ЖТФ, 2010, том 80, выпуск 5

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Структура и термоэлектрические свойства CrSi2, полученного методом кристаллизации из раствора-расплава в олове

Ф.Ю.Соломкин, В.К.Зайцев, Н.Ф.Картенко, А.С.Колосова, А.Т.Бурков, О.Н.Урюпин, А.А.Шабалдин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН,
194021 Санкт-Петербург, Россия
e-mail: f.solomkin@mail.ioffe.ru

(Поступило в Редакцию 15 октября 2009 г.)

Исследованы термоэлектрические свойства микрокристаллов CrSi2, полученных методом кристаллизации из раствора-расплава в олове. Обнаружена корреляция между параметрами элементарной ячейки кристаллов CrSi2, их термоэлектрическими свойствами и режимом охлаждения раствора-расплава.

 PDF версия (172Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2010, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster