Volumes and Issues
Home » Optics and Spectroscopy » Year 2022, issue 14 » Article p. 2156
<<<
Focusing capillar and porous X-ray optics
Russian version
DOI: 10.21883/EOS.2022.14.54002.19-21
Lider V. V.1
1Shubnikov Institute of Crystallography “Crystallography and Photonics”, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia
PDF
The paper discusses the principles and capabilities of X-ray focusing capillar and porous optics. Special attention is paid to polycapillar optics, confocal technique of X-ray fluorescence analysis, as well as wide-angle "lobster eye" optics. Keywords: X-rays, focusing, capillar, porous optics, "lobster eye" optics.
  1. Ice G.E., Budai J.D., Pang J.W.L. // Science. 2011. V. 334. N 6060. P. 1234
  2. Schmahl G., Rudolph D., Schneider G., Guttmann P., Niemann B. // Optik. 1994. V. 97. N 4. P. 181
  3. Guttmann P., Zeng X., Feser M., Heim S., Yun W., Schneider G. // J. Phys.: Conf. Ser. 2009. V. 186. N 1. P. 012064
  4. Howells M., Jacobsen C., Warwick T., Bos A. // Principles And Applications of Zone Plate X-Ray Microscopes. Science of Microscopy. NY.: Springer, 2007. V. 2. P. 835
  5. Wolter H. // Ann. Phys. 1952. B. 10. S. 94
  6. Wolter H. // Ann. Phys. 1952.B. 10. S. 286
  7. Bavdaz M., Collon M., Beijersbergen M., Wallace K., Wille E. // X-ray Opt. Instrum. 2010. V. 2010. ID 295095
  8. Priedhorsky W.C., Peele A.G., Nugene K.A. //Mon. Not. Roy. Astron. Soc. 1996. V. 279. N 3. P. 733
  9. Dabagov S.B. // UFN. 2003. V. 173. N 10. P. 1083 (in Russian)
  10. Furuta K., Nakayama Y., Shoji M., Kaigawa R., Hanamoto K., Nakano H., Hosokawa Y. // Rev. Sei. Instrum. 1993. V. 64. N 1. P. 135
  11. Wang L., Rath B.K., Gibson W.M., Kimball J.C., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 1996. V. 80. N 7. P. 3628
  12. Chen G.J., Cerrina F., Voss K.F., Kim K.H., Brown F.C. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1994. V. 347. N 1-3. P. 407
  13. Ullrich J.B., Kovantsev V.E., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 1993. V. 14. N 10. P. 5933
  14. Arkad'ev V.A., Kolomijtsev A.I., Kumakhov M.A., Ponomarev I.Yu., Khodeev I.A., Chertov Yu.P., Shakhparonov I.M. // UFN. 1989. V. 157. N 3. P. 529 (in Russian)
  15. MacDonald C.A., Gibson W.M. // X Ray Spectrom. 2003. V. 32. P. 258
  16. Suparmi Cari, Wang L., Wang H., Gibson W.M., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 2001. V. 90. N 10. P. 5363
  17. Storizhko V.E., Ilyashenko M.V., Molodkin V.B., Gaevsky A.Yu., Denisenko V.L., Denisenko O.I., Vershinsky S.A. // Uspekhi fiz. met. 2010. V. 11. P. 1. (in Russian)
  18. Bilderback D.H. // X-Ray Spectrom. 2003. V. 32. P. 195
  19. Charnley N.R., Potts P.J., Long J.V.P. // J. Anal. At. Spectrom. 1994. V. 9. N 11. P. 1185
  20. Zeng X., Duewer F., Feser M., Huang C., Lyon A., Tkachuk A., Yun W. // Appl.Opt. 2008. V. 47. N 13. P. 2376
  21. Bjeoumikhov A., Bjeoumikhova S., Wedell R. // Part. Part. Syst. Charact. 2005. V. 22. N 6. P. 384
  22. De Nolf W., Janssens K. // Surf. Interface Anal. 2010. V. 42. N 5. P. 411
  23. Snigireva I., Snigirev A. // J. Environ. Monit. 2006. V. 8. N 1. P. 33
  24. Thiel D.J., Bilderback D.H., Lewis A., Stern E.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1992. V. 317. N 3. P. 597
  25. Bilderback D.H., Hoffman S.A., Thiel D.J. // Science. 1994. V. 263.N 5144. P. 201
  26. Hoffman S.A., Thiel D.J., Bilderback D.H. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1994. V. 347. N 1-3. P. 384
  27. Vincze L., Janssens K., Adams F., Rindby A., Engstrijm P., Riekel C. // Adv. X-Ray Anal. 1999. V. 41. P. 252
