Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Визуализация дефектов отдельных компонент тонких композитных элементов с одномерной дифракционной структурой
1Гродненский государственный университет им. Янки Купалы, Гродно, Беларусь 
Email: amlialikov@grsu.by
Поступила в редакцию: 22 апреля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2015 г.
Рассмотрены особенности реализации методов раздельного контроля качества отдельных компонент тонких композитных дифракционных элементов, имеющих одномерную периодическую структуру. Предложены и проанализированы различные оптические схемы визуализации дефектов отдельных компонент. На примере композитного дифракционного элемента, представляющего собой набор оптических компонент, в виде тонкой прозрачной пластины с поверхностями, имеющими определенную кривизну, и одномерной периодической микроструктурой, показана возможность раздельной визуализации дефектов подложки и периодической структуры. Представлены интерференционные картины качества тонкой подложки и периодической структуры композитного элемента, представляющего собой амплитудную решетку, записанную в тонком светочувствительном слое, расположенном между двумя стеклянными подложками.
- Муслимов Э.Р. // Научно-технический вестник СПбГУ ИТМО. 2011. N 1. С. 1--6
- Васильев С.В., Медведков О.И., Королев И.Г., Божков А.С., Курков А.С., Дианов Е.М. // Квант. электрон. 2005. Т. 35. N 12. С. 1085--1103
- Денисюк И.Ю., Бурункова Ю.Э., Тибилов А.С., Семьина С.А., Булгакова В.Г. // Оптический журнал. 2013. Т. 80. N 3. С. 97--91
- Viegas D., Carvalho J.P., Coelho L., Santos J.L., Araujo F.M., Frazao O. // IEEE Photonics Technology Letters. 2010. Vol. 22, N 20. P. 1533--1535
- Liao C.R., Wang D.N. // Photonic Sensors. 2013. Vol. 3. N 2. P. 97--101
- Тарасов Л.В. Физика процессов в генераторах когерентного оптического излучения. М.: Радио и связь, 1981. 440 с
- Веселаго В.Г. // УФН. 1967. Т. 92. С. 517--526
- Liu N., Guo H., Fu L., Kaiser S., Schweizer H., Giessen H. // Nature Materials. 2008. Vol. 7. P. 31--37
- Ушанов В.И., Чалдышев В.В., Преображенский В.В., Путято М.А., Семягин Б.Р. // ФТТ. 2013. Т. 47. N 8. С. 1043--1047
- Казак А.А., Мельникова Е.А., Толстик А.Л., Могильный В.В., Станкевич А.И. // Письма в ЖТФ. 2008. Т. 34. N 20. С. 1--7
- Valyukh S., Chigrinov V., Kwok H.S., Arwin H. // Optics Express. 2012. Vol. 20, N 14. P. 15 209--15 221
- Кабанова О.С., Мельникова Е.А., Оленская И.И., Толстик А.Л. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. N 14. С. 30--35
- Оптический производственный контроль / Под ред. Д. Малакары. М.: Машиностроение, 1985. 400 с
- Malacara D., Servin M., Malacara Z. Interferogram Analysis for Optical Testing. Boca Raton: Taylor \& Francis Group, 2005. 568 p
- Ляликов А.М. // Квант. электрон. 2010. Т. 40. N 12. С. 1141--1145
- Ляликов А.М. // Опт. и спектр. 2008. Т. 105. N 1. С. 136--139
- Игнатьев П.С., Индукаев К.В., Лопарев А.В., Осипов П.А. // Оптический журнал. 2011. Т. 78. N 1. С. 26--31
- Ляликов А.М. // Письма в ЖТФ. 2015. Т. 41. Вып. 13. С. 56--63
- Кольер Р., Беркхарт К., Лин Л. Оптическая голография. М.: Мир, 1973. 686 с
- Бекетова А.К., Белозеров А.Ф., Березкин А.Н. и др. Голографическая интерферометрия фазовых объектов. Л.: Наука, 1979. 232 с
- Волоконно-оптические датчики. Вводный курс для инженеров и научных работников / Под ред. Э. Удда. М.: Техносфера, 2008. 520 с
- Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М.: Мир, 1982. 504 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
