Оптика и спектроскопия
Авторам
Фокусирующая капиллярная и пористая рентгеновская оптика
Переводная версия: 10.21883/EOS.2022.14.54002.19-21 
Лидер В.В.1
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия 
Поступила в редакцию: 29 мая 2021 г.
В окончательной редакции: 29 мая 2021 г.
Принята к печати: 21 июля 2021 г.
Выставление онлайн: 3 сентября 2021 г.
Рассмотрены принципы работы и возможности рентгеновской фокусирующей капиллярной и пористой оптики. Особое внимание уделяется поликапиллярной оптике, конфокальной технике рентгеновского флуоресцентного анализа, а также широкоугольной оптике "глаза лобстера". Ключевые слова: рентгеновские лучи, фокусировка, капилляр, пористая оптика, оптика "глаза лобстера".
- Ice G.E., Budai J.D., Pang J.W.L. // Science. 2011. V. 334. N 6060. P. 1234
- Schmahl G., Rudolph D., Schneider G., Guttmann P., Niemann B. // Optik. 1994. V. 97. N 4. P. 181
- Guttmann P., Zeng X., Feser M., Heim S., Yun W., Schneider G. // J. Phys.: Conf. Ser. 2009. V. 186. N 1. P. 012064
- Howells M., Jacobsen C., Warwick T., Bos A. // Principles And Applications of Zone Plate X-Ray Microscopes. Science of Microscopy. NY.: Springer, 2007. V. 2. P. 835
- Wolter H. // Ann. Phys. 1952. B. 10. S. 94
- Wolter H. // Ann. Phys. 1952. B. 10. S. 286
- Bavdaz M., Collon M., Beijersbergen M., Wallace K., Wille E. // X-ray Opt. Instrum. 2010. V. 2010. ID 295095
- Priedhorsky W.C., Peele A.G., Nugene K.A. //Mon. Not. Roy. Astron. Soc. 1996. V. 279. N 3. P. 733
- Дабагов С.Б. // УФН. 2003. T. 173. N 10. C. 1083
- Furuta K., Nakayama Y., Shoji M., Kaigawa R., Hanamoto K., Nakano H., Hosokawa Y. // Rev. Sei. Instrum. 1993. V. 64. N 1. P. 135
- Wang L., Rath B.K., Gibson W.M., Kimball J.C., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 1996. V. 80. N 7. P. 3628
- Chen G.J., Cerrina F., Voss K.F., Kim K.H., Brown F.C. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1994. V. 347. N 1-3. P. 407
- Ullrich J.B., Kovantsev V.E., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 1993. V. 14. N 10. P. 5933
- Аркадьев В.А., Коломийцев А.И., Кумахов М.А., Пономарев И.Ю., Ходеев И.А., Чертов Ю.П., Шахпаронов И.М. // УФН. 1989. T. 157. N 3. C. 529
- MacDonald C.A., Gibson W.M. // X Ray Spectrom. 2003. V. 32. P. 258
- Suparmi Cari, Wang L., Wang H., Gibson W.M., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 2001. V. 90. N 10. P. 5363
- Сторижко В.Е., Ильяшенко М.В., Молодкин В.Б., Гаевский А.Ю., Денисенко В.Л., Денисенко О.И., Вершинский С.А. // Успехи физ. мет. 2010. T. 11. C. 1
- Bilderback D.H. // X-Ray Spectrom. 2003. V. 32. P. 195
- Charnley N.R., Potts P.J., Long J.V.P. // J. Anal. At. Spectrom. 1994. V. 9. N 11. P. 1185
- Zeng X., Duewer F., Feser M., Huang C., Lyon A., Tkachuk A., Yun W. // Appl.Opt. 2008. V. 47. N 13. P. 2376
- Bjeoumikhov A., Bjeoumikhova S., Wedell R. // Part. Part. Syst. Charact. 2005. V. 22. N 6. P. 384
- De Nolf W., Janssens K. // Surf. Interface Anal. 2010. V. 42. N 5. P. 411
- Snigireva I., Snigirev A. // J. Environ. Monit. 2006. V. 8. N 1. P. 33