  28. Balaic D.X., Barnea Z., Nugent K.A., Garrett R., Varghese R.F., Wilkins S.W. // J. Synchrotron Rad. 1996. V. 3. P. 289
  29. Chen J., Wu C., Tian J., Li W., Yu S., Tian Y. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. N 23. P. 233104
  30. Sorrentino A., Nicolas J., Valcarcel R., Chichon F.J. // J. Synchrotron Rad. 2015. V. 22. N 4. P. 1112
  31. Huang R., Szebenyi T., Pfeifer M., Woll A., Smilgies D.-M., Finkelstein K., Dale D., Wang Y., Vila-Comamala J., Gillilan R., Cook M., Bilderback D.H. // J. Phys.: Conf. Ser. 2014. V. 493. P. 012034
  32. Engstrom P., Larsson S., Rindby A., Stocklassa B. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1989. V. 36. N 2. P. 222
  33. Merkle A., Gelb J., Lavery L. // Microsc. Microanal. 2013. V. 19. N S2. P. 1314
  34. Muller M., Mey T., Niemeyer J., Mann K. // Opt. Express. 2014. V. 22. N 9. P. 23489
  35. Benk M., Bergmann K., Schafer D., Wilhein T. // Opt. Lett. 2008. V. 33. N 20. P. 2359
  36. Vincze L., Somogyi A., Osan J., Vekemans B., Torok S., Janssens K., Adams F. // Anal. Chem. 2002. V. 74. N 5. P. 1128
  37. Bartoll J., Rohrs S., Erko A., Firsov A., Bjeoumikhov A., Langhoff N. // Spectrochim. Acta B. 2004. V. 59. N 10-11. P. 1587
  38. Limburg K.E., Lochet A., Driscoll D., Dale D.S., Huang R. // X-ray Spectrom. 2007. V. 36. N 5. P. 336
  39. Lopes R.T., Lima I., Pereira G.R., Perez C.A. // Pramana. 2011. V. 76. N 2. P. 271
  40. Mroczka R., Zukocinski G., Lopucki R. //Proc. SPIE. 2017. V. 10235. P. 10235OE
  41. Lind Q.C., De Nolf W., Janssen K., Salbu B. // J. Environ. Radioact. 2013. V. 123. P. 63
  42. Wang J., Chen-Wiegart Y., Wang J. // Nat. Commun. 2014. V. 5. Art. 4570
  43. Merkle A., Gelb J. // Microscopy Today. 2013. V. 21. N 2. P. 10
  44. Tan C., Daemi S.R.,Heenan T. M.M., Iacoviello F., Leach A., Rasha L., Jervis R., Brett D., Shearing P. // J. Electrochem. Soc. 2020. V. 167.N 6. P. 060512
  45. Li R., Cornaby S., Kamperman M., Smilgiers D.M. // J. Synchrotron Rad. 2011. V. 18.N 5. P. 697
  46. Sirenko A.A., Kazimirov A., Huang R., Bilderback D.H., O'Malley S., Gupta V., Bacher K., Ketelsen L.J.P., Ougazzaden A. // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. N 6. P. 063512
  47. Li F., Liu Z., Sun T. // J. Appl. Cryst. 2016. V. 49. N 2. P. 627
  48. Kazimirov A., Bilderback, Huang R., Sirenko A., Ougazzaden A. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2004. V. 37. N 4. P. L1
  49. Pantell R.H., Chung P.S. // IEEE J. Quant. Electron. 1978. V. 14. N 9. P. 694
  50. Bushuev V.A., Orudzhaliev M.N., Kuzmin R.N. // ZhTF. 1989. V. 59. N 11. P. 153
  51. Kumakhov M.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1990. V. 48. N 1-4. P. 283
  52. Kumakhov M.A., Komarov F.F. // Phys. Rep. 1990. V. 191. N 5. P. 289
  53. Kumakhov M.A. // X-ray Spectrom. 2000. V. 29. N 5. P. 343
  54. Gao N., Janssens K. Polycapillary X-ray optics/ in: X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, Wiley, Chichester, 2004. P. 89
  55. MacDonald C.A. // X-Ray Opt. Instrum. 2010. V. 2010. Art. 867049
  56. Bolotokov A., Zaitsev D., Lyutsau A., Shcherbakov A. // Analitika. 2012. N 4 (in Russian). P. 14
  57. Beloglazov V., Langhoff N., Tuchin V., Bjeoumikhov A., Bjeoumikhova Z., Wedel R., Skibina N., Skibina Y.S., Chainikov M. // J. X-Ray. Sci. Technol. 2005. V. 13. N 4. P. 179
  58. MacDonald C.A., Petruccelli J.C. // J. Phys.: Conf. Ser. 2016. V. 776. P. 012001
  59. Wegrzynek D., Mroczka R., Markowicz A., Chinea-Cano E., Bamford S. // X-Ray Spectrom. 2008. V. 37. N 6. P. 635
  60. Sun T., Liu Z., Li Y., Wang G., Zhu G., Ding X., Xu Q., Liu H., Luo P., Pan Q., Lin X., Teng Y. // Spectrochim. Acta B. 2009. V. 64. N 11-12. P. 1194
