"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследование атомной, кристаллической, доменной структуры материалов на основе анализа дифракционных и абсорбционных рентгеновских данных (О б з о р)
Бойко М.Е.1, Шарков М.Д.1, Бойко А.М.1, Конников С.Г.1, Бобыль А.В.1, Будкина Н.С.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: m.e.boiko@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 31 марта 2015 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2015 г.

Описаны способы получения и анализа экспериментальных данных при использовании рентгеновских методов исследования материалов. Наибольшее внимание уделено методам EXAFS, рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния рентгеновских лучей.
  1. Пинскер З.Г. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах. М.: Наука, 1974. 369 с
  2. Шарков М.Д., Погребицкий К.Ю., Конников С.Г. // ЖТФ. 2007. Т. 77. Вып. 8. С. 131--134
  3. X-Ray Absorption: Principles, Applications, Techiniques of EXAFS, SEXAFS, and XANES, Vol. 92 / Ed. by D.C. Koningsberger and R. Prins. Eindhoven, The Netherlands: Eindhoven University of Technology; N.Y. Chichester, Brisbane, Toronto, Singapore: John Wiley \& Sons Inc., 1988. 673 p
  4. Джексон Дж. Классическая электродинамика / Пер. с англ. Г.В. Воскресенского и Л.С. Соловьева. М.: Мир, 1965. 704 с
  5. Василевская Т.Н., Захарченя Р.И. // ФТТ. 1996. Т. 38. Вып. 10. С. 3129--3143
  6. Русаков А.А. Рентгенография металлов. М.: Атомиздат, 1977. 480 с. С. 313
  7. Sharkov M.D., Pogrebitsky K.Ju., Boiko M.E., Konnikov S.G. // Precision Instrument and Mechanology. 2012. Vol. 1. N 2. P. 32--41
  8. Bartels W.J. // J. Vac. Sci. Technol. B. 1983. Vol. 1. P. 338--345. DOI: 10.1116/1.582553
  9. Giannini C., Tapfer L. // J. Appl. Cryst. 1996. Vol. 29. P. 230--235
  10. Servidori M. // J. Appl. Cryst. 2002. Vol. 35. P. 41--48
  11. Cole H., Chambers F.W., Dunn H.M. // Acta Crystallographica. 1962. Vol. 15. P. 138--144
  12. Кютт Р.Н. // ЖТФ. 2011. Т. 81. Вып. 5. С. 81--88
  13. Renninger M. // Zeitschrift fur Physik. 1937. Vol. 106. N 2. P. 141--176
  14. Маренков О.С., Комков Б.Г. Таблица полных массовых коэффициентов ослабления характеристического рентгеновского излучения: методические рекомендации / Под ред. Н.И. Комяка. Л.: ЛНПО Буревестник, 1978. 274 с
  15. Bearden A.J. // Rev. Mod. Phys. 1967. Vol. 39. P. 78--124
  16. Bearden A.J., Burr A.F. // Rev. Mod. Phys. 1967. Vol. 39. P. 125--142
  17. Шарков М.Д., Погребицкий К.Ю., Бойко М.Е. // ЖТФ. 2011. Т. 81. Вып. 9. С. 134--139
  18. Блохин М.А. Методы рентгеноспектральных исследований. М.: ГИТЛ, 1959. 386 с
  19. Sayers D.E., Stern E.A., Lytle F.W. // Phys. Rev. Lett. 1971. Vol. 27. P. 1204--1207
  20. Babanov Yu.A., Vasin V.V., Ageev A.L., Ershov N.V. // Phys. Stat. Solidi B. 1981. Vol. 105. P. 747--754
  21. Ershov N.V., Ageev A.L., Vasin V.V., Babanov Yu.A. // Phys. Stat. Solidi B. 1981. Vol. 108. P. 103--111
  22. Stern E.A., Sayers D.E., Lytle F.W. // Phys. Rev. B. 1975. Vol. 11. P. 4836--4846
  23. Амусья М.Я. Атомный фотоэффект. М.: Наука, Гл. ред. физматлит, 1987. 272 с
  24. Boland J.J., Halaka F.G., Baldeschwieler J.D // Phys. Rev. B. 1983. Vol. 28. P. 2921-2926