- Thiel D.J., Bilderback D.H., Lewis A., Stern E.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1992. V. 317. N 3. P. 597
- Bilderback D.H., Hoffman S.A., Thiel D.J. // Science. 1994. V. 263. N 5144. P. 201
- Hoffman S.A., Thiel D.J., Bilderback D.H. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1994. V. 347. N 1-3. P. 384
- Vincze L., Janssens K., Adams F., Rindby A., Engstrijm P., Riekel C. // Adv. X-Ray Anal. 1999. V. 41. P. 252
- Balaic D.X., Barnea Z., Nugent K.A., Garrett R., Varghese R.F., Wilkins S.W. // J. Synchrotron Rad. 1996. V. 3. P. 289
- Chen J., Wu C., Tian J., Li W., Yu S., Tian Y. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. N 23. P. 233104
- Sorrentino A., Nicolas J., Valcarcel R., Chichon F.J. // J. Synchrotron Rad. 2015. V. 22. N 4. P. 1112
- Huang R., Szebenyi T., Pfeifer M., Woll A., Smilgies D.-M., Finkelstein K., Dale D., Wang Y., Vila-Comamala J., Gillilan R., Cook M., Bilderback D.H. // J. Phys.: Conf. Ser. 2014. V. 493. P. 012034
- Engstrom P., Larsson S., Rindby A., Stocklassa B. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. В. 1989. V. 36. N 2. P. 222
- Merkle A., Gelb J., Lavery L. // Microsc. Microanal. 2013. V. 19. N S2. P. 1314
- Muller M., Mey T., Niemeyer J., Mann K. // Opt. Express. 2014. V. 22. N 9. P. 23489
- Benk M., Bergmann K., Schafer D., Wilhein T. // Opt. Lett. 2008. V. 33. N 20. P. 2359
- Vincze L., Somogyi A., Osan J., Vekemans B., Torok S., Janssens K., Adams F. // Anal. Chem. 2002. V. 74. N 5. P. 1128
- Bartoll J., Rohrs S., Erko A., Firsov A., Bjeoumikhov A., Langhoff N. // Spectrochim. Acta B. 2004. V. 59. N 10-11. P. 1587
- Limburg K.E., Lochet A., Driscoll D., Dale D.S., Huang R. // X-ray Spectrom. 2007. V. 36. N 5. P. 336
- Lopes R.T., Lima I., Pereira G.R., Perez C.A. // Pramana. 2011. V. 76. N 2. P. 271
- Mroczka R., Zukocinski G., Lopucki R. //Proc. SPIE. 2017. V. 10235. P. 10235OE
- Lind Q.C., De Nolf W., Janssen K., Salbu B. // J. Environ. Radioact. 2013. V. 123. P. 63
- Wang J., Chen-Wiegart Y., Wang J. // Nat. Commun. 2014. V. 5. Art. 4570
- Merkle A., Gelb J. // Microscopy Today. 2013. V. 21. N 2. P. 10
- Tan C., Daemi S.R., Heenan T. M.M., Iacoviello F., Leach A., Rasha L., Jervis R., Brett D., Shearing P. // J. Electrochem. Soc. 2020. V. 167. N 6. P. 060512
- Li R., Cornaby S., Kamperman M., Smilgiers D.M. // J. Synchrotron Rad. 2011. V. 18. N 5. P. 697
- Sirenko A.A., Kazimirov A., Huang R., Bilderback D.H., O'Malley S., Gupta V., Bacher K., Ketelsen L.J.P., Ougazzaden A. // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. N 6. P. 063512
- Li F., Liu Z., Sun T. // J. Appl. Cryst. 2016. V. 49. N 2. P. 627
- Kazimirov A., Bilderback, Huang R., Sirenko A., Ougazzaden A. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2004. V. 37. N 4. P. L1
- Pantell R.H., Chung P.S. // IEEE J. Quant. Electron. 1978. V. 14. N 9. P. 694
- Бушуев В.А., Оруджалиев М.Н., Кузьмин Р.Н. // ЖТФ. 1989. V. 59. N 11. P. 153
- Kumakhov M.A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1990. V. 48. N 1-4. P. 283