  61. MacDonald C.A., Gibson W.M. // Proc. SPIE. 1995. V. 2519. P. 186
  62. Sun T., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 2013. V. 113. P. 053104
  63. Sun T.,MacDonald C.A. // J. X-Ray Sci. Technol. 2015. V. 23. N 2. P. 141
  64. Bashir S., Tahir S., MacDonald C., Petruccelli J.C. // Opt. Commun. 2016. V. 369. P. 28
  65. Owens S.M., Ullrich J.B., Ponomarev I., Carter D.C., Sisk R.C., Ho J.X., Gibson W.M. // Proc. SPIE.1996. V. 2859. P. 200
  66. MacDonald C.A., Owens S.M., Gibson W.M. // J. Appl. Cryst. 1999. V. 32. N 26. P. 160
  67. Gao N., Ponomarev I., Xiao Q.F., Gibson W.M., Carpenter D.C. //Appl. Phys. Lett.1996. V. 69. N 11. P. 1529
  68. Gao N., Ponomarev I.,Xiao Q.F., Gibson W.M., Carpenter D.C. // Appl. Phys. Lett. 1997. V. 71. N 23. P. 3441
  69. Yan Y., Gibson W.M. // Adv. X-Ray Anal. 2002. V. 45. P. 298
  70. Alfeld M., Pedroso J.V., van E. Hommes M., Van der Snickt G., Tauber G., Blaas J., Haschke M., Erler K., Dikb J., Janssens K. // J. Anal. At. Spectrom. 2013. V. 8. N 5. P. 760
  71. Bronk H., Rhrs S., Bjeoumikhov A., Langhoff N., Schmalz J., Wedell R., Gorny H.-E., Herold A., Waldschlager U. // Fresenius J. Anal. Chem. 2001. V. 371. N 3. P. 307
  72. Haschke M., Rossek U., Tagle R., Waldschlager U. // Adv. X-Ray Anal. 2012. V. 55. P. 286
  73. Trentelman K., Bouchard M., Ganio M., Namowicz C., Patterson C.S., Walton M. // X-Ray Spectrom. 2010. V. 39. N 3. P. 159
  74. Trentelman K., Janssens K., van der Snickt G., Szafran Y., Woollett A.T., Dik J. // Appl. Phys. A. 2015. V. 121. P. 801
  75. Martins A., Albertson C., McGlinchey C., Dik J. // Herit. Sci. 2016. V. 4. P. 22
  76. Martins A., Coddington J., Geert van der Snickt, van Driel B., McGlinchey C., Dahlberg D., Janssens K., Dik J. // Herit. Sci. 2016. V. 4. P. 33
  77. Duivenvoorden J.R., Kayhko A., Kwakkel E., Dik J. // Herit. Sci. 2017. V. 5. P. 6
  78. Hrnjica M., A. Hagen-Petera G., Bircha T., Barfod G.H., Sindbak S.M., Lesher C.E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 478. P. 11
  79. Vincze L., Wei F., Proost K., Vekemans B., Janssens K., He Y., Yan Y., Falkenberg G. // J. Anal. At. Spectrom. 1997. V. 17.N 3. P. 177
  80. Hofmann A., Freinberg-Truffas C.A., Osens S.M., Padiyar S.D., MacDonald C.A., // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1997. V. 133. N 1-4. P. 145
  81. Proost K., Vincze L., Janssens K., Gao N., Bulska E., Schreiner M., Falkenberg G. // X Ray Spectrom. 2003. V. 32. N 3. P. 215
  82. Tomik B., Chwiej J., Szczerbowska-Boruchowska M., Lankosz M.,Wojcik S., Adamek D.,Falkenberg G., Bohic S., Simionovici A.,Stegowski Z., Szczudlik A. // Neurochem. Res. 2006. V. 31. N 3. P. 321
  83. Sun T., Liu Z., He B., We S.i, Xie Y., Liu T., Hu T., Ding X. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2007. V. 574. N 2. P. 285
  84. Sun T., Zhang M., Liu Z., Zhang Z., Li G., Ma Y., Du X., Jia Q., Chen Y., Yuan Q., Huang W., Zhu P., Ding X. // J. Synchrotron Rad. 2009. V. 16. N 1. P. 116
  85. Surowka A.D., Wrobel P., Adamek D., Radwanska E., Szczerbowska-Boruchowska M. // Metallomics. 2015. V. 7. N 11. P. 1522
  86. Gibson W.M., Kumakhov M.A. // Proc. SPIE. 1993. V. 1736. P. 172
  87. Nikolaev V.I., Chizhova E.V. // Nauchnoe priborostroenie. 2011. V. 21. N 2. P. 3
  88. Ding X., Gao N., Havrilla G. // Proc. SPIE. 2000. V. 4144. P. 174
  89. Nakano K., Tsuji K. // J. Anal. At. Spectrom. 2010. V. 25. N 4. P. 562
  90. Sun T., Ding X. // Rev. Anal. Chem. 2015. V. 34. P. 45
  91. Woll A.R., Agyeman-Budu D., Choudhury S., Coulthard I., Finnefrock A.C., Gordon R., Hallin E., Mass J. // J. Phys.: Conf. Ser. 2014. V. 493. P. 12028.
