"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Влияние шероховатости подложек GaAs (001) на магнитные свойства эпитаксиальных пленок Fe
Высоцкий С.Л.1, Джумалиев А.С.1, Казаков Г.Т.1, Филимонов Ю.А.1, Цыплин А.Ю.1
1Саратовский филиал Института радиотехники и электроники РАН, Саратов, Россия
Email: fil@sfire.saratov.su
Поступила в редакцию: 26 октября 1999 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2000 г.

Методом ферромагнитного резонанса исследуется влияниие шероховатости поверхности подложек GaAs (001) на магнитные свойства пленок Fe толщиной t~ 12... 140 Angstrem, полученных молекулярно-лучевой эпитаксией при комнатной температуре и скоростях осаждения 9 и 3 Angstrem/min. Для пленок, выращенных на подложках с величиной среднеквадратичного отклонения амплитуды шероховатости sigma~ 10 и 30 Angstrem, обнаружено, что вид спектра существенно определяется соотношением толщины пленки t и величины sigma. При толщинах t=<sigma и t<= 3sigma в спектре наблюдается одиночная линия поглощения, тогда как при sigma=< t=< 3sigma --- две линии поглощения. Отмеченные особенности спектров связываются с островковым характером роста пленки и влиянием шероховатости на процесс сращивания островков.
  • Prosen R.J., Gran B.E., Kivel J. // J. Appl. Phys. 1963. Vol. 34. N 4. P. 1147--1148
  • Li M., Zhao Y.-P., Wang G.-C., Min H.-G. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83. N 11. P. 6287--6289
  • He Y.-L., Wang G.-C. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76. N 10. P. 6446--6448
  • Meng X., Bian X., Muir W.B. et al. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76. N 10. P. 7084--7086
  • Cochran J.F., Muir W.B., Rudd J.M. et al. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 69. N 8. P. 5206--5208
  • Han D.-H., Zhu J.-G., Judy J.H., Sivertsen J.M. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 1. P. 340--343
  • Chang C.-H., Kryder M.H. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 75. N 10. P. 6864--6866
  • Takeshita H., Hittori K., Fujiwara Y. et al. // Ibid. P. 6415--6417
  • Bruno P., Bayreuther G., Beauvillain P. et al. // J. Appl. Phys. 1990. Vol. 68. N 11. P. 5759--5766
  • Chappert C., Bruno P. // J. Appl. Phys. 1988. Vol. 64. N 10. P. 5736--5741
  • Folkerts W., Hakkens F. // J. Appl. Phys. 1993. Vol. 73. N 10. P. 3922--3925
  • Freeland J.W., Chakarian V., Bussmann K. et al. // J. Appl. Phys. 1998. Vol. 83. N 11. P. 6290--6292
  • Mac Kay J.F., Teichert C., Lagally M.G. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 8. P. 4353
  • Prinz G.A., Krebs J.J. // Appl. Phys. Lett. 1981. Vol. 39. N 5. P. 397--399
  • Rachford F.J., Prinz G.A., Krebs J.J., Hathaway K.B. // J. Appl. Phys. 1982. Vol. 53. N 11. P. 7966--7968
  • Krebs J.J., Rachford F.J., Lubitz P., Prinz G.A. // Ibid. P. 8058--8060
  • Prinz G.A., Rado G.T., Krebs J.J. // J. Appl. Phys. 1982. Vol. 53. N 3. P. 2087--2091
  • Krebs J.J., Jonken B.T., Prinz G.A. // J. Appl. Phys. 1987. Vol. 61. N 7. P. 2596--2599
  • Gu E., Bland J.A.C., Daboo C. et al. // J. Appl. Phys. 1994. Vol. 76. N 10. P. 6440--6442. Phys Rev. 1995. Vol. B51. N 6. P. 3596--3604
  • Daboo C., Hicken R.J., Gu E. et al. // Phys. Rev. 1995. Vol. B51. N 22. P. 15964--15973
  • Flippe A., Schuhl A. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 8. P. 4359--4361
  • Tustison R.W., Varitimos T., van Hook J., Schloemann E.F. // Appl. Phys. Lett. 1987. Vol. 51. N 4. P. 285--287
  • Oliver S.A., Vittoria C., Schloemann E. et al. // J. Appl. Phys. 1988. Vol. 63. N 8. P. 3802--3804
  • Jonker B.T., Kneedler E.M., Thibado P. et al. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 5. P. 4362
  • Florczak J.M., Dan Danlberg E. // Phys. Rev. 1991. Vol. B44. N 17. P. 9338--9347
  • Высоцкий С.Л., Гульбух С.С., Джумалиев А.С. и др. // Письма в ЖТФ. 1999. Т. 25. Вып. 3. С. 36--40
  • Endo Y., Okamoto S., Kitakami O., Shimada Y. // J. Appl. Phys. 1997. Vol. 81. N 1. P. 344--349
  • Яковлев Ю.М., Генделев С.Ш. Монокристаллы ферритов в радиоэлектронике. М.: Сов. радио, 1975. 360 с
  • Poon Chin Y., Bhushan B. // JAP. 1996. Vol. 79. N 8. P. 5799--5801
  • Гуревич А.Г., Мелков Г.А. Магнитные колебания и волны. М.: Физматлит, 1994. 464 с
  • Технология тонких пленок. М.: Сов. радио, 1977. Т. 2. С. 768
  • Filimonov Yu.A., Kazakov G.T., Vysotsky S.L. et al. // JMMM. 1994. Vol.131. P. 235--241
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.