"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Высокотемпературное полевое испарение рения
Голубев О.Л.1, Шредник В.Н.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: V.Shrednik.@pop.ioffe.rssi.ru
Поступила в редакцию: 21 января 2002 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2002 г.

С помощью полевых эмиссионных методов изучалось высокотемпературное полевое испарение Re, а также Pt, Ta и W. Ионы металлов испарялись в основном с вершин термополевых микровыступов, возникающих на поверхности эмиттера под воздействием высоких электрических полей и температур. В полях напряженностью до F=1-2 V/Angstrem и температурах T до 1500-2000 K регистрировались ионные токи i со всей поверхности эмиттера от долей nA до нескольких nA. С использованием графиков Аррениуса i=f(1/T) были определены энергии активации процесса полевого испарения, которые оказались заметно меньше полученных расчетным путем на основе модели обмена зарядом при известных параметрах процесса испарения и испаряемого металла. Обсуждаются причины подобного различия энергий активации и механизм явления испарения ионов при высоких F иT.
  • Шредник В.Н., Павлов В.Г., Рабинович А.А., Шайхин Б.М. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1974. Т. 38. N 2. С. 296--301
  • Бутенко В.Г., Голубев О.Л., Конторович Е.Л., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 1992. Т. 18. Вып. 8. С. 86--91
  • Миллер М., Смит Г. Зондовый анализ в автоионной микроскопии. М.: Мир, 1993. 301 с
  • Ненакаливаемые катоды. / Под. ред. М.И. Елинсона. М.: Сов. радио, 1974. Гл. 6. С. 165--169
  • Фоменко В.С. Электронные свойства материалов. Справочник. Киев: Наукова думка, 1981
  • Шредник В.Н. // Проблемы современной кристаллографии. М.: Наука, 1975. С. 150--171
  • Forbes R.G. // Appl. Surf. Sci. 1995. Vol. 87/88. P. 1--11
  • Мюллер Э.В. // УФН 1962. Т. 77. С. 481--523
  • Gomer R., Swanson L.W. // J. Chem. Phys. 1963. Vol. 39. N 11. P. 2813--2836
  • Bardon J., Audiffren M. // J. De Phys. Coll. C9 suppl. 1984. Vol. 45. N 12. P. C245--C249
  • Мюллер Э.В., Цонь Т. Автоионная микроскопия. М.: Металлургия, 1972. 360 с
  • Vanselov R., Schmidt W.A. // Zs. fur Naturfor. 1966. Bd 21a. S. 1690--1696
  • Kingham D.R. // Surf. Sci. 1982. Vol. 116. P. 273--301
  • Vu Thien Binh, Garcia N. // Ultramicroscopy. 1992. Vol. 42--44. P. 80--90
  • Rayane D., Milinon P., Trobollet B. at al. // J. Chem. Phys. 1989. Vol. 91. P. 3100--3110
  • Kellog G.L. // Sirf. Sci. 1982. Vol. 120. P. 319--333
  • Jun H., Cutler P.H., Miskowsky N.N. // J. Appl. Phys. 1981. Vol. 52. P. 5320--5329
  • Rabinovich A.A. // Surf. Sci. 1978. Vol. 70. P. 181--185
  • Ernst N., Jentsch Th. // Phys. Rev. B. 1981. Vol. 24. N 11. P. 6234--6241
  • Lui J., Wu Chung-wu, Tsong T.T. // Surf. Sci. 1991. Vol. 246. P. 157--162
  • Lui J., Wu Chung-wu, Tsong T.T. // Phys. Rev. B. 1991. Vol. 42. N 14. P. 11 595--11 604
  • Чернов А.А. // Современная кристаллография. М.: Наука, 1980. Гл. 1. С. 8--232
  • Bettler P.C., Sharbonnier F.M. // Phys. Rev. 1960. Vol. 119. N 1. P. 85--93
  • Сокольская И.Л., Нойманн Х., Клозе Э. // ФТТ. 1964. Т. 6. Вып. 5. С. 1439--1448
  • Паутов Д.М., Сокольская И.Л. // ФТТ. 1968. Т. 10. Вып. 8. С. 2473--2479
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.