"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
Лященко С.А., Тарасов И.А., Варнаков С.Н., Шевцов Д.В., Швец В.А., Заблуда В.Н., Овчинников С.Г., Косырев Н.Н., Бондаренко Г.В., Рыхлицкий С.В.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 26 октября 2012 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO2. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.
  • Диаграмма состояния двойных металлических систем. Cправочник: В 3 т.: Т. 2 / Под общ. ред. Н.П. Лякишева. М.: Машиностроение, 1997. 1024 с
  • Fanciulli M. // Thin. Sol. Films. 1996. Vol. 275. P. 8-11
  • Гомоюнова М.В., Малыгин Д.Е., Пронин И.И. // ФТТ. 2006. Т. 48. С. 1898-1905
  • Косырев Н.Н., Овчинников С.Г. // Письма в ЖЭТФ. 2008. Т. 88. N 2. С. 152-154
  • Fujiwara H. Spectroscopic Ellipsometry. Principles and Application. Wiley, 2007. 369 p
  • Варнаков С.Н., Комогорцев С.В., Bartolome J., Sese J., Паршин А.С., Косырев Н.Н. // Физика металлов и металловедение. 2008. Т. 106. N 1. С. 54-58
  • Варнаков С.Н., Лепешев А.А., Овчинников С.Г. и др. // ПТЭ. 2004. N 6. С. 125-129
  • Duncan W.M., Henck S.A., Kuehne J.W., Loewenstein L.M., Maung S. // J. Vac. Sci. Technol. B. 1994. Vol. 12. N 4. P. 27-79
  • Aspnes D.E. // Thin. Sol. Films. 1993. Vol. 233. P. 1-8
  • Рыхлицкий С.В., Швец В.А., Спесивцев Е.В., Прокопьев В.Ю., Овчинников С.Г., Заблуда В.Н., Косырев Н.Н., Варнаков С.Н., Шевцов Д.В. // ПТЭ. 2012. N 2. С. 165-166
  • Volkov N.V., Tarasov A.S., Eremin E.V., Varnakov S.N., Ovchinnikov S.G., Zharkov S.M. // J. Appl. Phys. 2011. Vol. 109. P. 123 924
  • Швец В.А., Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В. // Опт. и спектр. 2004. Т. 97. N 3. С. 514-525
  • Тарасов И.А., Косырев Н.Н., Варнаков С.Н., Овчинников С.Г., Жарков С.М., Швец В.А., Бондаренко С.Г., Терещенко О.Е. // ЖТФ. 2012. Т. 82. Вып. 9. C. 44-48
  • Azzam R.M.A., Bashara N.M. Elipsometry and polirilized light. N.Y.: North Holland Publishing Company, 1977. 583 p
  • Hoffman H. // Zs. Phys. 1961. Vol. 165. P. 261
  • Stunkel D. // Zs. Phys. 1963. Vol. 176. P. 207
  • Артемьев Е.М., Комалов А.С. // ЖТФ. 2008. Т. 78. Вып. 10. С. 98-99
  • Балашев В.В., Коробцов В.В., Писаренко Т.А., Чеботкевич Л.А. // ЖТФ. 2011. Т. 81. Вып. 10. C. 122-128
  • Ваганов А.Б., Завьялов В.В. // ЖЭТФ. 1974. Т. 67. С. 2167-2179
  • Krinchik G.S., Artem'ev V.A. // JETP. 1968. Vol. 26. P. 1080-1085
  • Fausto Sirotti, Maurizio De Santis, Giorgio Rossi // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 48. P. 8299-8306
  • Lichtenstein A.I., Katsnelson M.I., Kotliar G. // Phys. Rev. Lett. 2001. Vol. 87. P. 067-205
  • Zeller R. Spin-Polarized DFT Calculations and Magnetism. John von Neumann Institute for Computing, 2006. 27 p
  • Himpsel F.J. // Phys. Rev. Lett. 1991. Vol. 67. P. 2363-2366
  • Eastman D.E., Himpsel F.J., Knapp J.A. // Phys. Rev. Lett. 1980. Vol. 44. P. 95-98
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.