О корректном применении преломляющих линз для микроскопии с высоким пространственным разрешением на источниках синхротронного излучения четвертого поколения
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, ИССЛЕДОВАНИЯ ПО ГЕНЕРАЦИИ И ИСПОЛЬЗОВАНИЮ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, FWGM-2022-0006
Хомяков Ю.В.
1, Ракшун Я.В.
1,2, Чернов В.А.
11Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия
2Сибирский государственный университет телекоммуникации и информатики, Новосибирск, Россия
Email: yu.v.khomyakov@yandex.ru, ya.v.rakshun@inp.nsk.su, v.a.chernov@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 25 апреля 2024 г.
Принята к печати: 25 апреля 2024 г.
Выставление онлайн: 1 июля 2024 г.
Представлен концепт ондуляторной станции источника синхротронного излучения 4-го поколения для когерентной наноскопии и нанотомографии в жестком рентгеновском диапазоне на базе преломляющих линз. Описаны сценарии эксперимента и режимы работы оптики, позволяющие варьировать масштаб исследуемой области в диапазоне ~0.1-100 μm и достигать пространственного разрешения ~10 nm. Предложены решения, нивелирующие недостатки бериллиевых линз. Ключевые слова: рентгеновская микроскопия, когерентная визуализация, синхротронное излучение, рентгеновская преломляющая оптика.
- F. Pfeiffer. Nature Photonics, 12 (1), 9 (2018). DOI: 10.1038/s41566-017-0072-5
- Н.Л. Попов, И.А. Артюков, А.В. Виноградов, В.В. Протопопов. УФН, 190 (8), 820 (2020). DOI: 10.3367/UFNr.2020.05.038775 [N.L. Popov, I.A. Artyukov, A.V. Vinogradov, V.V. Protopopov. Phys. Usp., 63 (8), 766 (2020). DOI: 10.3367/UFNe.2020.05.038775]
- Th. Roth, L. Helfen, J. Hallmann, L. Samoylova, P. Kwasniewski, B. Lengeler, A. Madsen. SPIE, 9207, 920702 (2014). DOI: 10.1117/12.2061127
- I. Lyatun, P. Ershov, I. Snigireva, A. Snigirev. J. Synchrotron Radiation, 27 (1), 44 (2020). DOI: 10.1107/S1600577519015625
- U. Johansson, D. Carbone, S. Kalbfleisch, A. Bjorling, M. Kahnt, S. Sala, T. Stankevic, M. Liebi, A. Rodriguez Fernandez, B. Bring, D. Paterson, K. Th nell, P. Bell, D. Erb, C. Weninger, Z. Matej, L. Roslund, K. Angstrem hnberg, B. Norsk Jensen, H. Tarawneh, A. Mikkelsenc, U. Vogtd. J. Synchrotron Radiation, 28 (6), 1935 (2021). DOI: 10.1107/S1600577521008213
- H.C.N. Tolentino, M.M. Soares, C.A. Perez, F.C. Vicentin, D.B. Abdala, D. Galante, V. de C. Teixeira, D.H.C. de Araujo, H. Westfahl Jr. J. Physics: Conf. Series, 849 (1), 012057 (2017). DOI: 10.1088/1742-6596/849/1/012057
- S.J. Alloo, K.S. Morgan, D.M. Paganin, K.M. Pavlov. Scientif. Reports, 13 (1), 5424 (2023). DOI: 10.1038/s41598-023-31574-z
