"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Влияние температуры эмиттера и потенциалов ионизации атомов эмиттера на процесс полевого испарения
Голубев О.Л.1, Логинов М.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: O.Golubev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 8 февраля 2006 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2006 г.

С помощью времяпролетного атомного зонда и полевого эмиссионного микроскопа изучалось полевое испарение Ni, нихрома и карбида W при различных температурах T эмиттера. Рост T эмиттера не влияет на заряд испаряемых ионов, понижение заряда происходит вследствие соответствующего снижения величины напряженности испаряющего поля Fev. Если при изменении T величина Fev не меняется, остается неизменным и заряд ионов. При полевом испарении неоднокомпонентных эмиттеров, содержащих элементы с различными потенциалами ионизации, все элементы испаряются при одной и той же величине Fev как в виде атомарных, так и в виде кластерных ионов. Механизм такого испарения состоит в том, что первичное испарение более легко ионизуемого элемента приводит к понижению энергии связи более трудно ионизуемого до такой величины, когда и его испарение становится возможным при той же величине поля. PACS: 79.70.+q, 83.60.Np
  1. Nakamura S., Kuroda T. // Surf. Sci. 1969. Vol. 17. P. 346--358
  2. Barofsky D.F., Muller E.W. // Surf. Sci. 1968. Vol. 10. P. 177--185
  3. Vanselov R., Schmidt W.A. // Zs. Naturfor. 1966. Bd 21a. S. 1690--1696
  4. Мюллер Э., Цонь Т. Автоионная микроскопия. М.: Металлургия. 360 с
  5. Энергия разрыва химических связей, потенциалы ионизации и сродство к электрону. Справочник. М.: Наука, 1974. 351 с
  6. Тегарт В. Электролитическое и химическое полирование металлов. М.: ИЛ, 1957. 184 с
  7. Логинов М.В., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. Вып. 13. С. 1--9
  8. Фоменко В.С. Эмиссионные свойства материалов. Справочник. Киев: Наукова думка. 1981. 338 с
  9. Шредник В.Н. Рост кристаллов. М.: Наука, 1980. Т. 13. С. 68--79
  10. Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация, полевое испарение. М.: Наука, 1980. 224 с
  11. Forbes R.D. // Surf. Sci. 1982. Vol. 116. P. L195--L201
  12. Nakamura S. // Electron Microscopy. 1966. Vol. 15. P. 279--287
  13. Блашенков Н.М., Лаврентьев Г.Я., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 12. С. 50--55
  14. Kellog G.L. // Surf. Sci. 1982. Vol. 120. P. 5320--5329
  15. Kingham D.R. // Surf. Sci. 1982. Vol. 116. P. 273--301
  16. Самсонов Г.В., Винницкий И.М. Тугоплавкие карбиды. М.: Металлургия, 1976. 558 с
  17. Sha W., Chang L., Smith G.D.V. et al. // Surf. Sci. 1992. Vol. 266. P. 416--423
  18. Tsong T.T. // Phys. Rev. B. 1984. Vol. 30. N 9. P. 4946--4961

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.