"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Определение состава, толщины и оценка неоднородности состава по толщине субмикронных пленок на основе Y 1Ba 2Cu 3O y методом рентгеноспектрального микроанализа
Третьяков В.В.1, Конников С.Г.1, Корнякова О.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 13 апреля 1993 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1993 г.

  • Дорохов А.Н., Рояк А.Я., Мазалов Л.Н. и др. Изв. СО АН СССР. Сер. Хим. 1980. Т. 2. N 1. С. 135--137
  • Гимельфарб Ф.А. Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов. М.: Металлургия, 1986
  • Pouchou J.L., Pichoir F. Rech. Aerosp. 1984. Vol. 3. P. 13--39
  • Казаков С.В., Конников С.Г., Третьяков В.В. Изв. АН СССР. 1991. Т. 55. N 8
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.