Вышедшие номера
Влияние шероховатости подложек GaAs (001) на магнитные свойства эпитаксиальных пленок Fe
Высоцкий С.Л.1, Джумалиев А.С.1, Казаков Г.Т.1, Филимонов Ю.А.1, Цыплин А.Ю.1
1Саратовский филиал Института радиотехники и электроники РАН, Саратов, Россия
Email: fil@sfire.saratov.su
Поступила в редакцию: 26 октября 1999 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2000 г.

Методом ферромагнитного резонанса исследуется влияниие шероховатости поверхности подложек GaAs (001) на магнитные свойства пленок Fe толщиной t~ 12... 140 Angstrem, полученных молекулярно-лучевой эпитаксией при комнатной температуре и скоростях осаждения 9 и 3 Angstrem/min. Для пленок, выращенных на подложках с величиной среднеквадратичного отклонения амплитуды шероховатости sigma~ 10 и 30 Angstrem, обнаружено, что вид спектра существенно определяется соотношением толщины пленки t и величины sigma. При толщинах t=<sigma и t<= 3sigma в спектре наблюдается одиночная линия поглощения, тогда как при sigma=< t=< 3sigma --- две линии поглощения. Отмеченные особенности спектров связываются с островковым характером роста пленки и влиянием шероховатости на процесс сращивания островков.
  1. Prosen R.J., Gran B.E., Kivel J. // J. Appl. Phys. 1963. Vol. 34. N 4. P. 1147--1148
  2. Li M., Zhao Y.-P., Wang G.-C., Min H.-G. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83. N 11. P. 6287--6289
  3. He Y.-L., Wang G.-C. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76. N 10. P. 6446--6448
  4. Meng X., Bian X., Muir W.B. et al. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76. N 10. P. 7084--7086
  5. Cochran J.F., Muir W.B., Rudd J.M. et al. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 69. N 8. P. 5206--5208
  6. Han D.-H., Zhu J.-G., Judy J.H., Sivertsen J.M. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 1. P. 340--343
  7. Chang C.-H., Kryder M.H. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 75. N 10. P. 6864--6866
  8. Takeshita H., Hittori K., Fujiwara Y. et al. // Ibid. P. 6415--6417
  9. Bruno P., Bayreuther G., Beauvillain P. et al. // J. Appl. Phys. 1990. Vol. 68. N 11. P. 5759--5766
  10. Chappert C., Bruno P. // J. Appl. Phys. 1988. Vol. 64. N 10. P. 5736--5741
  11. Folkerts W., Hakkens F. // J. Appl. Phys. 1993. Vol. 73. N 10. P. 3922--3925
  12. Freeland J.W., Chakarian V., Bussmann K. et al. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83. N 11. P. 6290--6292
  13. Mac Kay J.F., Teichert C., Lagally M.G. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 8. P. 4353
  14. Prinz G.A., Krebs J.J. // Appl. Phys. Lett. 1981. Vol. 39. N 5. P. 397--399
  15. Rachford F.J., Prinz G.A., Krebs J.J., Hathaway K.B. // J. Appl. Phys. 1982. Vol. 53. N 11. P. 7966--7968
  16. Krebs J.J., Rachford F.J., Lubitz P., Prinz G.A. // Ibid. P. 8058--8060
  17. Prinz G.A., Rado G.T., Krebs J.J. // J. Appl. Phys. 1982. Vol. 53. N 3. P. 2087--2091
  18. Krebs J.J., Jonken B.T., Prinz G.A. // J. Appl. Phys. 1987. Vol. 61. N 7. P. 2596--2599
  19. Gu E., Bland J.A.C., Daboo C. et al. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76. N 10. P. 6440--6442. Phys Rev. 1995. Vol. B51. N 6. P. 3596--3604
  20. Daboo C., Hicken R.J., Gu E. et al. // Phys. Rev. 1995. Vol. B51. N 22. P. 15964--15973
  21. Flippe A., Schuhl A. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 8. P. 4359--4361
  22. Tustison R.W., Varitimos T., van Hook J., Schloemann E.F. // Appl. Phys. Lett. 1987. Vol. 51. N 4. P. 285--287
  23. Oliver S.A., Vittoria C., Schloemann E. et al. // J. Appl. Phys. 1988. Vol. 63. N 8. P. 3802--3804
  24. Jonker B.T., Kneedler E.M., Thibado P. et al. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 5. P. 4362
  25. Florczak J.M., Dan Danlberg E. // Phys. Rev. 1991. Vol. B44. N 17. P. 9338--9347
  26. Высоцкий С.Л., Гульбух С.С., Джумалиев А.С. и др. // Письма в ЖТФ. 1999. Т. 25. Вып. 3. С. 36--40
  27. Endo Y., Okamoto S., Kitakami O., Shimada Y. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 1. P. 344--349
  28. Яковлев Ю.М., Генделев С.Ш. Монокристаллы ферритов в радиоэлектронике. М.: Сов. радио, 1975. 360 с
  29. Poon Chin Y., Bhushan B. // JAP. 1996. Vol. 79. N 8. P. 5799--5801
  30. Гуревич А.Г., Мелков Г.А. Магнитные колебания и волны. М.: Физматлит, 1994. 464 с
  31. Технология тонких пленок. М.: Сов. радио, 1977. Т. 2. С. 768
  32. Filimonov Yu.A., Kazakov G.T., Vysotsky S.L. et al. // JMMM. 1994. Vol.131. P. 235--241

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.