  92. Chen G., Chu S., Sun T., Sun X., Zheng L., An P., Zhu J., Wu S., Du Y., Zhang J. // J. Synchrotron Rad. 2017. V. 24.N 5. P. 1000
  93. Hampai D., Cherepennikov Yu.M., Liedl A., Cappuccio G., Capitolo E., Iannarelli M., Azzutti C., Gladkikh Yu.P., Marcellia A., Dabagov S.B. // JINST. 2018. V. 13. N 4. P. C04024
  94. Bauters S., Tack P., Rudloff-Grund J.H., Banerjee D., Longo A., Vekemans B., Bras W., Brenker F.E., Van Silfhout R., Vincze L. // Anal. Chem. 2018. V. 90. N 3. P. 2389
  95. Tsuji K., Nakano K. // X-Ray Spectrom. 2007. V. 36. N 3. P. 145
  96. Nakazawa T., Tsuji K. // X-Ray Spectrom. 2013. V. 42. N 5. P. 374
  97. Kanngiesser B., Malzer W., Rodrigues A.F., Reiche I. // Spectrochim. Acta B. 2005. V. 60. N 1. P. 41
  98. Xiaoyan L., Zhihong W., Tianxi S., Qiuli P., Xunliang D. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2008. V. 266. N 11. P. 2638
  99. Mantouvalou I., Lange K., Wolff T., Grotzsch D., Luhl L., Haschke M., Hahn O., Kanngiesser B. // J. Anal. At. Spectrom. 2010. V. 25. N 4. P. 554
  100. Laclavetine K., Ager F.J., Arquillo J., Respaldiza M.A., Scrivano S. // Microchem. J. 2016. V. 125. P. 62
  101. it Xiang Z.J., Meng Z.Y., Liu Z.G., Pan K., Zhao W.G., Zhou P., Li Y. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2020. V. 770. P. 012054
  102. Ingerle D., Swies J., Iro M., Wobrauschek P., Streli C., Hradil K. // Rev. Sci. Instrum. 2020. V. 91. N 12. P. 123107
  103. Kanngiesser B., Malzer W., Mantouvalou I., Sokaras D., Karydas A.G. // Appl. Phys. A. 2012. V. 106. N 2. P. 325
  104. Tsuji K., Nakano K. // J. Anal. At. Spectrom. 2011. V. 26. N 2. P. 305
  105. Senkbeil T., Mohamed T., Simon R., Batchelor D., Di Fino A., Aldred N., Clare A.S., Rosenhahn A. // Anal. Bioanal. Chem. 2016. V. 408. N 5. P. 1487
  106. Seim C., Laurenze-Landsberg C., Schroder-Smeibidl B., Mantouvalou I., de Boerd C., Kanngiesser B. // J. Anal. At. Spectrom. 2014. V. 29. N 8. P. 1354
  107. v Smit v Z., Janssens K., Proost K., Langus I. // Nucl. Instr. Methods Phys. Res B. 2004. V. 219-220. N 1. P. 35
  108. Kanngiesser B., Malzer W., Reiche I. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2003. V. 211. N 2. P. 259
  109. Woll A.R., Bilderback D. H., Gruner S., Gao N., Huang R., Bisulca C., Mass J. // Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2005. V. 852. P. 281
  110. Woll A. R., Mass J., Bisulca C., Cushman M., Griggs C., Wazny T., Ocon N. // Studies in Conservation. 2008. V. 53. N 2. P. 93
  111. Malzer W. // The Rigaku J. 2006. V. 23. P. 40
  112. Reiche I., Muller K., Eveno M., Itie E., Menu M. // J. Anal. At. Spectrom. 2012. V. 27. N 10. P. 1715
  113. Reiche I., M?ller K., Mysak E., Eveno M., Mottin B. // Appl. Phys. A. 2015. V. 121. N 3. P. 903
  114. Nakano K., Tabe A., Shimoyama S., Tsuji K. // Microchem. J. 2016. V. 126. P. 496
  115. Reiche I., Eveno M., Mulle K.r, Calligaro T., Pichon L., Laval E., Mysak E., Mottin B. // Appl. Phys. A. 2016. V. 122. N 11. P. 947
  116. Zhou P., Liu Z., Ma X., Meng Z., Xiang Z., Wang X., Sun T., Lin X., Li Y. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 464. P. 111
