Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2025, выпуск 4 » Статья стр. 745
<<<>>>
Экспериментальное определение остаточных деформаций и напряжений в ВТСП проводе второго поколения
Иродова А.В.1, Карпов И.Д.1, Кондратьев О.А.1, Круглов В.С.1, Крылов В.Е.1, Шавкин С.В.1, Эм В.Т.1
1Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
Email: Irodova_AV@nrcki.ru
Поступила в редакцию: 18 мая 2024 г.
В окончательной редакции: 22 ноября 2024 г.
Принята к печати: 29 ноября 2024 г.
Выставление онлайн: 24 марта 2025 г.
PDF версия
Методами дифракции рентгеновских лучей и нейтронов измерены остаточные деформации и напряжения в основных компонентах изготовленного в Национальном исследовательском центре "Курчатовский институт" сверхпроводящего провода второго поколения на основе иттриевой керамики - в несущей стальной ленте-подложке, буферных слоях Y0.15Zr0.85O2 и CeO2, сверхпроводящем слое YBa2Cu3O7. Прослежены их изменения в процессе изготовления провода. Достоверность полученных результатов подтверждается их согласованностью. Представленный метод определения внутренних деформаций и напряжений является универсальным и подходит для проводов с разными несущими лентами, буферными и сверхпроводящими слоями. Ключевые слова: ВТСП-2, остаточная деформация/напряжение, лента AISI 310S, YSZ, CeO2, YBCO, дифракция нейтронов, дифракция рентгеновских лучей.
  1. J.L. MacManus-Driscoll, S.C. Wimbush. Nat. Rev. Mater., 6, 587 (2021). DOI: 10.1038/s41578-021-00290-3
  2. M. Sugano, K. Osamura, W. Prusseit, R. Semerad, K. Itoh, T. Kiyoshi. Supercond. Sci. Technol., 18, 369 (2005). DOI: 10.1088/0953-2048/18/3/027
  3. K. Osamura, M. Sugano, S. Machiya, H. Adachi, M. Sato, S. Ochiai, A. Otto. Supercond. Sci. Technol., 20, S211 (2007). DOI: 10.1088/0953-2048/20/9/S15
  4. M. Sugano, S. Machiya, K. Osamura, H. Adachi, M. Sato, R. Semerad, W. Prusseit. Supercond. Sci. Technol., 22, 015002 (2009). DOI: 10.1088/0953-2048/22/1/015002
  5. K. Osamura, M. Sugano, S. Machiya, H. Adachi, S. Ochiai, M. Sato. Supercond. Sci. Technol., 22, 065001 (2009). DOI: 10.1088/0953-2048/22/6/065001
  6. K. Osamura, S. Machiya, Y. Tsuchiya, H. Suzuki. Supercond. Sci. Technol., 23, 045020 (2010). DOI: 10.1088/0953-2048/23/4/045020
  7. K. Osamura, S. Machiya, Y. Tsuchiya, H. Suzuki. IEEE Trans. Appl. Supercond., 20 (3), 1532 (2010). DOI: 10.1109/TASC.2010.2042437
  8. A. Krivykh, A. Irodova, V. Krylov, I. Kulikov, A. Polyakov. IEEE Trans. Appl. Supercond., 32 (4), 8400105 (2022). DOI: 10.1109/TASC.2022.3143773
  9. K. Osamura, S. Machiya, Y. Tsuchiya, S. Harjo, H. Suzuki, T. Shobu, K. Kiriyama, M. Sugano. IEEE Trans. Appl. Supercond., 21 (3), 3090 (2011). DOI: 10.1109/TASC.2010.2086038
  10. K. Osamura, S. Machiya, Y. Tsuchiya, H. Suzuki, T. Shobu, M. Sato, S. Ochiai. IEEE Trans. Appl. Supercond., 22 (1), 8400809 (2012). DOI: 10.1109/TASC.2011.2178847
  11. K. Osamura, S. Machiya, D.P. Hampshire. Supercond. Sci. Technol., 29, 065019 (2016). DOI: 10.1088/0953-2048/29/6/065019
  12. S. Awaji, T. Suzuki, H. Oguro, K. Watanabe, K. Matsumoto. Sci. Rep., 5, 11156 (2015). DOI: 10.1038/srep11156
  13. T. Okada, H. Misaizu, S. Awaji. IEEE Trans. Appl. Supercond., 31 (5), 6601006 (2021). DOI: 10.1109/TASC.2021.3063995
  14. И.Д. Карпов, А.В. Иродова, В.С. Круглов, С.В. Шавкин, В.Т. Эм. ЖТФ, 90 (7), 1095 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.07.49442.242-19 [I.D. Karpov, A.V. Irodova, V.S. Kruglov, S.V. Shavkin, V.T. Em. Tech. Phys., 65 (7), 1051 (2020). DOI: 10.1134/S1063784220070063]
  15. А.В. Иродова, И.Д. Карпов, В.С. Круглов, В.Е. Крылов, С.В. Шавкин, В.Т. Эм. ЖТФ, 91 (12), 1966 (2021). DOI: 10.21883/JTF.2021.12.51761.169-21 [A.V. Irodova, I.D. Karpov, V.S. Kruglov, V.E. Krylov, S.V. Shavkin, V.T. Em. Tech. Phys., 67 (15), 2391 (2022). DOI: 10.21883/TP.2022.15.55265.169-21]
