Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2025, выпуск 6 » Статья стр. 1208
<<<>>>
Оптические свойства пористого кремния, облученного наносекундным иттербиевым лазером
Рыбина Н.В.1, Рыбин Н.Б.1, Хилов В.С.2, Трегулов В.В.2, Иванов А.И.2, Айыыжы К.О.3, Мельник Н.Н.4
1Рязанский государственный радиотехнический университет, Рязань, Россия
2Рязанский государственный университет им. С.А. Есенина, Рязань, Россия
3Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва, Россия
4Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Email: nikolay.rybin@yandex.ru
Поступила в редакцию: 27 декабря 2024 г.
В окончательной редакции: 7 февраля 2025 г.
Принята к печати: 14 февраля 2025 г.
Выставление онлайн: 19 мая 2025 г.
PDF версия
Показано, что с помощью изменения параметров облучения импульсным наносекундным иттербиевым волоконным лазером можно влиять на информационно-корреляционные, фрактальные и оптические свойства поверхности пленок пористого кремния. С помощью анализа спектров отражения и комбинационного рассеяния света установлена взаимосвязь между параметрами лазерного облучения пористых пленок и их оптическими характеристиками. Исследуемые полупроводниковые структуры могут быть актуальны для создания антиотражающих слоев кремниевых солнечных элементов, а также химических датчиков. Ключевые слова: пористый кремний, наносекундные лазерные импульсы, морфология, взаимная информация, фрактальный анализ, комбинационное рассеяние света, спектры отражения поверхности.
  1. Handbook of porous silicon. Edited by Leigh Canham (Springer International Publishing AG, part of Springer Nature, 2018), 1578 p. DOI: 10.1007/978-3-319-71381-6
  2. М.С. Русецкий, Н.М. Казючиц, Г.Д. Ивлев. Сб. науч. тр. III Междунар. науч. конф. (Минск, Республика Беларусь, 2008), с. 150
  3. Л.М. Сорокин, В.И. Соколов, А.П. Бурцев, А.Е. Калмыков, Л.В. Григорьев. Письма в ЖТФ, 33 (24), 69 (2007)
  4. Н.В. Рыбина, Н.Б. Рыбин, В.С. Хилов, В.В. Трегулов, Ю.Н. Горбунова. ЖТФ, 94 (5), 817 (2024). DOI: 10.61011/JTF.2024.05.57821.24-24
  5. С.В. Заботнов, Д.А. Куракина, Ф.В. Кашаев, А.В. Скобёлкина, А.В. Колчин, Т.П. Каминская, А.В. Хилов, П.Д. Агрба, Е.А. Сергеева, П.К. Кашкаров, М.Ю. Кириллин, Л.А. Головань. Квант. электрон., 50 (1), 69 (2020). DOI: 10.1070/QEL17208
  6. Н.Н. Мельник, В.В. Трегулов, В.С. Хилов, Н.В. Рыбина, Н.Б. Рыбин, Д.С. Косцов. Кр. cообщ. по физике ФИАН, 11, 52 (2024). DOI: 10.3103/S1068335624600785
  7. D. Hahnel, C. Golla, M. Albert, Th. Zentgraf, V. Myroshnychenko, J. Forstner, C. Meier. Light Sci. Appl., 12, 97 (2023). DOI: 10.1038/s41377-023-01134-1
  8. G. Korotchenkov. Porous Silicon: From Formation to Application (London: CRC Press, 2016), ISBN: 9780367575328
  9. H. Han, Zh. Huang, W. Lee. Nano Today, 9 (3), 271 (2014). DOI: 10.1016/j.nantod.2014.04.013
  10. А. Efimova, A. Eliseev, V. Georgobiani, M. Kholodov, A. Kolchin, D. Presnov, N. Tkachenko, S. Zabotnov, L. Golovan, P. Kashkarov. Opt. Quant. Electron., 48 (4), 232 (2016). DOI: 10.1007/s11082-016-0495-0
  11. А.В. Алпатов, С.П. Вихров, Н.В. Вишняков, С.М. Мурсалов, Н.Б. Рыбин, Н.В. Рыбина. ФТП, 50 (1), 23 (2016)
  12. С.П. Вихров, Т.Г. Авачева, Н.В. Бодягин, Н.В. Гришанкина, А.П. Авачев. ФТП, 46 (4), 433 (2012)
  13. Б.М. Смирнов. Физика фрактальных кластеров (Наука, Гл. ред. Физматлит, М., 1991), 136 с
  14. А. Karperien. FracLac Advanced User's Manual (Charles Sturt University, Australia, 2005), 36 p. URL: https://www.researchgate.net/publication/238733659 (accessed: 25.04.2024)
  15. W.J. Salcedo, F.R. Fernandez, J.C. Rubimc. Brazilian J. Phys., 29 (4), 751 (1999)
  16. V. Lavrentiev, J. Vacik, V. Vorlicek, V. Vosecek. Phys. Status Solidi B, 247 (8), 2022 (2010). DOI: 10.1002/pssb.200983932
  17. A.T. Voutsas, M.K. Hatalis, J. Boyce, A. Chiang. J. Appl. Phys. 78, 6999 (1995). DOI: 10.1063/1.360468
  18. K. Shrestha, V.C. Lopes, A.J. Syllaios, C.L. Littler. J. Non Cryst. Solids, 403 (1), 80 (2014). DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2014.07.013
  19. F. Cerdeira, T.A. Fjeldly, M. Cardona. Phys. Rev. B, 9 (10), 4344 (1974)
  20. M. Yang, D. Huang, P. Hao. J. Appl. Phys., 75 (1), 651 (1994)
  21. Qiu Li, Wei Qiu, Haoyun Tan, Jiangang Guo, Yilan Kang. Opt. Lasers Eng., 48 (11), 1119 (2010)
  22. Г.К. Мусабек, Д. Ермухамед, З.А. Сулейменова, Р.Б. Асилбаева, В.А. Сиваков, И.Н. Завестовская, В.Ю. Тимошенко. Кр. сообщ. по физике ФИАН, 10, 23 (2019)
  23. Sh. Kato, Y. Kurokawa, Y. Watanabe, Y. Yamada, A. Yamada, Y. Ohta, Y. Niwa, M. Hirota. Nanosc. Res. Lett., 8, 216 (2013). DOI: 10.1186/1556-276X-8-216
  24. Е.В. Бармина, Э. Стратакис, К. Фотакис, Г.А. Шафеев Квант. электрон., 40 (11), 1012 (2010)
  25. J. Bonse, S. Hohm, S.V. Kirner, A. Rosenfeld. J. Kruger. IEEE J. Selected Topics Quant. Electron., 23 (3), 9000615 (2017)
  26. С.А. Ахманов, В.И. Емельянов, Н.И. Коротеев, В.Н. Семиногов. УФН, 147 (4), 675 (1985)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme