Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2025
- 1 2 3 4
2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Диффузия кислорода в La_0.8Sr_0.2MnO_3-delta пленках разной толщины на NdGaO₃-подложках

DOI: 10.21883/JTF.2021.12.51760.120-21

Переводная версия: 10.21883/TP.2022.15.55264.120-21

Николаенко Ю.М.

¹, Эфрос Н.Б.¹, Артемов А.Н.¹

¹Донецкий физико-технический институт им. А.А. Галкина, Донецк, Украина Donetsk Institute for Physics and Engineering, Donetsk, Ukraine

Email: nik@donfti.ru

Поступила в редакцию: 23 апреля 2021 г.

В окончательной редакции: 15 июня 2021 г.

Принята к печати: 13 июля 2021 г.

Выставление онлайн: 2 октября 2021 г.

PDF версия

Представлены результаты исследования косвенным методом вариации кислородного содержания в серии эпитаксиальных La_0.8Sr_0.2MnO_3-delta-пленок на монокристаллических подложках NdGaO₃. Путем численного моделирования установлено, что в условиях "сжимающих" механических напряжений, вызванных рассогласованием плоскостных кристаллических параметров материалов пленки и подложки, величина коэффициента диффузии кислорода существенно снижается по толщине пленки в направлении от внешней поверхности к интерфейсу пленка-подложка. В пленках толщиной d~12-75 nm эффект проявляется в том, что величина коэффициента диффузии в окрестности внешней поверхности пленок также существенно убывает по мере уменьшения толщины пленок. Обсуждаются вопросы применимости косвенного метода для оценки кислородного содержания в тонких эпитаксиальных пленках на подложках с малым несоответствием кристаллических параметров, а также другие проявления эффектов, вызванных механическими напряжениями. Ключевые слова: легированные манганиты, кислородный индекс, термообработка, механические напряжения, коэффициент диффузии кислорода.

