Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Диэлектрическая спектроскопия как метод исследования тонких пленок диоксида ванадия
Переводная версия: 10.1134/S1063784219120107 
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
2Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
2Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: shadr.solid@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 6 мая 2019 г.
В окончательной редакции: 6 мая 2019 г.
Принята к печати: 27 мая 2019 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2019 г.
Исследованы диэлектрические спектры образцов тонких (1200 Angstrem) пленок диоксида ванадия - материала с сильными электрон-электронными корреляциями. Исследованы как нелегированные, так и легированные германием пленки VO2:Ge. Для последних обнаружен дополнительный максимум в частотном спектре тангенса угла диэлектрических потерь. Изучена тонкая структура спектров и выполнена физическая интерпретация двух максимумов на частотной зависимости тангенса угла диэлектрических потерь и двух полуокружностей на Коул-Коул диаграмме. Анализ результатов произведен на основе эквивалентных электрических схем образцов: одноконтурной RC-схемы для случая нелегированной пленки VO2 и двухконтурной - для VO2:Ge. Определены численные значения параметров модельных схем. Ключевые слова: диэлектрическая спектроскопия, диоксид ванадия VO2, легированные пленки VO2:Ge, корреляционные эффекты, тангенс угла диэлектрических потерь.
- Castro R.A., Ignatiev A.I., Nikonorov N.V., Sidorov A.I., Stolyarchuk M.V. // J. Non-Crystalline Solids. 2017. Vol. 461. P. 72-79
- Kremer F., Schonhals A. Broadband Dielectric Spectroscopy. Berlin: Springer, 2003
- Ильинский А.В., Кастро Р.А., Никулин Е.И., Шадрин Е.Б. // ЖТФ. 2018. Т. 88. Вып. 6. С. 877-882
- Ильинский А.В., Пашкевич М.Э., Шадрин Е.Б. // НТВ СПбГПУ. ФМН. 2017. Т. 10. Вып. 3. С. 9-17
- Ильинский А.В., Кастро Р.А., Кононов А.А., Пашкевич М.Э., Попова И.О., Шадрин Е.Б. // Письма в ЖТФ. 2019. Т. 45. Вып. 11. С. 44-46
- Калашников С.Г. Электричество. 6-е изд. Изд-во: ФМЛ, 2004
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
