Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Многомасштабное структурирование квантовых точек CdSe/CdS/ZnS в центрифугированных и ленгмюровских пленках

DOI: 10.21883/JTF.2023.08.55975.225-22

Кузьменко А.П.¹, Новиков Е.А.¹, Пугачевский М.А.¹, Родионов В.В.¹, Заводинский В.Г.¹, Горкуша О.А.², Сюй А.В.³, Аникин Д.П.⁴, Дежуров С.В.⁵

¹Юго-Западный государственный университет (ЮЗГУ), Курск, Россия Southwest State University, Kursk, Russia

²Институт прикладной математики (Хабаровское отделение) ДВО РАН, Хабаровск, Россия Institute of Applied Mathemativs, Khabarovsk Department, Russian Academy of Sciences, Khabarovsk, Russia

Institute of Applied Mathemativs, Khabarovsk Department, Russian Academy of Sciences, Khabarovsk, Russia

³Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия Moscow Institute of Physics and Technology (National Research University), Dolgoprudny, Moscow Region, Russia

Moscow Institute of Physics and Technology (National Research University), Dolgoprudny, Moscow Region, Russia

⁴РУСИД, Армавир, Россия LLC "Rusid", Armavir, Russia

⁵Научно-технологический испытательный центр Нанотех-Дубна", Дубна, Московская обл., Россия Scientific and Technological testing center ”Nanotech-Dubna", Dubna, Moscow Region, Russia

Scientific and Technological testing center ”Nanotech-Dubna", Dubna, Moscow Region, Russia

Email: apk3527@mail.ru

Поступила в редакцию: 26 сентября 2022 г.

В окончательной редакции: 28 апреля 2023 г.

Принята к печати: 1 мая 2023 г.

Выставление онлайн: 23 июля 2023 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Проведен сравнительный анализ особенностей многомасштабного структурирования ленгмюровских и центрифугированных пленок из стабилизированных TOPO (trioctylphosphine oxide) квантовых точек CdSe/CdS/ZnS с использованием методов оптической, зондовой и электронной микроскопии, включая микроскопию высокого разрешения и элементный энергодисперсионный анализ. Химическая структура изучена методами комбинационного (рамановского) рассеяния и ИК-фурье спектроскопии, рентгеновской дифрактометрии. Показано, что построенные на явлениях самоорганизации ленгмюровские нанопленки характеризуются более высокой сплошностью и однородностью, в то время как в центрифугированных пленках формируют кластеры с размерами от десятков до сотен нанометров. Выполнены расчеты из первых принципов методом функционала электронной плотности для ядер Cd_nSe_n, которые свидетельствовали о доминировании гексагональной плотной упаковки. Ключевые слова: микро- и наноструктурирование, пленки Ленгмюра-Блоджетт, центрифугированные пленки, квантовые точки, кластеризация. DOI: 10.21883/JTF.2023.08.55975.225-22