- K.M. Pavlov, H.(Th.) Li, D.M. Paganin, S. Berujon, H. Rouge-Labriet, E. Brun. Phys. Rev. Appl., 13 (5), 054023 (2020). DOI: 10.1103/PhysRevApplied.13.054023
- Zh. Qiao, X. Shi, Yu. Yao, M.J. Wojcik, L. Rebuffi, M.J. Cherukara, L. Assoufid. Optica, 9 (4), 391 (2022). DOI: 10.1364/OPTICA.453748
- P. Thibault, M. Dierolf, O. Bunk, A. Menzel, F. Pfeiffer. Ultramicroscopy, 109 (4), 338 (2009). DOI: 10.1016/j.ultramic.2008.12.011
- H. Wang, S. Berujon, J. Herzen, R. Atwood, D. Laundy, A. Hipp, K. Sawhney. Scientif. Reports, 5 (1), 8762 (2015). DOI: 10.1038/srep08762
- M. Dierolf, A. Menzel, P. Thibault, Ph. Schneider, C.M. Kewish, R. Wepf, O. Bunk, F. Pfeiffer. Nature, 467 (7314), 436 (2010). DOI: 10.1038/nature09419
- А.В. Акимов, Ю.С. Актершев, В.В. Анашин, А.В. Андрианов, О.В. Анчугов, М.В. Арсентьева, П.А. Бак, Г.Н. Баранов, А.М. Барняков, А.М. Батраков, О.В. Беликов, Л.Л. Белова, Е.А. Бехтенев, В.И. Бухтияров, А.В. Богомягков, В.М. Борин, Д.Б. Буренков, Д.С. Винник, В.Н. Волков, Е.С. Вонда, К.М. Горчаков, К.А. Гришина, Д.С. Гуров, С.М. Гуров, Г.А. Гусев, Б.А. Довженко, В.Л. Дорохов, Е.Н. Дементьев, А.И. Ерохин, А.А. Жариков, К.В. Жиляев, А.А. Жуков, А.Н. Журавлев, К.В. Золотарев, Н.А. Золотухина, Я.В. Зубавичус, С.Е. Карнаев, Г.В. Карпов, К.Ю. Карюкина, В.Д. Кашкин, В.А. Киселев, В.В. Кобец, Е.С. Котов, В.Я. Корчагин, А.А. Краснов, В.С. Крапивин, С.А. Крутихин, В.С. Кузьминых, Г.Н. Кулипанов, И.В. Купцов, Г.Я. Куркин, А.Е. Левичев, Е.Б. Левичев, Д.В. Лешонок (Дорохова), П.В. Логачев, Ю.И. Мальцева, Ма Сяо Чао, Н.А. Мезенцев, О.И. Мешков, Н.В. Митянина, И.А. Морозов, А.А. Морсин, С.А. Никитин, Д.А. Никифоров, В.К. Овчар, И.Н. Окунев, А.В. Павленко, О.А. Павлов, А.Ю. Пахомов, В.М. Петров, С.Л. Пивоваров, П.А. Пиминов, А.В. Полянский, Д.Н. Пурескин, Д.Ф. Решетов, В.В. Репков, Е.А. Ротов, Т.В. Рыбицкая, С.Л. Самойлов, И.К. Седляров, А.М. Семенов, Д.В. Сеньков, Л.Е. Сердаков, Ш.Р. Сигнатулин, С.В. Синяткин, М.А. Скамароха, А.А. Старостенко, А.Г. Трибендис, А.В. Уткин, М.Г. Федотов, А.С. Цыганов, А.Д. Чернякин, И.Н. Чуркин, С.В. Шиянков, Д.А. Шведов, В.А. Шкаруба, К.С. Штро, Н.С. Щегольков. Технологическая инфраструктура сибирского кольцевого источника фотонов "СКИФ", 2, 98 (2022)
- V.A. Shkaruba, A.V. Bragin, A.A. Volkov, A.I. Erokhin, A.V. Zorin, F.P. Kazantsev, P.V. Kanonik, N.A. Mezentsev, A.N. Safronov, A.A. Sedov, O.A. Tarasenko, S.V. Khrushchev. Phys. Part. Nucl. Lett., 20 (4), 904 (2023). DOI: 10.1134/S1547477123040623
- N.I. Chkhalo, M.N. Drozdov, E.B. Kluenkov, A.Ya. Lopatin, V.I. Luchin, N.N. Salashchenko, N.N. Tsybin, L.A. Sjmaenok, V.E. Banine, A.M. Yakunin. J. Micro/Nanolithography, MEMS, MOEMS, 11 (2), 021115 (2012). DOI: 10.1117/1.jmm.11.2.021115