  16. А.В. Иродова, Е.А. Головкова, О.А. Кондратьев, В.С. Круглов, В.Е. Крылов, С.А. Тихомиров, С.В. Шавкин. ЖТФ, 92 (12), 1844 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.12.53887.197-22 [A.V. Irodova, E.A. Golovkova, O.A. Kondratiev, V.S. Kruglov, V.E. Krylov, S.A. Tikhomirov, S.V. Shavkin. Tech. Phys., 67 (12), 1603 (2022). DOI: 10.21883/TP.2022.12.55196.197-22]
  17. E.M. Santos, M.T.D. Orlando, M.S.R. Miltao, L.G. Martinez, A.S. Alves, C.A. Passos. Jpn. J. Appl. Phys., 49, 056601 (2010). DOI: 10.1143/JJAP.49.056601
  18. A.F. Bower. Applied Mechanics of Solids (CRC Press, Boca Raton, 2009), DOI: 10.1201/9781439802489
  19. W.H. Weber, K.C. Bass, J.R. McBride. Phys. Rev. B, 48, 178 (1993). DOI: 10.1103/PhysRevB.48.178
  20. T. Gurel, R. Eryigit. Phys. Rev. B, 74, 014302 (2006). DOI: 10.1103/PhysRevB.74.014302
  21. V. Kanchana, G. Vaitheeswaran, A. Svane, A. Delin. J. Phys.: Condens. Matter., 18, 9615 (2006). DOI: 10.1088/0953-8984/18/42/008
  22. C. Sevik, T. Cagin. Phys. Rev. B, 80, 014108 (2009). DOI: 10.1103/PhysRevB.80.014108
  23. J.C. Goldsby. J. Ceramics, 2013, 323018 (2013). DOI: 10.1155/2013/323018
  24. K. Suzuki, M. Kato, T. Sunaoshi, H. Uno, U. Carvajal-Nunez, A.T. Nelson, K.J. McClellan. J. Am. Ceram. Soc., 102, 1994 (2019). DOI: 10.1111/jace.16055
  25. Ming Lei, J.L. Sarrao, W.M. Visscher, T.M. Bell, J.D. Thompson, A. Migliori, U.W. Welp, B.W. Veal. Phys. Rev. B, 47, 6154 (1993). DOI: 10.1103/PhysRevB.47.6154
  26. AISI 310S (S31008) Stainless Steel. [Электронный ресурс] URL: https://www.makeitfrom.com/material-properties/AISI-310S-S31008-Stainless-Steel
  27. Ресурсный центр лабораторных рентгеновских методов "Рентген". [Электронный ресурс] URL: http://www.rc.nrcki.ru/pages/main/rentgen/index.shtml
  28. G.J. McIntyre, A. Renault, G. Collin. Phys. Rev. B, 37, 5148 (1988). DOI: 10.1103/PhysRevB.37.5148
  29. V.T. Em, I.D. Karpov, V.A. Somenkov, V.P. Glazkov, A.M. Balagurov, V.V. Sumin, P. Mikula, J. Saroun. Physica B: Condens. Matter., 551, 413 (2018). DOI: 10.1016/j.physb.2018.02.042
  30. Курчатовский нейтронный исследовательский комплекс ИР-8. [Электронный ресурс] URL: http://kcsni.nrcki.ru/pages/main/IR8/beamlinesIR8/index.shtml
  31. L.B. Freund, S. Suresh. Thin film materials. Stress, defect formation and surface evolution (Cambridge University Press, NY., 2004), DOI: 10.1017/CBO9780511754715.003
  32. J.J. Capponi, C. Challout, A.W. Hewat, P. Lejay, M. Marezio, N. Nguyen, B. Raveau, J.L. Soubeyroux, J.L. Tholence, R. Tournier. Europhys. Lett., 3, 1301 (1987). DOI: 10.1209/0295-5075/3/12/009
  33. R.J. Cava, B. Batlogg, C.H. Chen, E.A. Rietman, S.M. Zahurak, D. Werder. Phys. Rev. B, 36, 5719 (1987). DOI: 10.1103/PhysRevB.36.5719
  34. R.J. Cava, B. Batlogg, R.B. van Dover, D.W. Murphy, S. Sunshine, T. Siegrist, J.P. Remeika, E.A. Rietman, S. Zahurak, G.P. Espinosa. Phys. Rev. Lett., 58, 1676 (1987). DOI: 10.1103/PhysRevLett.58.1676
  35. W. David, W. Harrison, J. Gunn, O. Moze, A.K. Soper, P. Day, J.D. Jorgensen, D.G. Hinks, M.A. Beno, L. Soderholm, D.W. Capone, I.K. Schuller, C.U. Segre, K. Zhang, J.D. Grace. Nature, 327, 310 (1987). DOI: 10.1038/327310a0
  36. O.K. Antson, P.E. Hiismaki, H.O. Poyry, A.T. Tiitta, K.M. Ullakko, V.A. Trunov, V.A. Ul'yanov. Solid State Comm., 64, 757 (1987). DOI: 10.1016/0038-1098(87)90694-6
  37. H. You, R.K. McMullan, J.D. Axe, D.E. Cox, J.Z. Liu, G.W. Crabtree, D.J. Lam. Solid State Comm., 64, 739 (1987). DOI: 10.1016/0038-1098(87)90690-9

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme