Размеры областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения в тонких пленках SmS и их визуализация
Шаренкова Н.В.1, Каминский В.В.1, Петров С.Н.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Vladimir.Kaminski@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 16 декабря 2010 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2011 г.
На тонкой поликристаллической пленке SmS из рентгеновских дифрактограмм (theta-2theta-сканирование, ДРОН-2, Cu Kalpha-излучение) по формуле Селякова-Шеррера с учетом влияния микронапряжений определен характерный размер областей когерентного рассеяния рентгеновского излучения (250±20 Angstrem). С помощью электронного микроскопа получено изображение поверхности этой же пленки, на котором четко видны области с характерными размерами 240 Angstrem. Сделан вывод, что визуально наблюдаются области когерентного рассеяния рентгеновского излучения.
- Современная кристаллография / Под ред. Б.К. Вайнштейна. Т. 1. М.: Наука, 1979. 384 с
- Голубков А.В., Дидик В.А., Каминский В.В., Скорятина Е.А., Шаренкова Н.В. // ФТТ. 2005. Т. 47. Вып. 7. С. 1192-1194
- Дидик В.А., Каминский В.В., Скорятина Е.А., Усачева В.П., Шаренкова Н.В., Голубков А.В. // Письма в ЖТФ. 2006. Т. 32. Вып. 13. С. 1-5
- Шаренкова Н.В., Каминский В.В., Романова М.В., Васильев Л.Н., Каменская Г.А. // ФТТ. 2008. Т. 50. Вып. 7. С. 1158-1161
- Каминский В.В., Курапов Ю.П., Васильев Л.Н., Романова М.В., Шаренкова Н.В. // ФТТ. 1996. Т. 38. Вып. 3. С. 779-785
- Шаренкова Н.В., Каминский В.В., Голубков А.В., Васильев Л.Н., Каменская Г.А. // ФТТ. 2005. Т. 47. Вып. 4. С. 598-602
- Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электронографический анализ. М.: Металлургия, 1970. 368 с
- Рябов А.В., Рувимов С.С., Сорокин Л.М., Смирнов Б.И., Голубков А.В. // ФТТ. 1979. Т. 21. Вып. 7. С. 1986-1989
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