  117. Kanngiesser B., Mantouvalou I., Malzer W., Wolff T., Hahn O. // J. Anal. At. Spectrom. 2008. V. 23. N 6. P. 814
  118. Nakano K., Tsuji K. // X-Ray Spectrom. 2009. V. 38. N 5. P. 446
  119. Yi L., Qin M., Wang K., Lin X., Peng S., Sun T., Liu Z. //Appl. Phys. A. 2016. V. 122. N 9. P. 856
  120. Nakazawa T., Tsuji K. // X-Ray Spectrom. 2013. V. 42. N 3. P. 123
  121. Qin M., Y L.i, Wang J., Han Y., Sun T., Liu Z. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2017. V. 269. P. 012033
  122. Nakano K., Akioka K., Doi T., Arai M., Takabe H., Tsuji K. // ISIJ International. 2013. V. 53. N 11. P. 1953
  123. Akioka K., Nakazawa T., Doi T., Arai M., Tsuji K. // Powder Diffr. 2014. V. 29. N 2. P. 151
  124. Menzel M., Schlifke A., Falk M., Janek J., Froba M., Fittschen U.E.A. // Spectroc. Acta B. 2013. V. 85. P. 62
  125. Baker A.M., Cai Y., Ziegelbauer J.M., Agyeman-Budu D., Woll A., Kongkanand A., Mukundan R., Borup R.L. // ECS Trans. 2019. V. 92.N 8. P. 107
  126. Tsuji K., Yonehara T., Nakano K. // Anal. Sci. 2008. V. 24. N 1. P. 99
  127. Perez R. D., Sanchez H. J., Perez C. A., Rubio M. // Radiat. Phys. Chem. 2010. V. 79. N 2. P. 195
  128. McCormick N., Velasquez V., Finney L., Vogt S., Kelleher S.L. // PLoS ONE. 2010. V. 5. P. e11078
  129. Rauwolf M., Turyanskaya A., Roschger A., Prost J., Simon R., Scharf O., Radtke M., Schoonjans T., Guilherme Buzanich A., Klaushofer K., Wobrauschek P., Hofstaetter J. G., Roschgerb P., Streli C. // J. Synchrotron Rad. 2017. V. 24. N 1. P. 307
  130. Vincze L., Vekemans B., Brenker F.E., Falkenberg G., Rickers K., Somogyi A., Kersten M., Adams F. // Anal. Chem. 2004. V. 76. N 22. P. 6786
  131. Schmitz S., M?ller A., Wilke M., Malzer W., Kanngiesser B., Bousquet R., Berger A., Schefer S. // Eur. J. Mineral. 2009. V. 21. N 5. P. 927
  132. Jiang B., Zhu Y., Sun T., Liu Z., Li F., Sun X., Wang Y., Ding K. // Spectrosc. Lett. 2017. V. 50. N 10. P. 545
  133. Choudhury S., Swanston T., Varney T.L., Cooper D.M.L., George G.N., Pickering I.J., Grimes V., Bewer B., Coulthard I. // Archaeometry. 2016. V. 58. N S1. P. 207
  134. Choudhury S., Agyeman-Budu D.N., Woll A.R., Swanston T., Varney T.L., Cooper D.M.L., Hallin E., George G.N., Pickering I.J., Coulthard I. // J. Anal. At. Spectrom. 2017. V. 32. N 3. P. 527
  135. Hampai D., Liedl A., Cappuccio G., Capitolo E., Iannarelli M., Massussi M., Tucci S., Sardella R., Sciancalepore A., Polese C., Dabagov S.B. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2017. V. 402.P. 274
  136. Nakano K., Nishi C., Otsuki K., Nishiwaki Y., Tsuji K. //Anal. Chem. 2011. V. 83. N 9. P. 3477
  137. Emoto S., Otsuki K., Nakano K., Tsuji K. // Adv. X-Ray Anal. 2013. V. 56. P. 217
  138. Sun X., Zhang X., Wang X., Wang Y., Li Y., Peng S., Shao S., Liu Z., Shang H., Sun T. // X-Ray Spectrom. 2020. V. 49. N 2. P. 267
  139. Fittschen U.E.A., Falkenberg G. //Anal. Bioanal. Chem.2011. V. 400. N 6. P. 1743
