"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследование особенностей образования полупроводникового дисилицида титана
Ковалевский А.А.1, Лабунов В.А.1, Строгова А.С.1, Цыбульский В.В.1
1Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск, Беларусь
Email: strogova@bsuir.by
Поступила в редакцию: 10 декабря 2014 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2016 г.

Получены и исследованы наноструктурированные порошки дисилицида титана с полупроводниковыми свойствами. Установлено, что оптические и электрофизические свойства TiSi2, задаются наноразмером его кристаллитов.
  • Ефремов М.Д., Аржанникова С.А., Володин В.А. и др. // Вестник НГУ. Сер. Физика. 2007. Т. 2. Вып. 2. С. 51--60
  • Ritterskamp P., Kuklya A., Wustkamp M. // Angewand. Chem. Int. Ed. 2007. Vol. 46. N 41. Р. 7770--7774
  • Московских Д.О., Мукасьян А.С., Рогачев А.С. // АН. 2013. Т. 449. N 2. С. 176--179
  • Ковалевский А.А., Строгова А.С., Цыбульский В.В. и др. // Нано- и микросистемная техника. 2011. N 1. С. 26--30
  • Ковалевский А.А., Власукова Л.А., Строгова А.С. и др. Ч. 1. // Нано- и микросистемная техника. 2012. N 5. С. 15--21
  • Ковалевский А.А., Власукова Л.А., Строгова А.С. и др. Ч. 2. // Нано- и микросистемная техника. 2012. N 6. С. 6--11
  • Ковалевский А.А., Лабунов В.А., Долбик А.В., Сауров А.Н., Басаев А.С., Строгова А.С. // ИФЖ. 2008. Т. 81. N 3. С. 587--591
  • Климов В.В. // СОЖ. 1996. N 8. С. 6--13
  • Ковалевский А.А., Лабунов В.А., Строгова А.С. // Материалы. Технологии. Инструменты. 2014. Т. 19. N 2. С. 27--35
  • Огарев В.А., Рудой В.М., Дементьева О.В. // Материаловедение. 2008. N 5. С. 47--55
  • Ковалевский А.А., Цыбульский В.В., Строгова А.С. и др. // Материалы. Технологии. Инструмент. 2011. Т. 16. N 3. С. 37--42
  • Уханов Ю.И. Оптические свойства полупроводников. М.: Наука, 1977. 366 с
  • Мьюрарка М. Силициды для СБИС. М.: Мир, 1986. 176 с
  • Ковалевский А.А., Лабунов В.А., Строгова А.С. // Материалы. Технологии. Инструмент. 2014. 19. N 2. С. 27--35
  • Матвиенко Ю.Г. Деформирование и разрушение наноматериалов на микро- и наномасштабных структурных уровнях / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. N 1. С. 83--90
  • Kovalevskii A.A., Labunov V.A., Strogova A.S., Komar O.M. // Engineer. Technol. 2015. Vol. 2. N 2. P. 13--22.
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.