"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами
Лященко С.А., Тарасов И.А., Варнаков С.Н., Шевцов Д.В., Швец В.А., Заблуда В.Н., Овчинников С.Г., Косырев Н.Н., Бондаренко Г.В., Рыхлицкий С.В.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 26 октября 2012 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO2. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.
  1. Диаграмма состояния двойных металлических систем. Cправочник: В 3 т.: Т. 2 / Под общ. ред. Н.П. Лякишева. М.: Машиностроение, 1997. 1024 с
  2. Fanciulli M. // Thin. Sol. Films. 1996. Vol. 275. P. 8-11
  3. Гомоюнова М.В., Малыгин Д.Е., Пронин И.И. // ФТТ. 2006. Т. 48. С. 1898-1905
  4. Косырев Н.Н., Овчинников С.Г. // Письма в ЖЭТФ. 2008. Т. 88. N 2. С. 152-154
  5. Fujiwara H. Spectroscopic Ellipsometry. Principles and Application. Wiley, 2007. 369 p
  6. Варнаков С.Н., Комогорцев С.В., Bartolome J., Sese J., Паршин А.С., Косырев Н.Н. // Физика металлов и металловедение. 2008. Т. 106. N 1. С. 54-58
  7. Варнаков С.Н., Лепешев А.А., Овчинников С.Г. и др. // ПТЭ. 2004. N 6. С. 125-129
  8. Duncan W.M., Henck S.A., Kuehne J.W., Loewenstein L.M., Maung S. // J. Vac. Sci. Technol. B. 1994. Vol. 12. N 4. P. 27-79
  9. Aspnes D.E. // Thin. Sol. Films. 1993. Vol. 233. P. 1-8
  10. Рыхлицкий С.В., Швец В.А., Спесивцев Е.В., Прокопьев В.Ю., Овчинников С.Г., Заблуда В.Н., Косырев Н.Н., Варнаков С.Н., Шевцов Д.В. // ПТЭ. 2012. N 2. С. 165-166
  11. Volkov N.V., Tarasov A.S., Eremin E.V., Varnakov S.N., Ovchinnikov S.G., Zharkov S.M. // J. Appl. Phys. 2011. Vol. 109. P. 123 924
  12. Швец В.А., Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В. // Опт. и спектр. 2004. Т. 97. N 3. С. 514-525
  13. Тарасов И.А., Косырев Н.Н., Варнаков С.Н., Овчинников С.Г., Жарков С.М., Швец В.А., Бондаренко С.Г., Терещенко О.Е. // ЖТФ. 2012. Т. 82. Вып. 9. C. 44-48
  14. Azzam R.M.A., Bashara N.M. Elipsometry and polirilized light. N.Y.: North Holland Publishing Company, 1977. 583 p
  15. Hoffman H. // Zs. Phys. 1961. Vol. 165. P. 261
  16. Stunkel D. // Zs. Phys. 1963. Vol. 176. P. 207
  17. Артемьев Е.М., Комалов А.С. // ЖТФ. 2008. Т. 78. Вып. 10. С. 98-99
  18. Балашев В.В., Коробцов В.В., Писаренко Т.А., Чеботкевич Л.А. // ЖТФ. 2011. Т. 81. Вып. 10. C. 122-128
  19. Ваганов А.Б., Завьялов В.В. // ЖЭТФ. 1974. Т. 67. С. 2167-2179
  20. Krinchik G.S., Artem'ev V.A. // JETP. 1968. Vol. 26. P. 1080-1085
  21. Fausto Sirotti, Maurizio De Santis, Giorgio Rossi // Phys. Rev. B. 1993. Vol. 48. P. 8299-8306
  22. Lichtenstein A.I., Katsnelson M.I., Kotliar G. // Phys. Rev. Lett. 2001. Vol. 87. P. 067-205
  23. Zeller R. Spin-Polarized DFT Calculations and Magnetism. John von Neumann Institute for Computing, 2006. 27 p
  24. Himpsel F.J. // Phys. Rev. Lett. 1991. Vol. 67. P. 2363-2366
  25. Eastman D.E., Himpsel F.J., Knapp J.A. // Phys. Rev. Lett. 1980. Vol. 44. P. 95-98

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.