"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Численный анализ рассеяния электростатического поля двухэлектродной камеры на проводящих поверхностях
Сафронов С.И.1, Тарасов Р.П.1
1Научно-исследовательский институт импульсной техники, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 4 ноября 1997 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1999 г.

Проведен численный анализ электростатического поля TEM-камеры и рассеяния исходного поля TEM-камеры идеально проводящими поверхостями вращения и параллелепипедом.
  • Crawford M.L. // IEEE Trans. Electromfgn. Compatib. 1974. Vol. 16. N 4. P. 189--195
  • Демин С.К., Тарасов Р.П. // ЖВМиМФ. 1989. Т. 29. N 9. С. 1308--1317
  • Захаров Е.В., Сафронов С.И., Тарасов Р.П. // ДАН СССР. 1990. Т. 314. N 3. С. 589--593
  • Тарасов Р.П. // ЖВМиМФ. 1992. Т. 31. N 9. С. 1515--1517
  • Тарасов Р.П. // ЖВМиМФ. 1993. Т. 33. N 12. С. 1815--1825
  • Захаров Е.В., Сафронов С.И., Тарасов Р.П. // ЖВМиМФ. 1993. Т. 33. N 7. С. 1030--18042
  • Wan C.H. // IEEE Trans. Electromfgn. Compatib. 1993. Vol. 35. N 1. P. 109--113
  • Jaswon M.A., Symm G.T. // Proc. Roy. Soc. Ser. A. 1963. Vol. 275. P. 23--46
  • Jaswon M.A., Ponter A.R. // Proc. Roy. Soc. Ser. A. 1963. Vol. 273. P. 237--246
  • Harrington R.F. Field Computation by Moment Methods. New York: Macmillan, 1968
  • Демин С.К., Тарасов Р.П. // Мат. моделирование. 1993. Т. 5. N 7. C. 113--123
  • Захаров Е.В., Сафронов С.И., Тарасов Р.П. // ЖВМиМФ. 1992. Т. 31. N 1. С. 40--58
  • Захаров Е.В., Сафронов С.И., Тарасов Р.П. // ЖВМиМФ. 1990. Т. 30. N 11. С. 1631--1661
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.