kop'ev, Zh.I. Alferov, N.N. Ledentsov, D. Bimberg. Appl. Phys. Lett., 75, 1926 (1999). DOI: 10.1063/1.124873
- B.K. Jeong, Y.M. Song, V.V. Lysak, Y.T. Lee. J. Optoelectron. Adv. Mater., 10, 2547 (2008)
- С.А. Минтаиров, С.А. Блохин, Н.А. Калюжный, М.В. Максимов, Н.А. Малеев, А.М. Надточий, Р.А. Салий, Н.В. Крыжановская, А.Е. Жуков. Письма в ЖТФ, 48 (4), 32 (2022). DOI: 10.21883/PJTF.2022.04.52082.19059
- D. Inoue, Y. Wan, D. Jung, J. Norman, C. Shang, N. Nishiyama, S. Arai, A.C. Gossard, J.E. Bowers. Appl. Phys. Lett., 113, 093506 (2018). DOI: 10.1063/1.5041908
- M.N. Beattie, H. Helmers, G.P. Forcade, C.E. Valdivia, O. Hohn, K. Hinzer. IEEE J. Photovoltaics, 13 (1), 113 (2023). DOI: 10.1109/JPHOTOV.2022.3218938
- Н.А. Калюжный, С.С. Кижаев, С.А. Минтаиров, А.А. Пивоварова, Р.А. Салий, А.В. Черняев. Письма в ЖТФ, 50 (17), 15 (2024). DOI: 10.61011/PJTF.2024.17.58574.19966
- И.А. Андреев, О.Ю. Серебренникова, Г.С. Соколовский, В.В. Дюделев, Н.Д. Ильинская, Г.Г. Коновалов, Е.В. Kуницына, Ю.П. Яковлев. ФТП, 47 (8), 1109 (2013). DOI: 10.47612/0514-7506-2023-90-1-102-108
- A.V. Malevskaya, F.Yu. Soldatenkov, R.V. Levin, N.A. Kalyuzhnyy, M.Z. Shvarts. Vacuum, 233, 114030 (2025). DOI: 10.1016/j.vacuum.2025.114030
- P.H. Hao, L.C. Wang, F. Deng, S.S. Lau, J.Y. Cheng. J. Appl. Phys., 79, 4211 (1996). DOI: 10.1063/1.361788
- L.C. Wanga, P.H. Hao, J.Y. Cheng, F. Deng, S.S. Lau, J. Appl. Phys., 79, 4216 (1996). DOI: 10.1063/1.361789
- S. Grover. 2020 Int. Conf. on microelectronic test structures (UK, Edinburgh)
- А.В. Малевская, Н.Д. Ильинская, Д.А. Малевский, П.В. Покровский. ФТП, 56 (3), 376 (2022). DOI: 10.21883/FTP.2022.03.52127.9774
- Н.Д. Ильинская, А.А. Пивоварова, Е.В. Куницына, И.А. Андреев, Ю.П. Яковлев. Патент РФ N 221645 (2023).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.