- T. Tanaka. J. Synchrotron Radiation, 28 (4), 1267 (2021). DOI: 10.1107/S1600577521004100
- E.I. Glushkov, I.V. Malyshev, E.V. Petrakov, N.I. Chkhalo, Yu.V. Khomyakov, Ya.V. Rakshun, V.A. Chernov, I.P. Dolbnya. J. Surf. Investig., 17 (1), 233 (2023). DOI: 10.1134/S1027451023070133
- R. Pleshkov, N. Chkhalo, V. Polkovnikov, M. Svechnikov, M. Zorina. J. Appl. Crystallography, 54 (6), 1747 (2021). DOI: 10.1107/S160057672101027X
- V.A. Chernov, I.A. Bataev, Ya.V. Rakshun, Yu.V. Khomyakov, M.V. Gorbachev, A.E. Trebushinin, N.I. Chkhalo, D.A. Krasnorutskiy, V.S. Naumkin, A.N. Sklyarov, N.A. Mezentsev, A.M. Korsunsky, I.P. Dolbnya. Rev. Scientif. Instruments, 94 (1), 013305 (2023). DOI: 10.1063/5.0103481
- Th. Bigault, E. Ziegler, Ch. Morawe, R. Hustache, J.-Y. Massonnat, G. Rostaing. Crystals, Multilayers, and Other Synchrotron Optics. --- SPIE, 5195, 12 (2003). DOI: 10.1117/12.515980
- H. Liang, W.F. Sheng, H. Shi, Y.M. Yang, L.R. Zheng. Synchrotron Radiation, 21, 315 (2014). DOI: 10.18429/JACoW-MEDSI2020-TUPA08
- J. Patommel, S. Klare, R. Hoppe, S. Ritter, D. Samberg, F. Wittwer, A. Jahn, K. Richter, Ch. Wenzel, J.W. Bartha, M. Scholz, F. Seiboth, U. Boesenberg, G. Falkenberg, Ch.G. Schroer. Appl. Phys. Lett., 110 (10), 101103 (2017). DOI: 10.1063/1.4977882
- V.P. Nazmov, E.F. Reznikova, A. Somogyi, Ju. Mohr, V. Saile. Design Microfabrication of Novel X-Ray Optics II. --- SPIE, 5539, 235 (2004). DOI: 10.1117/12.562615
- K.S. Morgan, D.M. Paganin, K.K.W. Siu. Appl. Phys. Lett., 100 (12), 124102 (2012). DOI: 10.1063/1.3694918
- M.-Ch. Zdora, P. Thibault, F. Pfeiffer, I. Zanette. J. Appl. Phys., 118 (11), 113105 (2015). DOI: 10.1063/1.4931145
- K. Klementiev, R. Chernikov. Advances in Computational Methods for X-ray Optics III. --- SPIE, 9209, 60 (2014). DOI: 10.1117/12.2061400
- S. Bajt, M. Prasciolu, H. Fleckenstein, M. Domaracky, H.N. Chapman, A.J. Morgan, O. Yefanov, M. Messerschmidt, Ya. Du, K.T. Murray, V. Mariani, M. Kuhn, S. Aplin, K. Pande, P. Villanueva-Perez, K. Stachnik, J.P.J. Chen, A. Andrejczuk, A. Meents, A. Burkhardt, D. Pennicard, Xi. Huang, H. Yan, E. Nazaretski, Yo. Chu, Ch.E. Hamm. Light: Sci. Applicat., 7 (3), 17162 (2018). DOI: 10.1038/lsa.2017.162
- Ф.А. Дарьин. Развитие метода конфокальной рентгеновской микроскопии для исследования микровключений в различные геологические матрицы (Дисс. канд. хим. наук. Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, 2022), 141 с.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.