  140. Schmitz S., Brenker F.E., Schoonjans T., Vekemans B., Silversmit G., Vincze L., Burghammer M., Riekel C. // Geochim. Cosmochim. Acta 2009. V. 73. N 6. P. 5483
  141. Mazel V., Reiche I., Busignies V., Walter P., Tchoreloff P. // Talanta. 2011. V. 85. N 1. P. 556
  142. Mihucz V.G., Silversmit G., Szaloki I., de Samber B., Schoonjans T., Tatar E., Vincze L., Virag I., Yao J., Zaray G. // Food Chem. 2010. V. 121. N 1. P. 290
  143. Giacconi R., Rossi B. // J. Geophys. Res. 1960. V. 65. P. 773
  144. Wille E., Bavdaz M. // Acta Astronautica. 2015. V. 116. N 1. P. 50
  145. Saha T.T., McClelland R.S., Zhang W.W. // Proc. SPIE. 2014. V. 9144. P. 914418
  146. DeRoo C.T., Allured R., Cotroneo V., Hertz E., Marquez V., Reid P.B., Schwartz E.D., Vikhlinin A.A., Trolier-McKinstry S., Walker J., Jackson T.N., Liu T.N., Tendulkar M. // J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 2018. V. 4. N 1. P. 019004
  147. Wallace K., Bavdaz M., Collon M., Beijersbergen M., Kraft S., Fairbend R., S?guy J., Blanquer P., Graue R., Kampf D. // Proc. SPIE. 2006. V. 10567. P. 105670U
  148. Beijersbergen M., Kraft S., Bavdaz M., Lumb D., Gunther R., Collon M., Mieremet A., Fairbend R., Peacock A. // Proc. SPIE. 2004. V. 5539. P. 104
  149. Wille E., Wallace K., Bavdaz M., Collon M.J., Gunther R., Ackermann M., Beijersbergen M.W., Riekerink M.O., Blom M., Lansdorp B., de Vreede L. // Proc. SPIE. 2017. V. 10565. P. 105652L
  150. Westergaard N.J., Ferreira D.D.M., Massahi S. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2017. V. 873. N 21. P. 5
  151. Bavdaz M., Lumb D., Peacock A., Beijersbergen M., Kraft S. // Proc. SPIE. 2004. V. 5488. P. 829
  152. Chapman H.N., Nugent K.A., Wilkins S.W., Davis T.J. // J. X-Ray Sci. Technol. 1990. V. 2. N 2. P. 117
  153. Laprade B., Cochran R.C., Langevin F., Dykstra M.W. // Proc SPIE. 1997. V. 3173. P. 474
  154. Willingale R., Fraser G.W., Brunton A.N., Martin A.P. // Exp. Astron. 1998. V. 8. N 4. P. 281
  155. Beijersbergen M.W., Bavdaz M., Peacock A.J., Tomaselli E., Fraser G., Brunton A., Flyckt E., Krumrey M.K., Souvorov A. // Proc. SPIE. 1999. V. 3765. P. 452
  156. Collon M., Beijersbergen M., Wallace K., Bavdaz M., Fairbend R., Seguy J., Schyns E., Krumrey M., Freyberg M. // Proc. SPIE. 2007. V. 6688. P. 668812
  157. Wallace K., Collon M., Beijersbergen M., Oemrawsingh S., Bavdaz M., Schyns E. // Proc. SPIE. 2007. V. 6688. P. 66881C
  158. Price G.J., Brunton A.N., Beijersbergen M.W., Fraser G.W., Bavdaz M., Boutot J.P., Fairbend R., Flyckt S.O., Peacock A., Tomaselli E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2002. V. 490. N 1-2. P. 276
  159. Gotz D., Osborne J., Cordier B., Paul J., Evans P., Beardmore A., Martindale A., Willingale R., O'Brien P., Basa S., Rossin C., Godet O., Webb N., Greiner J., Nandra K., Meidinger N., Perinati E., Santangelo A., Mercier K., Gonzalez F. // Proc. SPIE. 2014. V. 9144. P. 914423
  160. Ezoe Y., Koshiishi M., Mita M., Mitsuda K., Hoshino A., Ishisaki Y., Yang Z., Takano T., Maeda R. // Appl. Opt. 2006. V. 45. N 35. P. 8932
