Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Получение неодносвязных магнитных паттернированных мезочастиц с помощью электронной литографии
Российский научный фонд, 21-72-10176
1Институт физики микроструктур РАН, Афонино, Кстовский р-он, Нижегородская обл., Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: tatarsky@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 4 мая 2024 г.
В окончательной редакции: 4 мая 2024 г.
Принята к печати: 4 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 1 июля 2024 г.
В настоящее время паттернированные магнитные структуры вызывают большой интерес в связи с их потенциальным применением в спинтронике в качестве генераторов СВЧ излучения и элементов памяти. В частности, перспективной системой являются двумерные решетки ферромагнитных дисков, в которых реализуется вихревое распределение намагниченности. Разработаны новые методы электронной литографии и ионного травления, позволяющие с высокой точностью получить частицы заданной формы и размеров. Выполнено исследование микроструктуры и магнитных состояний неодносвязных магнитных частиц, сформированных из пленок пермаллоя методами аналитической и лоренцевой просвечивающей электронной микроскопии. Экспериментальные результаты демонстрируют хорошее согласие с данными, полученными микромагнитным моделированием. Ключевые слова: электронная литография, ионное травление, лоренцева просвечивающая электронная микроскопия.
- R.P. Cowburn, D.K. Koltsov, A.O. Adeyeye, M.E. Welland, D.M. Tricker. Phys. Rev. Lett., 83, 1042 (1999). DOI: 10.1103/PhysRevLett.83.1042
- K.L. Metlov, Y. Lee. Appl. Phys. Lett., 92, 11 (2008). DOI: 10.1063/1.2898888
- Д.А. Татарский, В.Л. Миронов, А.А. Фраерман. ЖЭТФ, 142, 366 (2023). DOI: 10.31857/S0044451023030082
- K.S. Buchanan, P.E. Roy, M. Grimsditch, F.Y. Fradin, K.Yu. Guslienko, S.D. Bader, V. Novosad. Nat. Phys., 1, 172 (2005). DOI: 10.1038/nphys173
- К.Л. Метлов. Письма в ЖЭТФ, 118, 95 (2023). DOI: 10.31857/S1234567823140057
- D.A. Tatarskiy, A.N. Orlova, E.V. Skorokhodov, I.Yu. Pashenkin, V.L. Mironov, S.A. Gusev. JMMM, 590, 171580 (2024). DOI: 10.1016/j.jmmm.2023.171580
- M. Schneider, H. Hoffmann, J. Zweck. Appl. Phys. Lett., 77, 2909 (2000). DOI: 10.1063/1.1320465
- S.A. Nepijko, G. Schonhense. Appl. Phys. A, 96, 671 (2009). DOI: 10.1007/s00339-009-5131-4
- M. Schneider, H. Hoffmann, J. Zweck. Appl. Phys. Lett., 79, 3113 (2001). DOI: 10.1063/1.1410873
- P. Vavassori, N. Zaluzec, V. Metlushko, V. Novosad, B. Ilic, M. Grimsditch. Phys. Rev. B, 69, 214404 (2004). DOI: 10.1103/PhysRevB.69.214404
- С.А. Гусев, Д.А. Татарский, А.Ю. Климов, В.В. Рогов, Е.В. Скороходов, М.В. Сапожников, Б.А. Грибков, И.М. Нефёдов, А.А. Фраерман. ФТТ, 55, 435 (2013)
- С.Н. Вдовичев, Б.А. Грибков, С.А. Гусев, В.Л. Миронов, Д.С. Никитушкин, А.А. Фраерман, В.Б. Швецов. ФТТ, 48, 1791 (2006)
- S. Ma, C. Con, M. Yavuz, Bo Cui. Nanoscale Res. Lett., 6 (1), 446 (2011). DOI: 10.1186/1556-276X-6-446
- B. Bilenberg, M. Sch ler, P. Shi, M.S. Schmidt, P. B ggild, M. Fink, C. Schuster, F. Reuther, C. Gruetzner, A. Kristensen. J. Vac. Sci. Technol. B, 24, 1776 (2006). DOI: 10.1116/1.2210002
- S.M. Lewis, G.A. DeRose, H.R. Alty, M.S. Hunt, N. Lee, J.A. Mann, R. Grindell, A. Wertheim, L. De Rose, A. Fernandez, C.A. Muryn, G.F.S. Whitehead, G.A. Timco, A. Scherer, R.E.P. Winpenny. Adv. Func. Mater., 32, 2202710 (2022). DOI: 10.1002/adfm.202202710
- R. Andok, K. Vutova, A. Bencurova, I. Kostic, E. Koleva. J. Phys.: Conf. Ser., 2443, 012006 (2023). DOI: 10.1088/1742-6596/2443/1/012006
- K. Kato, Y. Liu, Sh. Murakami, Y. Morita, T. Mori, Nanotech., 32, 485301 (2021). DOI: 10.1088/1361-6528/ac201b
- I. Zailer, J.E.F. Frost, V. Chabasseur-Molyneux, C.J.B. Fordand, M. Pepper. Semicond. Sci. Technol., 11, 1235 (1996). DOI: 10.1088/0268-1242/11/8/021
- H. Yang, A. Jin, Q. Luo, J. Li, Ch. Gu, Z. Cui. Microelectron. Engineer., 85, 814 (2008). DOI: 10.1016/j.mee.2008.01.006
- P. Schnauber, R. Schmidt, A. Kaganskiy, T. Heuser, M. Gschrey, S. Rodt, S. Reitzenstein. Nanotech., 27, 195301 (2016). DOI: 10.1088/0957-4484/27/19/195301
- D.A. Tatarskiy, N.S. Gusev, S.A. Gusev. Ultramicroscopy, 253, 113822 (2023). https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2023.113822
- Д.Г. Реунов, Н.С. Гусев, М.С. Михайленко, Д.В. Петрова, И.В. Малышев, Н.И. Чхало. ЖТФ, 93 (7), 1032 (2023). DOI: 10.21883/JTF.2023.07.55765.105-23
- R. Heilbronner. Tectonophysics, 212, 351 (1992). DOI: 10.1016/0040-1951(92)90300-U
- B. Zang, K. Suzuki, A. Liu. Mater. Characterization, 142, 577 (2018)
- A. Vansteenkiste, J. Leliaert, M. Dvornik, M. Helsen, F. Garcia-Sanchez, B. Van Waeyenberg. AIP Adv., 4, 107133 (2014). DOI: 10.1063/1.4899186
- S. McVitie, M. Cushley. Ultramicroscopy, 106, 423 (2006). DOI: 10.1016/j.ultramic.2005.12.001
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