- Kumakhov M.A., Komarov F.F. // Phys. Rep. 1990. V. 191. N 5. P. 289
- Kumakhov M.A. // X-ray Spectrom. 2000. V. 29. N 5. P. 343
- Gao N., Janssens K. Polycapillary X-ray optics/ in: X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, Wiley, Chichester, 2004. Р. 89
- MacDonald C.A. // X-Ray Opt. Instrum. 2010. V. 2010. Art. 867049
- Болотоков А., Зайцев Д., Лютцау А., Щербаков А. // Аналитика. 2012. N 4. C. 14
- Beloglazov V., Langhoff N., Tuchin V., Bjeoumikhov A., Bjeoumikhova Z., Wedel R., Skibina N., Skibina Y.S., Chainikov M. // J. X-Ray. Sci. Technol. 2005. V. 13. N 4. P. 179
- MacDonald C.A., Petruccelli J.C. // J. Phys.: Conf. Ser. 2016. V. 776. P. 012001
- Wegrzynek D., Mroczka R., Markowicz A., Chinea-Cano E., Bamford S. // X-Ray Spectrom. 2008. V. 37. N 6. P. 635
- Sun T., Liu Z., Li Y., Wang G., Zhu G., Ding X., Xu Q., Liu H., Luo P., Pan Q., Lin X., Teng Y. // Spectrochim. Acta B. 2009. V. 64. N 11-12. P. 1194
- MacDonald C.A., Gibson W.M. // Proc. SPIE. 1995. V. 2519. P. 186
- Sun T., MacDonald C.A. // J. Appl. Phys. 2013. V. 113. P. 053104
- Sun T., MacDonald C.A. // J. X-Ray Sci. Technol. 2015. V. 23. N 2. P. 141
- Bashir S., Tahir S., MacDonald C., Petruccelli J.C. // Opt. Commun. 2016. V. 369. P. 28
- Owens S.M., Ullrich J.B., Ponomarev I., Carter D.C., Sisk R.C., Ho J.X., Gibson W.M. // Proc. SPIE. 1996. V. 2859. P. 200
- MacDonald C.A., Owens S.M., Gibson W.M. // J. Appl. Cryst. 1999. V. 32. N 26. P. 160
- Gao N., Ponomarev I., Xiao Q.F., Gibson W.M., Carpenter D.C. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 69. N 11. P. 1529
- Gao N., Ponomarev I., Xiao Q.F., Gibson W.M., Carpenter D.C. // Appl. Phys. Lett. 1997. V. 71. N 23. P. 3441
- Yan Y., Gibson W.M. // Adv. X-Ray Anal. 2002. V. 45. P. 298
- Alfeld M., Pedroso J.V., van E. Hommes M., Van der Snickt G., Tauber G., Blaas J., Haschke M., Erler K., Dikb J., Janssens K. // J. Anal. At. Spectrom. 2013. V. 8. N 5. P. 760
- Bronk H., Rhrs S., Bjeoumikhov A., Langhoff N., Schmalz J., Wedell R., Gorny H.-E., Herold A., Waldschlager U. // Fresenius J. Anal. Chem. 2001. V. 371. N 3. P. 307
- Haschke M., Rossek U., Tagle R., Waldschlager U. // Adv. X-Ray Anal. 2012. V. 55. P. 286
- Trentelman K., Bouchard M., Ganio M., Namowicz C., Patterson C.S., Walton M. // X-Ray Spectrom. 2010. V. 39. N 3. P. 159
- Trentelman K., Janssens K., van der Snickt G., Szafran Y., Woollett A.T., Dik J. // Appl. Phys. A. 2015. V. 121. P. 801
- Martins A., Albertson C., McGlinchey C., Dik J. // Herit. Sci. 2016. V. 4. P. 22
- Martins A., Coddington J., Geert van der Snickt, van Driel B., McGlinchey C., Dahlberg D., Janssens K., Dik J. // Herit. Sci. 2016. V. 4. P. 33
- Duivenvoorden J.R., Kayhko A., Kwakkel E., Dik J. // Herit. Sci. 2017. V. 5. P. 6
- Hrnjica M., A. Hagen-Petera G., Bircha T., Barfod G.H., Sindbak S.M., Lesher C.E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 478. P. 11
- Vincze L., Wei F., Proost K., Vekemans B., Janssens K., He Y., Yan Y., Falkenberg G. // J. Anal. At. Spectrom. 1997. V. 17. N 3. P. 177