  25. Martens G., Rabe P., Schwentner N., Werner A. // Phys. Rev. B. 1978. Vol. 17. P. 1481--1488
  26. Newville M., Livins P., Yacoby Y., Rehr J.J., Stern E.A. // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 47. P. 14126--14131
  27. Sharkov M.D., Pogrebitsky K.Ju., Konnikov S.G. // Semiconductors. 2007. Vol. 41. N 8. P. 882--885
  28. Шарков М.Д., Погребицкий К.Ю., Конников С.Г. // ПЖТФ. 2007. Т. 33. Вып. 14. С. 72--79
  29. Ведринский Р.В. // Соросовский образовательный журнал. 1996. Т. 5. С. 79--84
  30. Шарков М.Д. Новый метод анализа спектров EXAFS в конденсированных средах. По материалам кандидатской диссертации автора "Анализ дальней тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения в конденсированных средах" (научный руководитель --- чл.-корр. РАН, д.ф.-м.н., проф. С.Г. Конников). Саарбрюкен, Германия: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011. 108 с
  31. Смирнов В.И. Курс высшей математики. Изд. 6-е, переработанное и дополненное. М.: Наука, Гл. ред. физматлит, 1974. Т. 4. Ч. 1. 336 с
  32. Zabinsky S.I., Rehr J.J., Ankudinov A., Albers R.C., Eller M.J. // Phys. Rev. B. 1995. Vol. 52. P. 2995--3009
  33. Иверонова В.И., Ревкевич Г.П. Теория рассеяния рентгеновских лучей. М.: Изд-во МГУ, 1972. 248 с
  34. Zachariasen W.H. Theory of X-Ray Diffraction in Crystals. N.Y.: Dover Publications, Inc., 1967. 256 p
  35. Ормонт Б.Ф. Введение в физическую химию и кристаллохимию полупроводников. М.: Высшая школа, 1982. 528 с
  36. Электронный ресурс. Режим доступа: http://www.icdd.com/profile/index.htm
  37. Cullity B.D. Elements of X-Ray Diffraction. Reading, MA.: Addison-Wesley Publishing Co. Inc., 1956. 520 p
  38. Вайнштейн Б.К. Современная кристаллография. В 4 т. М.: Наука, 1979. Т. 1. "Симметрия кристаллов. Методы структурной кристаллографии". 384 с
  39. Scherrer P. // Nachrichten von der Gesellschaft der Wissenschaften zu Gottingen, Mathematisch-Physikalische Klasse. 1918. Vol. 1918. P. 98--100
  40. Seljakow N. // Zeitschrift fur Physik. 1925. Vol. 31. N 1. P. 439--444
  41. Langford J.I., Wilson J.C. // J. Appl. Cryst. 1978. Vol. 11. P. 102--113
  42. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Физматлит, 2005. 656 с
  43. Small-Angle X-Ray Scattering / Ed. by O. Glatter and O. Kratky. London: Academic Press, 1982. 516 p
  44. Амарантов С.В. // ЖЭТФ. 2009. Т. 135. Вып. 4. С. 721--737
  45. Wagner C.N.J. // J. Non-Cryst. Sol. 1978. Vol. 31. P. 1--40
  46. Pings C.J., Waser . // J. Chem. Phys. 1968. Vol. 48. P. 3016--3018
  47. Fuoss P.H., Eisenberger P., Warburton W.K., Bienenstock A. // Phys. Rev. Lett. 1981. Vol. 46. P. 1537--1540
  48. Babanov Yu.A., Ershov N.V., Shvetsov V.R., Serikov A.V., Ageev A.L., Vasin V.V. // J. Non-Cryst. Sol. 1986. Vol. 79. P. 1--17
  49. Электронный ресурс. Режим доступа: http://www.vinilko.ru/minilab\_6.htm
  50. Шарков М.Д., Бойко М.Е., Бойко А.М., Бобыль А.В., Конников С.Г. // ЖСХ. 2014. Т. 55. Вып. 4. С. 821--825
  51. Бойко М.Е., Шарков М.Д., Бойко А.М., Бобыль А.В., Теруков Е.И. Способ рентгеноспектрального определения размеров наночастиц в образце. --- Патент N 2548601 от 23.03.2015

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.