Вышедшие номера
Электролюминесцентные характеристики светодиодов среднего ИК-диапазона на основе гетероструктур InGaAsSb/GaAlAsSb при высоких рабочих температурах
Петухов А.А.1, Журтанов Б.Е.1, Молчанов С.С.1, Стоянов Н.Д.1, Яковлев Ю.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: post@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 3 июня 2010 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2011 г.

Приведены результаты исследования электролюминесцентных характеристик светодиода на основе гетероструктуры InGaAsSb/GaAlAsSb, излучающей в области 1.85 mum, при температуре 20-200oC. Из результатов исследования следует, что с увеличением температуры мощность излучения экспоненциально уменьшается по закону P=~0.4exp(2.05·103 T). Показано, что, уменьшение мощности излучения обусловлено главным образом ростом скорости Оже-рекомбинации. Установлено, что помимо излучательной рекомбинации зона-зона происходит рекомбинация через акцепторные уровни, приводящая к уширению спектра излучения. С ростом температуры энергия активации акцепторных уровней уменьшается по закону Delta E=~32.9-0.075 T, а также происходит смещение максимума спектра излучения светодиода в длинноволновую область (hnumax=0.693-4.497·10-4 T). При анализе экспериментальных результатов исходя из зависимости Eg=hnumax-(1)/(2) kT получено выражение для изменения ширины запрещенной зоны активной области состава Ga0.945In0.055AsSb с температурой Eg=~0.817-4.951·10-4 T при 290 K<T<495 K. Показано, что сопротивление гетероструктуры с ростом температуры экспоненциально уменьшается по закону R0=~5.52·10-2exp(0.672/2kT). В то же время напряжение отсечки Ucut, характеризующее высоту потенциального барьера p-n-перехода, с увеличением температуры уменьшается линейно (Ucut=-1.59 T+534). Установлено, что протекание тока через структуру обусловлено генерационно-рекомбинационным механизмом во всем исследованном интервале температур.
  1. Попов А.А., Шерстнев В.В., Яковлев Ю.П. // ЖТФ. 1997. Т. 23. Вып. 18. С. 12--18
  2. Попов А.А., Шерстнев В.В., Яковлев Ю.П. // ЖТФ. 1998. Т. 24. Вып. 2. С. 72--79
  3. Стоянов Н.Д., Журтанов Б.Е., Астахова А.П., Именков А.Н., Яковлев Ю.П. // ФТП. 2003. Т. 37. Вып. 8. С. 996--1009
  4. Астахова А.П., Гребенщикова Е.А., Иванов Э.В., Именков А.Н., Куницина Е.В., Пархоменко Я.А., Яковлев Ю.П. // ФТП. 2004. Т. 38. Вып. 12. С. 1466--1472
  5. Данилова Т.Н., Журтанов Б.Е., Именков А.Н., Яковлев Ю.П. // ФТП. 2005. Т. 39. Вып. 11. С. 1281--1311
  6. Стоянов Н.Д., Журтанов Б.Е., Именков А.Н., Астахова А.П., Михайлова М.П., Яковлев Ю.П. // ФТП. 2007. Т. 41. Вып. 7. С. 878--882
  7. Воронина Т.И., Джуртанов Б.Е., Лагунова Т.С., Сиповская М.А., Шерстнев В.В., Яковлев Ю.П. // ФТП. 1998. Т. 32. Вып. 3. С. 278--284
  8. Mikhailova M.P. Handbook Series on Semiconductor Parameters / Ed by M. Levinshtein, S. Rumyantsev, M. Shur. London: World Scientific, 1999. Vol. 2, P. 180--205
  9. Айдаралиев М., Зотова Н.В., Карандашов С.А., Матвеев Б.А., Ременный М.А., Стусь Н.М., Талалакин Г.Н. // ФТП, 2001. Т. 35. Вып. 12. С. 1431--1433
  10. Кижаев С.С., Молчанов С.С., Зотова Н.В., Гребенщикова Е.А., Яковлев Ю.П., Hulicius E., Simicek T., Melichar K., Pangrac J. // Письма в ЖТФ. Т. 27. Вып. 22. С. 66--72
  11. Krier A. Final report EPSRC. 2004
  12. Абакумов В.Н., Перель В.И., Ясиевич И.Н. Безызлучательная рекомбинация в полупроводниках. СПб.: ПИЯФ, 1997. 375 с
  13. Айдаралиев М., Зотова Н.В., Карандашев С.А., Матвеев Б.А., Ременный М.А., Стусь Н.М., Талалакин Г.Н. // ФТП. 2001. Т. 35. Вып. 5. С. 619--625
  14. Пасынков В.В., Чиркин Л.К. Полупроводниковые приборы. М.: Высш. школа, 1987. 479 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.