  161. Ezoe Y., Koshiishi M., Mita M., Mitsuda K., Hoshino A., Ishisaki Y., Takano T., Maeda R. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2007. V. 579. N 2. P. 817
  162. Ezoe Y., Mitsuishi I., Takagi U., Koshiishi M., Mitsuda K., Yamasaki N.Y., Ohashi T., Kato F., Sugiyama S., Riveros R.E., Yamaguchi H., Fujihira S., Kanamori Y., Morishita K., Nakajima K., Maeda R. // Microsyst. Technol. 2010. V. 16. N 8-9. P. 1633
  163. Ezoe Y., Miyoshi Y., Kasahara S., Kimura T., Ishikawa K., Fujimoto M., Mitsuda K., Sahara H., Isobe N., Nakajima H., Ohashi T., Nagata H., Funase R., Ueno M., Branduardi-Raymont G. // J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 2018. V. 4. N 4. P. 046001
  164. Mitsuishi I., Ezoe Y., Takagi U., Mita M., Riveros R., Yamaguchi H., Kato F., Sugiyama S., Fujiwara K., Morishita K., Nakajima K.,Fujihira S., Kanamori Y., Yamasaki N., Mitsuda K., Maeda R. // Proc. SPIE. 2009. V. 7360. P. 736040
  165. Riveros R. E., Yamaguchi H., Mitsuishi I., Takagi U., Ezoe Y., Kato F., Sugiyama S., Yamasaki N., Mitsuda K. // Appl. Optics. 2010. V. 49. N 18. P. 3511
  166. Nakajima K., Fujiwara K., Pan W., Okuda H. // Nat. Mater. 2005. V. 4. N 1. P. 47
  167. Schmidt W.H.K. // Nucl.Instr.Meth. 1975. V. 127. P. 285
  168. Angel J.R.P. // Astrophys. J. 1979. V. 233. P. 364
  169. Chapman H.N., Nugent K.A., Wilkins S.W. // Rev. Sci. Instr. 1991. V. 62. N 6. P. 1542
  170. Kaaret P., Geissbuhler P. // Proc. SPIE. 1991. V. 1546. P. 82
  171. it Kaaret P., Geissbuhler P., Chen A., Glavinas E. // Appl. Opt. 1992. V. 31. N 34. P. 7339
  172. Peele A.G., Nugent K.A., Rode A.V., Gabel K., Richardson M.C., Strack R., Siegmund W. // Appl. Opt.1996. V. 35. N 22. P. 4420
  173. Su L., Li W., Wu M., Su Y.,Guo C., Ruan N., Yang B., Yan F. // Appl. Opt. 2017. V. 56. N 22. P. 6267
  174. Tamagawa T., Uchiyama K., Otsubo R., Yuasa T., Zhou Y., Mihara T.,Ezoe Y., Numazawa M., Ishi D., Fukushima A., Suzuki H., Uchino T., Sakuta S., Ishikawa K., Enoto T., Sakamoto T. // J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 2020. V. 6.N 2. P. 025003
  175. Wiza J.L. //Nucl. Instr. Meth. 1979. V. 162. P. 587
  176. Grubsky V., Gertsenshteyn M., Shoemaker K., Jannson T. // Proc. SPIE. 2007. V. 6688. P. 66880P
  177. Willingale R., Pearson J.F., Martindale A., Feldman C.H., Fairbend R., Schyns E., Petit S., Osborne J. P., O'Brien P. T. // Proc. SPIE. 2016. V. 9905. P. 99051Y
  178. Mutz J.-L., Bonnet O., Fairbend R., Schyns E., Seguy J. // Proc SPIE. 2007. V. 6479. P. 64790F
  179. Peng S., Wei F., Guo Y., Ye Y. // Opt. Eng. 2019. V. 58. N 9. P. 093101
  180. Svendsen S., Knudsen E.B., Blake S., Oosterbroek T., Jegers A.S.,Ferreira D.D.M., Prod'hommec T., Short B.t, Willingale R., O'Brien P. // Proc. SPIE. 2019. V. 11119. P. 111191R
  181. Peele A.G., Irving T.H.K., Nugent K.A., Mancini D.C., Christenson T.R., Petre R., Brumby S.P., Priedhorsky W.C. // Rev. Sci. Instrum. 2001. V. 72. N 3. P. 1843
  182. Peele A.G., Vora K.D., Shew B.-Y., Loechl B., Harvey E.C., Hayes J.P. // Microsyst. Technol. 2007. V. 13. N 5. P. 511
