Комбинированные фотоотражательные/фотолюминесцентные измерения для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника
Кузьменко Р.В., Ганжа А.В., Домашевская Э.П., Рясной П.В.1,2
1Воронежская государственная архитектурно-строительная академия, Воронеж, Россия
2(Kusmenko)
Email: phssd2@main.vsu.ru
Поступила в редакцию: 30 марта 2001 г.
Выставление онлайн: 20 января 2002 г.
Для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника впервые предлагается методика комбинированных фотоотражательных/фотолюминесцентных измерений, позволяющая изучить воздействие лазерного излучения и на заряженные, и на рекомбинационно-активные электронные состояния. Эффективность методики демонстрируется на примере пассивированных селеном подложек GaAs.
- Raja M.Y.A., Brueck S.R.J., Osinski M., McInerney J. // Appl. Phys. Lett. 1988. Vol. 52. P. 625
- Suzuki T., Ogawa M. // Appl. Phys. Lett. 1977. Vol. 34. P. 473
- Haegel N.M., Winnacker A. // Appl. Phys. 1987. Vol. A42. P. 233
- Guidotti D., Hasan E., Hovel H.-J., Albert M. // Appl. Phys. Lett. Vol. 50. P. 912
- Ogawa J., Tamamura K., Akimoto K., Mory Y. // Appl. Phys. Lett. 1987. Vol. 51. P. 1949
- Guidotti D., Hasan E., Hovel H.-J., Albert M. // IL Nuovo Cimento. 1989. Vol. 11. P. 583
- Darling R.B. // Phys. Rev. B. 1991. Vol. 45. P. 4071
- Bottka N., Gaskill D.K., Sillmon R.S. et al // Electronic Mater. 1988. Vol. 17. P. 161
- Schreiber J., Hildebrandt S., Kircher W., Richter T. // Mater. Sci. Eng. B. 1991. Vol. 9. P. 31
- Сысоев Б.И., Антюхин В.Ф., Стрыгин В.Д., Моргунов В.Н. // ЖФТ. 1986. Т. 56. С. 913
- Сысоев Б.И., Безрядин Н.Н., Котов Г.И., Стрыгин В.Д. // ФТП. 1993. Т. 27. С. 131
- Безрядин Н.Н., Домашевская Э.П., Арсентьев И.Н. и др. // ФТП. 1999. Т. 33. С. 719
- Aspnes D.E. // Surf. Sci. 1973. Vol. 37. P. 418
- Aspnes D.E. // Phys. Rev. B. 1974. Vol. 10. P. 4228
- Aspnes D.E., Studna A.A. // Phys. Rev. B. 1973. Vol. 7. P. 4605
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук