Вышедшие номера
Диагностика двумерных фрактальных структур с использованием сканирующих когерентных пучков
Зимняков Д.А.1, Мишин А.А.1, Серов А.Н.1
1Саратовский филиал Института машиноведения РАН, Саратов, Россия
Поступила в редакцию: 30 апреля 1996 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1997 г.

Обсуждается метод исследования двумерных случайных структур типа амплитудных экранов с фрактальными свойствами с использованием сканирующих сфокусированных и широких коллимированных пучков. Рассмотрена взаимосвязь параметров структурных функций флуктуаций интенсивности, детектируемых в фиксированной точке наблюдения, со структурными характеристиками исследуемых экранов. Приводятся результаты экспериментальных исследований модельных образцов случайных амплитудных экранов с фрактальными свойствами.