  183. Fraser G.W., Brunton A.N., Bannister N.P., Pearson J.F., Ward M., Stevenson T.J., Watson D.J., Warwick B., Whitehead S., O'Brian P., White N., Jahoda K., Black K., Hunter S.D., Deines-Jones P., Priedhorsky W.C., Brumby S.P., Borozdin K.N., Vestrand T., Fabian A.C., Nugent K.A., Peele A.G., Irving T.H.K., Price S., Eckersley S., Renouf I., Smith M., Parmar A.N., McHardy I.M., Uttley P., Lawrence A. // Proc. SPIE. 2002. V. 4497. P. 115
  184. Branduardi-Raymont G., Sembay S.F., Eastwood J.P., Sibeck D.G., Abbey A., Brown P., Carter J.A., Carr C.M., Forsyth C., Kataria D., Kemble S., Milan S.E., Owen C.J., Peacocke L., Read A.M., Coates A.J., Collier M.R., Cowley S.W.H., Fazakerley A.N., Fraser G.W., Jones G.H., Lallement R., Lester M., Porter F.S., Yeoman T.K. // Exp. Astron. 2012. V. 33. N 2. P. 403
  185. Collier M.R., Scott Porter F., Sibeck D.G., Carter J.A., Chiao M.P.,Chornay D.J., Cravens T.E., Galeazzi M., Keller J.W., Koutroumpa D., Kujawski J., Kuntz K., Read A.M., Robertson I.P., Sembay S., Snowden S.L., Thomas N., Uprety Y., Walsh B.M. // Rev. Sci. Instrum. 2015. V. 86. N 7. P. 071301
  186. Walsh B.M., Collier M.R., Kuntz K.D., Porter F.S., Sibeck D.G., Snowden S.L., Carter J.A., Collado-Vega Y., Connor H.K., Cravens T.E., Read A.M., Sembay S., Thomas N.E. // J. Geophys. Res. Space Physics. 2016. V. 121. N 4. P. 3353
  187. Raab W., Branduardi-Raymont G., Wang C., Dai L., Donovan E., Enno G., Escoubet P., Holland A., Jing L., Kataria D., Li L., Read A., Rebuffat D., Romstedt J., Runciman C., Sembay S., Spanswick E., Sykes J., Thornhill J., Wielders A., Zhang A., Zheng J. // Proc. SPIE. 2016. V. 9905. P. 990502
  188. Feldman C., Pearson J., Willingale R., Sykes J., Drumm P., Houghton P., Bicknell C., Osborne J., Martindale A., O'Brien P., Fairbend R., Schyns E., Petit S., Roudot R., Mercier K., Le Duigou J., Gotz D. // Proc. SPIE. 2017. V. 10399. P. 103991Q
  189. Amati L., O'Brien P., Gotz D., Bozzo E., Tenzer C., Frontera F., Ghirlanda G., Labanti C., Osborne J.P., Stratta G., Tanvir N., Willingale R., Attina P., Campana R., Castro-Tirado A.J., Contini C., Fuschino F., Gomboc A., Hudec R., Orleanski P. // Adv. Space Res. 2018. V. 62. N 4. P. 191
  190. Korecki P., Sowa K.M., Jany B.R., Krok F. // Phys. Rev. Lett. 2016. V. 116. N 23. P. 233902
  191. Sowa K.M., Jany B.R., Korecki P. // Optica. 2018. V. 5. N 5. P. 577
  192. Nomoto K., Hata R., Doi K.,Nawaki Y., Yajima D., Furuya R., Shinoda K., Tsuruoka K., Kodaka H. // Proc. SPIE. 2018. V. 10760. P. 107600A
  193. Doi K., Nomoto K., Nawaki Y., Uetsuki K., Hata R., Tsuruoka K., Kodaka H., Ito H., Harada Y., Asakawa Y. // Proc. SPIE. 2019. V. 11108. P. 11080V
  194. Gertsenshteyn M., Jannson T., Savant G. // Proc. SPIE. 2005. V. 5922. P. 59220N
  195. Ashcraft C. //Creation. 2010. V. 32. N 3. P. 21.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Publisher:

Ioffe Institute

Institute Officers:

Director: Sergei V. Ivanov

Contact us:

26 Polytekhnicheskaya, Saint Petersburg 194021, Russian Federation
Fax: +7 (812) 297 1017
Phone: +7 (812) 297 2245
E-mail: post@mail.ioffe.ru