P.M. Leufke, A.K. Mishra, A. Beck, D. Wang, C. Kubel, H. Hahn, R. Kruk. Thin Solid Films, 520, 5521 (2012). DOI: 10.1016/j.tsf.2012.04.064
C. Song, I.A. Malik, M. Li, Q. Zhang, L. Wang, R. Chen, R. Zheng, S. Dong, L. Gu, W. Duan, J. Wang, J. Zhang, C.-W. Nan. Sci. China Mater., 62, 577 (2019). DOI: 10.1007/s40843-018-9344-5
S. Kumari, N. Mottaghi, C.-Y. Huang, R. Trappen, G. Bhandari, S. Yousefi, G. Cabrera, M.S. Seehra, M.B. Holcomb. Scientific Reports, 10, 3659 (2020). DOI: 10.1038/s41598-020-60343-5
J.-H. Kim, A.M. Grishin. Appl. Phys. Lett., 87 (3), 033502 (2005). DOI: 10.1063/1.1996845
Ю.В. Медведев, А.М. Гришин, Ю.М. Николаенко, С.И. Харцев. ЖТФ, 72 (1), 117 (2002). [Yu.V. Medvedev, Yu.M. Nikolaenko, A.M. Grishin, S.I. Khartsev. Tech. Phys., 47 (1), 114 (2002). DOI: 10.1134/1.1435899]
S.I. Khartsev, P. Johnsson, A.M. Grishin. J. Appl. Phys., bf 87 (5), 2394 (2000). DOI: 10.1063/1.372191
R. Mbatang, D. Xue, E. Enriquez, R. Yuan, H. Han, P. Dowden, Q. Wang, E. Fohtung, D. Xue, T. Lookman, S.J. Pennycook, A. Chen. Nanoscale, 11, 7364 (2019). DOI: 10.1039/C8NR09693G
Г.А. Овсянников, А.М. Петржик, И.В. Борисенко, А.А. Климов, В.В. Демидов, С.А. Никитов. ЖЭТФ, 135 (1), 56 (2009). [G.A. Ovsyannikov, A.M. Petrzhik, I.V. Borisenko, A.A. Klimov, Yu.A. Ignatov, V.V. Demidov, S.A. Nikitov. JETP, 108|,(1), 48 (2009). DOI: 10.1134/S1063776109010075]
Ю.А. Бойков, В.А. Данилов. ЖТФ, 80 (8), 109 (2010). [Yu.A. Boikov, V.A. Danilov. Tech. Phys., 55 (8), 1183 (2010). DOI: 10.1134/S1063784210080177]
Ю.А. Бойков, М.П. Волков, В.А. Данилов. Письма в ЖТФ, 35 (11), 104 (2009). [Yu.A. Boikov, M.P. Volkov, V.A. Danilov. Tech. Phys. Lett., 35 (6), 532 (2009). DOI: 10.1134/S1063785009060157]
Ю.А. Бойков, В.А. Данилов. Письма в ЖТФ, 34 (1), 88 (2008). [Yu.A. Boikov, V.A. Danilov. Tech. Phys. Lett., 34 (1), 40 (2008). DOI: 10.1134/S1063785008010124]
Г.А. Овсянников, Т.А. Шайхулов, В.А. Шахунов, В.В. Демидов, Н.В. Андреев, А.Е. Пестун, В.Л. Преображенский. ФТТ, 59 (11), 2178 (2017). DOI: 10.21883/FTT.2017.11.45057.19k [G.A. Ovsyannikov, T.A. Shaikhulov, V.A. Shakhunov, V.V. Demidov, N.V. Andreev, A.E. Pestun, V.L. Preobrazhenskii. Physics Solid State, 59 (11), 2198 (2017). DOI: 10.1134/S1063783417110245]
L. Yin, C. Wang, Q. Shen, L. Zhang. Ceramics Intern., 46, 18175 (2020). DOI: 10.1016/j.ceramint.2020.04.139
J. Ma, Y. Zhang, L. Wu, C. Song, Q. Zhang, J. Zhang, J. Ma, C.-W. Nan. MRS Communications, 6 (4), 354 (2016). DOI: 10.1557/mrc.2016.55
J.N. Davis, K.F. Ludwig, K.E. Smith, J.C. Woicik, S. Gopalan, U.B. Pal, S.N. Basu. J. Electrochem. Society, 164 (10), F3091 (2017). DOI: 10.1149/2.0131710jes
A. Herklotz, D. Lee, E.-J. Guo, T.L. Meyer, J.R. Petrie, H.N. Lee. J. Phys.: Condens. Matter, 29, 493001 (2017). DOI: 10.1088/1361-648X/aa949b
L. Yin, C. Wang, Q. Shen, L. Zhang. RSC Advances, 6, 96093 (2016). DOI: 10.1039/C6RA22392C
Y. Takamura, R.V. Chopdekar, E. Arenholz, Y. Suzuki. Appl. Phys. Lett., 92 (16), 162504 (2008). DOI: 10.1063/1.2908051
K. Nakamura, M. Xu, M. Klaser, G. Linker. J. Solid State Chem., 156 (1), 143 (2001). DOI: 10.1006/jssc.2000.8974
L. Malavasi, G. Flor. J. Phys. Chem. B, 107 (50), 13880 (2003). DOI: 10.1021/jp0362281
Yu.M. Nikolaenko, A.N. Artemov, Yu.V. Medvedev, N.B. Efros, I.V. Zhikharev, I.Yu. Reshidova, A.A. Tikhii, S.V. Kara-Murza. J. Phys. D: Appl. Phys., 49 (37), 375302 (2016). DOI: 10.1088/0022-3727/49/37/375302
Ю.М. Байков, Е.И. Никулин, Б.Т. Мелех, В.М. Егоров. ФТТ, 46 (11), 2018 (2004). [Yu.M. Baikov, E.I. Nikulin, B.T. Melekh, V.M. Egorov. Phys. Solid State, 46 (11), 2086 (2004). DOI: 10.1134/1.1825554]
Ю.М. Николаенко. ФТВД, 31 (1), 1 (2021)
Ю.М. Николаенко, А.С. Корнеевец, Н.Б. Эфрос, В.В. Бурховецкий, И.Ю. Решидова. Письма в ЖТФ, 45 (13), 44 (2019). DOI: 10.21883/PJTF.2019.13.47958.17743 [Yu.M. Nikolaenko, A.S. Korneevets, N.B. Efros, V.V. Burkhovetskii, I.Yu. Reshidova. Tech. Phys. Lett., 45 (7), 679 (2019). DOI: 10.1134/S1063785019070083]
Ю.М. Николаенко, А.Б. Мухин, В.А. Чайка, В.В. Бурховецкий. ЖТФ, 80 (8), 115 (2010). [Yu.M. Nikolaenko, A.B. Mukhin, V.A. Chaika, V.V. Burkhovetskii. Tech. Phys., 55 (8), 1189 (2010). DOI: 10.1134/S1063784210080189]
A.J. Millis, T. Darling, A. Migliori. J. Appl. Phys., 83 (3), 1588 (1998). DOI: 10.1063/1.367310
F. Tsui, M.C. Smoak, T.K. Nath, C.B. Eom. Appl. Phys. Lett., 76 (17), 2421 (2000). DOI: 10.1063/1.126363
A.-M. Haghiri-Gosnet, J.-P. Renard. J. Phys. D: Appl. Phys., 36 (8), R127 (2003). DOI: 10.1088/0022-3727/36/8/201
A. Abrutis, V. Plausinaitiene, V. Kubilius, A. Teiserskis, Z. Saltyte, R. Butkute, J.P. Senateur. Thin Solid Films, 413 (1-2), 32 (2002). DOI: 10.1016/S0040-6090(02)00352-8
A. Urushibara, Y. Moritomo, T. Arima, A. Asamitsu, G. Kido, Y. Tokura. Phys. Rev. B, 51 (20), 14103 (1995). DOI: 10.1103/PhysRevB.51.14103
Y. Feng, K. Jin, L. Gu, X. He, C. Ge, Q. Zhang, M. He, Q. Guo, Q. Wan, M. He, H. Lu, G. Yang. Scientif. Reports, 6, 22382 (2016). DOI: 10.1038/srep22382
J.Z. Sun, D.W. Abraham, R.A. Rao, C.B. Eom. Appl. Phys. Lett., 74 (20), 3017 (1999). DOI: 10.1063/1.124050

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель