Вышедшие номера
Подложки для мягкой рентгеновской микроскопии на основе Si3N4 мембран
Российский научный фонд, Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований по поручениям (указаниям) Президента Российской Федерации» (междисциплинарные проекты), 22-62-00068
Реунов Д.Г.1, Гусев Н.С.1, Михайленко М.С.1, Петрова Д.В.1, Малышев И.В.1, Чхало Н.И.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: reunov_dima@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 2 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 2 мая 2023 г.
Принята к печати: 2 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2023 г.

Экспериментально были получены мембраны из нитрида кремния в качестве подложек для биологических образцов, которые исследованы на микроскопе с рабочей длиной волны 13.8 nm. Полученные свободно висящие пленки имели размер до 1.5x1.5 mm, что позволило выбрать интересную для исследования область на образце порядка десятков - сотен микрон. Механическая прочность мембран удовлетворяет требованию, чтобы образцы не рвали мембраны и выдерживали транспортировку. Полученные мембраны имеют прозрачность более 40% в диапазоне "окна прозрачности воды" (2.3-4.4 nm) и экстремальный ультрафиолет (13-15 nm). Ключевые слова: мембраны Si3N4, фотолитография, микроскопия мягкого рентгеновского излучения, экстремальная ультрафиолетовая микроскопия, корреляционная микроскопия.