Исследованы оптическое пропускание и диаграмма направленности управляемой дифракционной решетки на основе X-среза электрооптического кристалла ниобата лития. Показано снижение интенсивности 0-го и ±1-х порядков дифракции до 40% от начального значения для напряжения до 792 V, приложенного к нанесенным на кристалл электродам. Установлено возникновение дифракционных порядков на углах ±lambda/(2d) и ±3lambda/(2d). Указанное изменение диаграммы направленности обусловлено возникновением в кристалле рассеивающей фазовой дифракционной решетки под действием элекрического поля электродов, исчезающей при отключении напряжения. Отмечена гистерезисная зависимость интенсивности 0-oго дифракционного порядка от напряжения, обусловленная возникновением иглообразных доменов с длиной до 100 mum и шириной до 10 mum, ориентированных перпендикулярно электродам. Показано, что в окрестности доменов существует электрическое поле, вызывающее поворот индикатрисы кристалла, деполяризацию и рассеяние проходящего излучения. Время жизни доменов в нормальных условиях составляет несколько недель при отключенном напряжении и незакороченных электродах.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.