C.J. Murphy, J.L. Coffer. Appl. Spectrosc., 56, 16А (2002)
H. Kudilatt, B. Hou, M.E. Welland. Part. \& Part. Syst. Charact., 37, 2000192 (2020). DOI: 10.1002/ppsc.202000192
K. Khan, A.K. Tareen, M. Aslam, R. Wang, Y. Zhang, A. Mahmood, Z. Ouyang, H. Zhang, Z. Guo. J. Mater. Chem, 8, 387 (2020). DOI: 10.1039/C9TC04187G
R. Ma, Z. Tian, Y. Hu, Y. Huang, J. Lu. Langmuir, 34, 11354 (2018). DOI: 10.1021/acs.langmuir.8b02232
K.-P. Chang, Y.-C. Yeh, C.-J. Wu, C.-C. Yen, D.-S. Wuu. Nanomaterials, 12, 909 (2022). DOI: 10.3390/nano12060909
С.А. Сергеев, М.В. Гавриков, Н.Д. Жуков. Письма в ЖТФ, 48, 32 (2022). DOI: 10.21883/PJTF.2022.09.52448.19115
E. Petryayeva, W.R. Algar, I.L. Medintz. Appl. Spectrosc., 67, 215 (2013). DOI: 10.1366/12-06948
L.V. Andreeva, A.V. Koshkin, P.V. Lebedev-Stepanov, A.N. Petrov, M.V. Alfimov. Coll. Surf., A: Physicochem., Eng. Aspects, 300, 300 (2007). DOI: 10.1016/j.colsurfa.2007.02.001
B. Marti n-Garci a, M.M. Velazquez. Langmuir, 30, 509 (2014). DOI: 10.1021/la404834b
А.П. Кузьменко, Е.А. Новиков, В.В. Родионов, А.В. Кузько, Д.П. Аникин, Д.В. Крыльский. Известия ЮЗГУ. Серия: Техника и технологии, 2, 86 (2021)
А.Г. Витухновский, А.А. Ващенко, Д.Н. Бычковский, Д.Н. Дирин, П.Н. Тананаев, М.С. Вакштейн, Д.А. Коржонов. ФТП, 47, 1591 (2013)
J. Xu, X. Ji, K.M. Gattas-Asfura, C. Wang, R.M. Leblanc, Coll. Surf., A: Physicochem., Eng. Aspects, 284, 35 (2006). DOI: 10.1016/j.colsurfa.2005.11.046
M.V. Kelso, N.K. Mahenderkar, Q. Chen, J.Z. Tubbesing, J.A. Switzer. Science, 364, 6436 (2019). DOI: 10.1126/science.aaw6184
А.П. Кузьменко, Е.А. Новиков, М.А. Пугачевский, В.М. Емельянов, О.И. Шутяева. Известия ЮЗГУ. Серия: Техника и технологии, 3, 88 (2019)
K.A. Svit, K.S. Zhuravlev. Semiconductors, 53, 1540 (2019). DOI: 0.1134/S1063782619110198
P. Alexandridis, U. Olsson, B. Lindman. Langmuir, 14, 2627 (1998). DOI: 10.1021/la971117c
А.П. Кузьменко, Ч.Н. Аунг, В.В. Родионов. ЖТФ, 6, 118 (2015)
А.П. Кузьменко, Тет Пьо Наинг, А.Е. Кузько, Мьо Мин Тан. ЖТФ, 90 (2), 268 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.02.48821.2009 [A.P. Kuz'menko, T.P. Naing, A.E. Kuz'ko, M.M. Tan. Tech. Phys., 65 (2), 254 (2020). DOI: 10.1134/S1063784220020127]
P. Adel, A. Wolf, T. Kodanek, D. Dorfs. Chem. Mater., 26, 3121 (2014). DOI: 10.1021/cm500431m
J. van Embden, J. Jasieniak, P. Mulvaney. ASC, 131, 14299 (2009). DOI: 10.1021/ja9030209
Powder Diffraction File, Joint Committee on Powder Diffraction Standards, ASTM, Philadelphia, PA, 1967, Card 2-549, Card 19-191
L.B. Hai, N.X. Nghia, P.T. Nga, V.D. Chinh, N.T.T. Trang, V.T.H. Hanh. J. Exp. Nano., 4, 277 (2009). DOI: 10.1080/17458080802178619
R. Liu, Y. Geng, Z. Tian, N. Wang, M. Wang, G. Zhang, Y. Yang. Hydrometallurgy, 199, 105521 (2021). DOI: 10.1016/j.hydromet.2020.105521
T. Prabhua, S. Periandy, S. Ramalingama. Spectrochim. Acta Part A, 79, 948 (2011). DOI: 10.1016/j.saa.2011.04.001
X. Wang, W. Li, K. Sun. J. Mater. Chem., 21 (24), 8558 (2011). DOI: 10.1039/c1jm00061f
R.K. Ratnesh, M.S. Mehata. Opt. Mater., 64, 250 (2017). DOI: 10.1016/j.optmat.2016.11.043
D.K. Guptaa, M. Verma, K.B. Sharma, N.S. Saxena. Indian J. Pure \& App. Phys., 55, 113 (2017). DOI: 10.56042/ijpap.v55i2.14671
M.V. Dzhagan, M.Ya. Valakh, A.G. Milekhin, N.A. Yeryukov, R.T.D. Zahn, E. Cassette, Th. Pons, B. Dubertret. J. Phys. Chem. C, 117, 18225 (2013). DOI: 10.1021/jp4046808
W. Kohn, J.L. Sham. Phys. Rev., 140, A1133 (1965)
M. Beckstedte, A. Kley, J. Neugebauer, M. Scheffler. Comp. Phys. Comm., 107, 187 (1997)
M. Fuchs, M. Scheffler, Comp. Phys. Comm., 119, 67 (1999). DOI: 10.1016/S0010-4655(98)00201-X
S. Neeleshwar, C.L. Chen, C.B. Tsai, Y.Y. Chen, C.C. Chen, S.G. Shyu, M.S. Seehra. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys., 71, 201307 (2005). DOI: 10.1103/PhysRevB.71.201307

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель