Вышедшие номера
Определение рекомбинационных параметров полупроводникового материала с помощью метода Прони
Быковский Ю.А.1, Колосов К.В.1, Зуев В.В.1, Кирюхин А.Д.1, Расмагин С.И.1
1Московский государственный инженерно-физический институт (технический университет), Москва, Россия
Поступила в редакцию: 13 октября 1997 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1999 г.

Использован обобщенный метод Прони для обработки экспериментальных данных релаксационного типа. Метод позволяет разделять составной релаксационный процесс на элементарные составляющие (затухающие экспоненты) и систематически отслеживать изменение их параметров при внешнем воздействии, что открывает дополнительные каналы информации о порождающем физическом процессе. Метод применен к обработке данных спада фотопроводимости сложнолегированного компенсированного кремния в интервале температур 100-300 K после импульсного возбуждения лазерным излучением с lambda=1.06 mum в микроволновом поле. Получено значение энергии залегания уровня 0.17±0.01 eV, что хорошо согласуется с энергией комплекса кислород-вакансия.