Вышедшие номера
Многослойные зеркала Cr/Sc с улучшенным отражением для диапазона "окна прозрачности воды"
Полковников В.Н.1, Гарахин С.А.1, Квашенников Д.C.1, Малышев И.В.1, Салащенко Н.Н.1, Свечников М.В.1, Смертин Р.М.1, Чхало Н.И.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: polkovnikov@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 22 апреля 2020 г.
В окончательной редакции: 22 апреля 2020 г.
Принята к печати: 22 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 15 июля 2020 г.

Изучены свойства многослойных зеркал Cr/Sc, синтезированных при пониженном значении электрической мощности на магнетронном разряде. Найдены модельные структурные параметры таких зеркал. Получен рекордный коэффициент отражения 21% на длине волны 3.12 nm. Ключевые слова: микроскопия, "водное окно", многослойные зеркала, рентгеновское излучение, магнетронное напыление.
  1. Малышев И.В., Пестов А.Е., Полковников В.Н., Салащенко Н.Н., Торопов М.Н., Чхало Н.И. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2019. N 1. С. 3--13
  2. Berglund M., Rymell L., Peuker M., Wilhein T., Hertz H.M. // J. Microscopy. 2000. Vol. 197. N 3. P. 268--273
  3. Hanssen E., Knoechel C., Dearnley M., Dixon M.W.A., Gros M.L., Larabell C., Tilley L. // J. Structur. Biol. 2012. Vol. 177. P. 224--232
  4. Артюков И.А., Асадчиков В.Е., Виноградов А.В., Касьянов Ю.С., Кондратенко В.В., Серов Р.В., Федоренко А.И., Юлин С.А. // Квантовая электроника. 1995. Т. 22. N 9. С. 951--954
  5. Ejima T., Ishida F., Murata H., Toyoda M., Harada T., Tsuru T., Hatano T., Yanagihara M., Yamamoto M., Mizutani H. // Opt. Express. 2010. Vol. 18. N 7. P. 7203--7209
  6. Шамов E.A., Прохоров К.А., Салащенко Н.Н. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1996. N 9. С. 60--63
  7. Salashchenko N.N., Shamov E.A. // Optics Commun. 1997. Vol. 134. N 1. P. 7--10
  8. Kuhlmann T., Yulin S., Feigl T., Kaiser N., Gorelik T., Kaiser U., Richter W. // Appl. Opt. 2002. Vol. 41. N 10. P. 2048--2052
  9. Ghafoor N., Eriksson F., Mikhaylushkin A.S., Abrikosov I.A., Gullikson E.M., Kressig U., Beckers M., Hultman L., Birch J. // J. Mater. Res. 2009. Vol. 24. N 01. P. 79--95
  10. Eriksson F., Johansson G.A., Hertz H.M., Gullikson E.M., Kreissig U., Birch J. // Opt. Lett. 2003. Vol. 28. P. 2494--2496
  11. Schafers F., Yulin S., Feigl T., Kaiser N. // Proc. SPIE. 2003. Vol. 5188. P. 138--145
  12. Burcklen C., de Rossi S., Meltchakov E., Dennetiere D., Capitanio B., Polack F., Delmotte F. // Opt. Lett. 2017. Vol. 42. N 10. P. 1927--1930
  13. Вайнер Ю.А., Пестов А.Е., Прохоров К.А., Салащенко Н.Н., Фраерман А.А., Чернов В.В., Чхало Н.И. // ЖЭТФ. 2006. Т. 130. Вып. 3. С. 401--408
  14. Bibishkin M.S., Chkhalo N.I., Fraerman A.A., Pestov A.E., Prokhorov K.A., Salashchenko N.N., Vainer Yu.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 2005. Vol. 543. P. 333--339
  15. Забродин И.Г., Закалов Б.А., Каськов И.А., Клюенков Е.Б., Полковников В.Н., Салащенко Н.Н., Стариков С.Д., Суслов Л.А. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2013. N 7. С. 37--39
  16. Электронный ресурс. Режим доступа: http://kcsni.nrcki.ru/ pages/main/sync/beamlines/phaza/index.shtml
  17. Schafers F., Mertins H.-Ch., Gaupp A., Gudat W., Mertin M., Packe I., Schmolla F., DiFonzo S., Soullie G., Jark W., Walker R.P., Le Cann X., Nyholm R., Eriksson M. // Appl. Opt. 1999. Vol. 38. N 10. P. 4074--4088
  18. Svechnikov M., Pariev D., Nechay A., Salashchenko N., Chkhalo N., Vainer Y., Gaman D. // J. Appl. Cryst. 2017. Vol. 50. P. 1428--1440

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.