"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Особенности применения метода ВИМС для исследования диэлектриков: заряд на поверхности образца в одномерной модели
Барченко В.Т., Вендик О.Г., Ильинский Л.С.
Выставление онлайн: 19 апреля 1990 г.

Рассмотрена физическая модель зарядки поверхности диэлектрического образца применительно ко вторично-ионной масс-спектрометрии. Решается одномерная задача по интегрированию уравнения Пуассона для промежутка держатель мишени-вытягивающий электрод для случая баланса поверхностного заряда на диэлектрике. Получены алгебраические уравнения, связывающие потенциалы поверхности диэлектрика с параметрами первичного и вторичного пучков ионов и мишени. Определены режимы бомбардировки в условиях нейтрализации заряда на поверхности диэлектрика. Рассмотренные модельные представления применены для интерпретации результатов анализа методом вторично-ионной масс-спектрометрии пленок сегнетоэлектриков и железо-иттриевого граната.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.