"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Методы расчета зонной структуры и низкоэнергетическая вторично-электронная спектроскопия иридия
Панченко О.Ф.1
1Донецкий физико-технический институт им. А.А. Галкина НАН Украины, Донецк, Украина
Поступила в редакцию: 29 января 1998 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1999 г.

Дана теоретическая интерпретация тонкой структуры (ТС) спектра вторично-электронной эмиссии (СВЭЭ) Ir по нормали к поверхности (111) и спектра полного тока (СПТ) поликристалла Ir. В расчетах учитывались энергетическая зависимость уширения зонных уровней энергии, электрон-электронный и электрон-плазмонный вклады в функцию распределения неравновесных электронов, изотропная компонента тока от электронов, рассеянных на поверхности. Показано, что ТС СВЭЭ и СПТ обусловлена главным образом электронным строением конечных состояний, в которые попадают электроны или из которых происходит их эмиссия, что позволяет непосредственно восстанавливать особенности расположения зон в энергетической зонной структуре из данных эксперимента. Развиваемый метод позволяет отделить объемные эффекты в СВЭЭ и СПТ от поверхностных. Подтверждена зависимость ТС СВЭЭ и СПТ от геометрической структуры и степени упорядоченности кристаллов. При этом ослабление интенсивности ТС служит мерой дефектности в приповерхностной области образца, что может успешно применяться для контроля состояния поверхности в процессе обработки.
  • Шульман А.Р., Фридрихов С.А. Вторично-эмиссионные методы исследования твердого тела. М.: Наука, 1977. 552 с
  • Комолов С.А. Интегральная вторично-электронная спектроскопия поверхности. Л.: Изд-во ЛГУ, 1986. 180 с
  • Christensen N.E., Willis R.F. // J. Phys. C. 1979. Vol. 12. N 1. P. 167--207
  • Schafer I., Schluter M., Skibowski M. // Phys. Rev. B. 1987. Vol. 35. N 14. P. 7663--7670
  • Mack J.U., Bertel E., Netzer F.P., Lloyd D.R. // Z. Phys. B. 1986. Vol. 63. N 1. P. 97--108
  • Seah M.P. // Surf. Sci. 1969. Vol. 17. N 1. P. 132--160
  • Артамонов О.М., Виноградов А.Г., Панченко О.Ф. и др. // ФТТ. 1989. Т. 31. Вып. 1. С. 57--61
  • Lang B. // Surf. Sci. 1977. Vol. 66. N 2. P. 527--541
  • Кораблев В.В., Кудинов Ю.А., Панченко О.Ф. и др. // ФТТ. 1994. Т. 36. Вып. 8. С. 2373--2380
  • Kleinherbers K.K., Goldmann A., Tamura E., Feder R. // Sol. St. Commun. 1984. Vol. 49. N 7. P. 735--738
  • Wolff P.A. // Phys. Rev. 1954. Vol. 95. N 1. P. 56--66
  • Amelio G.F. // J. Vac. Sci. Techn. 1970. Vol. 7. N 6. P. 593--604
  • Chung M.S., Everhart T.E. // Phys. Rev. B. 1977. Vol. 15. N 10. P. 4699--4715
  • Rosler M., Brauer W. // Phys. St. Sol. (b). 1981. Vol. 104. N 1. P. 161--175. N 2. P. 575--587
  • Артамонов О.М., Терехов А.Н. // ФТТ. 1986. Т. 28. Вып. 3. С. 862--866
  • Кораблев В.В., Кудинов Ю.А., Сысоев С.Н. // ФТТ. 1987. Т. 29. Вып. 3. С. 702--705
  • Комолов С.А. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1982. Т. 46. N 7. С. 1377--1382
  • Tamura E., Feder R., Krewer J. et al. // Sol. St. Commun. 1985. Vol. 55. N 6. P. 543--547
  • Комолов С.А, Панченко О.Ф., Панченко Л.К. // ФТТ. 1996. Т. 38. Вып. 10. С. 3172--3179
  • Панченко О.Ф., Шаталов В.М. // ЖТФ. 1993. Т. 63. Вып. 10. С. 144--150
  • Немошкаленко В.В., Антонов Вл.Н., Антонов В.Н. // Металлофизика. 1981. Т. 3. N 4. С. 39--58
  • Ray P.N., Chowdhuri J., Chatterjee S. // J. Phys. F. 1983. Vol. 13. N 12. P. 2569--2580
  • Noffke J., Fritsche L. // J. Phys. F. 1982. Vol. 12. N 5. P. 921--933
  • Van der Veen J.F., Himpsel F.J., Eastman D.E. // Phys. Rev. B. 1980. Vol. 22. N 9. P. 4223--4226
  • Пайнс Д., Нозьер Ф. Теория квантовых жидкостей. М.: Мир, 1967. 384 с
  • Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Квантовая механика. Нерелятивистская теория. М.: Наука, 1974. 752 с
  • Panchenko O.F., Panchenko L.K. // J. Electr. Spectr. 1997. Vol. 83. N 1. P. 21--30
  • Комолов С.А., Панченко О.Ф., Шаталов В.М. // ФТТ. 1992. Т. 34. Вып. 11. С. 3489--3492
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.