Состав примесей и очистка цилиндрической поверхности газофазного поликристаллического вольфрама
Браварец А.В.1, Зыков Б.М.1, Зыкова В.Н.1, Лебедев В.Н.1, Удовиченко Ю.К.1
1Сухумский физико-технический институт АН Абхазии, Сухуми, Абхазия
Поступила в редакцию: 18 сентября 2001 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2002 г.
Методами вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) и электронной оже-спектроскопии (ЭOС) определет состав приповерхностных и поверхностных примесей цилиндрической поверхности газофазного поликристаллического покрытия W на сплаве Nb + 1% Zr, применяемого в качестве материала коллектора термоэмиссионных преобразователей (ТЭП) тепловой энергии в электрическую в космических ядерных энергетических установках. Проведено сравнение с составом примесей плоскопараллельного достаточно совершенного монокристалла W (110) как эталона. На всех стадиях травления поверхности пучками ионов He+ и Ar+ покрытие загрязнено сильнее эталона. При первом же прогреве в вакууме до 1625 K удаляются все примеси, кроме углерода, кислорода и ниобия, не удаляемых прогревом вплоть до 2075 K. Показано, что ниобий диффунидирует к поверхности сквозь W покрытие толщиной 30 mum. Отмечается сильное распыление материала при температурах выше 1925 K. После проведения 50 циклов специального окисления содержание углерода в покрытии значительно уменьшено, но последующие 25 циклов к дальнейшему уменьшению уже не приводят. Исходя из невозможности удаления с поверхности при 1925-2075 K кислорода сделан вывод о наличии на ней высокотемпературного субоксида Nb2W2O. Для улучшения адсорбционных свойств по отношению к O-Cs пленке даны рекомендации по повышению чистоты W покрытия при его получении.
- Левин Дж., Гелхаус Ф. // Прямое преобразование тепловой энергии в электрическую и топливные элементы. 1968. Вып. 4. С. 109
- Зыков Б.М., Сабельников А.М., Цхакая В.К., Чилингарашвили Р.С., Ярыгин В.И. // Поверхность. 1987. N 4. C. 65
- Зыков Б.М., Нардая Ю.И. // ЖТФ. 1995. Т. 65. Вып. 4. С. 150
- Методы анализа поверхности // Под ред. А. Зандеры. М.: Мир, 1979. 584 с
- Зыков Б.М., Цхакая В.К., Ярыгин В.И. АС N 1062803. Открытия и изобретения. 1983. N 47. C. 236
- Зыков Б.М., Сабельников А.М. // ПТЭ. 1991. N 1. C. 219
- Зыков Б.М., Кобяков В.П., Нардая Ю.И. // Высокочистые вещества. 1991. N 1. C. 71
- Зыков Б.М., Иконников Д.С., Цхакая В.К. // ФТТ. 1975. Т. 17. Вып. 12. С. 3562
- Зыков Б.М., Сабельников А.М. // Высокочистые вещества 1990. N 5. C. 123
- Becker J.A., Becker E.J., Brandes R.G. // J. Appl. Phys. 1961. V. 32. P. 411
- Viswanath Y., Schmidt L.D. // J. Chem. Phys. 1973. Vol. 59. N 8. P. 4184
- Davis L.E., MacDonald N.C., Palmberg P.W., Riach G.E., Weber R.E. Handbook of Auger Electron Spectroscopy. Physical Electronics Industries, Inc., 1976. 259 p
- Фаст Дж. Взаимодействие металлов с газами Т. 2. М.: Металлургия, 1975. 352
- Кобяков В.П. // Поверхность. 1991. N 11. C. 153
- Зыков Б.М., Сабельников А.М. // Поверхность. 1988 N 10. C. 61
- Зыков Б.М., Цхакая В.К. // ЖТФ. 1980. Т. 50. Вып. 8. С. 1771
- Зыков Б.М., Сабельников А.М., Цхакая В.К. // Поверхность. 1990. N 9. C. 22
- Зыков Б.М., Сабельников А.М., Цхакая В.К. // Поверхность. 1986. N 2. C. 21
- Зыков Б.М., Нардая Ю.И., Сабельников А.М. // Высокочистые вещества. 1991. N 4. C. 116
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук