"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок BiFeO3
Широков В.Б., Головко Ю.И., Мухортов В.М.1,2
1Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
2Южный федеральный университет, Ростов-на-Дону, Россия
Email: shirokov-vb@rambler.ru
Поступила в редакцию: 13 декабря 2012 г.
Выставление онлайн: 21 декабря 2013 г.

Исследованы свойства наноразмерных пленок BiFeO3, допированных неодимом, на монокристаллических подложках оксида магния, полученных методом высокочастотного распыления по слоевому механизму роста. Структурное совершенство пленок изучено методами рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 200-1100 nm. Спектры обработаны с использованием дисперсионной формулы для диэлектрической проницаемости в виде суммы осцилляторов с учетом релаксации, что позволило выделить прямые и непрямые переходы. Край поглощения оценен для прямых переходов как 2.81 и 2.78 eV для пленок толщиной 14 и 60 nm соответственно.
  • Wang K.F., Liu J.-M., Ren Z.F. // Adv. Phys. 2009. Vol. 58. N 4. P. 321
  • Catalan G., Scott J.F. // Adv. Mater. 2009. Vol. 21. P. 2463
  • Choi T., Lee S., Choi Y.J., Kiryukhin V., Cheong S.-W. // Science. 2009. Vol. 324. P. 63
  • Yang S.Y., Seidel J., Byrnes S.J., Shafer P., Yang C.-H., Rossell M.D., Yu P., Chu Y.-H., Scott J.F., Ager J.W., Martin L.W., Ramesh R. // Nat. Nanotechnol. 2010. Vol. 5. P. 143
  • Ma J., Hu J., Li Z., Nan C.-W. // Adv. Mater. 2011. Vol. 23. P. 1062
  • Huang F., Lu X., Lin W., Wu X., Kan Y., Zhu J. // Appl. Phys. Lett. 2006. Vol. 89. P. 242 914
  • Karimi S., Reaney I.M., Levin I., Sterianou I. // Appl. Phys. Lett. 2009. Vol. 94. P. 112 903
  • Мухортов В.М., Головко Ю.И., Юзюк Ю.И. // УФН. 2009. T. 179. C. 909
  • Leontyev I.N., Yuzyuk Yu.I., Janolin P-E., El-Marssi M., Chernyshov D., Dmitriev V., Golovko Yu.I., Mukhortov V.M., Dkhil B. // J. Phys.: Condens. Matter. 2011. Vol. 23. P. 332 201
  • Головко Ю.И., Мухортов В.М., Бунина О.А., Захарченко И.Н., Анохин А.С., Широков В.Б., Юзюк Ю.И. // ФТТ. 2010. Т. 52. С. 1336
  • Stenzel O. The Physics of Thin Film Optical Spectra. An Introduction. Berlin: Springer., 2005. 276 p
  • Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 720 с
  • Широков В.Б. // Опт. и спектр. 2012. Т. 112. N1. С. 137
  • Широков В.Б., Головко Ю.И., Мухортов В.М. // ЖТФ. 2012. Т. 82. С. 79
  • Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: ГИТТЛ, 1957. 532 с
  • Kumar A., Rai R.C., Podraza N.J., Denev S., Ramirez M., Chu Y.-H., Martin L. W., Ihlefeld J., Heeg T., Schubert J., Schlom D.G., Orenstein J., Ramesh R., Collins R.W., Musfeldt J.L., Gopalan V. // Appl. Phys. Lett. 2008. Vol. 92. P. 121 915
  • Clark S.J., Robertson J. // Appl. Phys. Lett. 2007. Vol. 90. P. 132 903
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.