"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Полевая десорбционная микроскопия трехгранного угла < 111> перестроенного вольфрамового острия
Павлов В.Г.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: vpavlov@ms.ioffe.rssi.ru
Поступила в редакцию: 14 декабря 2005 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2006 г.

Методами полевой электронной микроскопии, полевой десорбционной микроскопии непрерывного режима и микроскопии высокотемпературного полевого испарения изучена структура поверхности в области трехгранного угла < 111>, получающегося при прогреве вольфрамового острия в электрическом поле. Форма и структура поверхности зависят от температуры, поля и времени. Угол образован тремя плоскостями 011, на его вершине сохраняется плоскость (111) в форме треугольника или шестиугольника с неупорядоченными скоплениями атомов. Ребра между гранями 011 представляют собой длинные и узкие плоскости 112 с продольными или поперечными ступенями. Если нет полевого испарения, то ребра и угол постепенно обостряются и приближаются к моноатомным. Полевое испарение с угла или микровыступов на ребрах приводит к расширению ребер и появлению на них поперечных ступеней. Объяснение происходящих изменений формы и структуры поверхности основано на рассмотрении конкурирующих процессов поверхностной диффузии, кристаллического роста в электрическом поле и полевого испарения. PACS: 79.70.+q, 83.60.Np
  • Swanson L.W., Crouser L.C. // J. Appl. Phys. 1960. Vol. 40. N 12. P. 4741
  • Crewe A.V., Eggenberger D.N., Wall J., Welter L.M. // Rev. Sci. Instrum. 1968. Vol. 39. N 4. P. 576
  • Паутов Д.Н. // ЖТФ. 1971. Т. 41. Вып. 9. С. 1999
  • Шредник В.Н. // Микроэлектроника. 1997. Т. 26 (2). С. 97
  • Голубев О.Л., Шредник В.Н. // ЖТФ. 2005. Т. 75. Вып. 9. С. 111
  • Wengelnik H., Neddermeyer H. // J. Vac. Sci. Techn. A. 1990. Vol. 8. N 1. P. 438
  • Cross G., Schirmeisen A., Stalder A., Crutter P., Tschudy M., Durig U. // Phys. Rev. Lett. 1988. Vol. 80. N 21. P. 4685
  • Павлов В.Г., Рабинович А.А., Шредник В.Н. // ЖТФ. 1975. Т. 45. Вып. 10. С. 2126
  • Benjamin M., Jenkins R.O. // Proc. Roy. Soc. (London) A. 1940. Vol. 176. P. 262
  • Becker I.A. // Bell. System Techn. J. 1951. Vol. 30. P. 907
  • Bettler P.C., Charbonnier F.M. // Phys. Rev. 1960. Vol. 85. P. 85
  • Сокольская И.Л. // Поверхностная диффузия и растекание / Под ред. Я.Е. Гегузина. М.: Наука, 1969. С. 108
  • Fu T.-Y., Cheng L.-C., Nien C.-H., Tsong T.T. // Phys. Rev. B. 2001. Vol. 64. P. 113--401
  • Dou J., Shang W., Chen Z. // J. Vac. Sci. Tech. B. 2004. Vol. 22. N 2. P. 597
  • Szczepkowicz A., Bryl R. // Phys. Rev. B. 2005. Vol. 71. P. 113--416
  • Jenkins R.O. // Rep. Progr. Phys. 1943. Vol. 9. P. 177
  • Вентова И.Д., Фурсей Г.Н. // ЖТФ. 1977. Т. 47. Вып. 4. С. 844
  • Drechsler M. // Zs. Elektrochemie. 1954. B. 58. S. 327
  • Bernatskii D.P., Pavlov V.G. // Proc. 9-=SUP=-th-=/SUP=--=SUB=--=/SUB=- Int. Vac. Microelectron. Conf. St. Petersburg, 1996. P. 47
  • Павлов В.Г. // Автоионная и автоэлектронная микроскопии и спектроскопия: история, достижения, современное состояние, перспективы / Под ред. А.Л. Суворова. М.: Академпринт, 2003. С. 315
  • Власов Ю.А., Павлов В.Г., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 1986. Т. 12. С. 548
  • Vlasov J.A., Golubev O.L., Shrednik V.N. // J. de Phys. 1988. Vol. 49. C6. Supp. 11. P. 131
  • Павлов В.Г. // ФТТ. 2005. Т. 47. N 11. С. 2091
  • Herring C. // Structure and properties of solid surfaces. Chicago: Univ. Press, 1953. P. 5
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.