При записи голографических решеток в фоторефрактивных кристаллах вблизи границ возможно существование неоднородных упругих и электростатических полей. В работе изучена структура таких полей для полуограниченных пьезокристаллов классов симметрии 3m и 4mm в случае, когда нормаль к границе совпадает с осью Y, а вектор решетки - с осью Z. Экспериментально исследована дифракция волноводных TE-мод планарного волновода Ti : LiNbO₃ : Cu на сформированной в подложке голографической решетке, в результате чего получено подтверждение неоднородности наведенных упругих и электрических полей.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.