Вышедшие номера
Состав морфология и электронная структура наноразмерных фаз, созданных на поверхности SiO2 бомбардировкой ионами Ar+
Юсупжанова М.Б.1, Ташмухамедова Д.А.1, Умирзаков Б.Е.1
1Ташкентский государственный технический университет, Ташкент, Узбекистан
Email: ftmet@rambler.ru
Поступила в редакцию: 8 июля 2015 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2016 г.

Изучено влияние бомбардировки ионами Ar+ на состав и структуру поверхности SiO2/Si. Обнаружено, что при высокодозной ионной бомбардировке на поверхности SiO2 образуется тонкая пленка Si.