Вышедшие номера
Метод поворота для измерения толщины Z-срезов одноосных кристаллов
Паранин В.Д.1
1Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет), Самара, Россия
Email: vparanin@mail.ru
Поступила в редакцию: 17 марта 2015 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2015 г.

Предложен метод поляризационного измерения толщины Z-срезов одноосных кристаллов, заключающийся в измерении пропускания системы "поляризатор-кристалл-анализатор" при различных углах поворота кристалла. Разработано математическое описание метода на основе оптики одноосных кристаллов и аппарата матриц Джонса. Сделана оценка погрешности измерения по формуле геометрической суммы, которая составила не более ±0.6 mum. С использованием кристаллов Z-среза конгруэнтного ниобата лития с номинальными толщинами 514 и 554 mum проведена экспериментальная апробация метода и даны практические рекомендации по его использованию.