"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
О возможности элементного анализа кристаллических твердых тел методом дифракции рентгеновских лучей
Стожаров В.М.1
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
Email: gut1111@yandex.ru
Поступила в редакцию: 10 сентября 2013 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2014 г.

Предложен новый метод элементного анализа кристаллических твердых тел методом дифракции рентгеновских лучей. На примере образцов природного алюмисиликата и окислов титана показана возможность применения метода к многокомпонентным полиморфным системам, включая широкий диапазон анализируемых элементов и количественное определение их массовых концентраций без помощи внешнего или внутреннего стандарта.
  • Афонин В.П., Комяк Н.И., Николаев В.П., Плотников Р.И. Рентгенофлуоресцентный анализ. Новосибирск: Наука, 1991. 173 с
  • Афонин В.П., Гуничева Т.Н., Пискунов Л.Ф. Рентгенофлуоресцентный силикатный анализ. Новосибирск: Наука, 1984. 225 с
  • Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматлит, 1961. 863 с
  • Авдюхина В.М., Батсурь Д., Зубенко В.В., Кацнельсон А.А. Рентгенография. Спецпрактикум. М.: МГУ, 1986. С. 24--31.
  • Иванова Е.Н., Гавронская Ю.Ю., Стожаров В.М., Пак В.Н. // ЖОХ. 2014. Т. 84. N 2. С. 185--188
  • Вахрушев А.Ю., Горбунова В.В., Бойцова Т.Б., Стожаров В.М., Луканина Т.Л. Неорганические материалы. 2013. Т. 49. N 12. С. 1311--1315
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.