- Hofmann A., Freinberg-Truffas C.A., Osens S.M., Padiyar S.D., MacDonald C.A., // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1997. V. 133. N 1-4. P. 145
- Proost K., Vincze L., Janssens K., Gao N., Bulska E., Schreiner M., Falkenberg G. // X Ray Spectrom. 2003. V. 32. N 3. P. 215
- Tomik B., Chwiej J., Szczerbowska-Boruchowska M., Lankosz M., Wojcik S., Adamek D., Falkenberg G., Bohic S., Simionovici A., Stegowski Z., Szczudlik A. // Neurochem. Res. 2006. V. 31. N 3. P. 321
- Sun T., Liu Z., He B., We S.i, Xie Y., Liu T., Hu T., Ding X. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2007. V. 574. N 2. P. 285
- Sun T., Zhang M., Liu Z., Zhang Z., Li G., Ma Y., Du X., Jia Q., Chen Y., Yuan Q., Huang W., Zhu P., Ding X. // J. Synchrotron Rad. 2009. V. 16. N 1. P. 116
- Surowka A.D., Wrobel P., Adamek D., Radwanska E., Szczerbowska-Boruchowska M. // Metallomics. 2015. V. 7. N 11. P. 1522
- Gibson W.M., Kumakhov M.A. // Proc. SPIE. 1993. V. 1736. P. 172
- Николаев В.И., Чижова Е.В. // Научное приборостроение. 2011. T. 21. N 2. C. 3
- Ding X., Gao N., Havrilla G. // Proc. SPIE. 2000. V. 4144. P. 174
- Nakano K., Tsuji K. // J. Anal. At. Spectrom. 2010. V. 25. N 4. P. 562
- Sun T., Ding X. // Rev. Anal. Chem. 2015. V. 34. P. 45
- Woll A.R., Agyeman-Budu D., Choudhury S., Coulthard I., Finnefrock A.C., Gordon R., Hallin E., Mass J. // J. Phys.: Conf. Ser. 2014. V. 493. P. 12028.
- Chen G., Chu S., Sun T., Sun X., Zheng L., An P., Zhu J., Wu S., Du Y., Zhang J. // J. Synchrotron Rad. 2017. V. 24. N 5. P. 1000
- Hampai D., Cherepennikov Yu.M., Liedl A., Cappuccio G., Capitolo E., Iannarelli M., Azzutti C., Gladkikh Yu.P., Marcellia A., Dabagov S.B. // JINST. 2018. V. 13. N 4. P. C04024
- Bauters S., Tack P., Rudloff-Grund J.H., Banerjee D., Longo A., Vekemans B., Bras W., Brenker F.E., Van Silfhout R., Vincze L. // Anal. Chem. 2018. V. 90. N 3. P. 2389
- Tsuji K., Nakano K. // X-Ray Spectrom. 2007. V. 36. N 3. P. 145
- Nakazawa T., Tsuji K. // X-Ray Spectrom. 2013. V. 42. N 5. P. 374
- Kanngiesser B., Malzer W., Rodrigues A.F., Reiche I. // Spectrochim. Acta B. 2005. V. 60. N 1. P. 41
- Xiaoyan L., Zhihong W., Tianxi S., Qiuli P., Xunliang D. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2008. V. 266. N 11. P. 2638
- Mantouvalou I., Lange K., Wolff T., Grotzsch D., Luhl L., Haschke M., Hahn O., Kanngiesser B. // J. Anal. At. Spectrom. 2010. V. 25. N 4. P. 554
- Laclavetine K., Ager F.J., Arquillo J., Respaldiza M.A., Scrivano S. // Microchem. J. 2016. V. 125. P. 62
- it Xiang Z.J., Meng Z.Y., Liu Z.G., Pan K., Zhao W.G., Zhou P., Li Y. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2020. V. 770. P. 012054
- Ingerle D., Swies J., Iro M., Wobrauschek P., Streli C., Hradil K. // Rev. Sci. Instrum. 2020. V. 91. N 12. P. 123107
- Kanngiesser B., Malzer W., Mantouvalou I., Sokaras D., Karydas A.G. // Appl. Phys. A. 2012. V. 106. N 2. P. 325
- Tsuji K., Nakano K. // J. Anal. At. Spectrom. 2011. V. 26. N 2. P. 305
- Senkbeil T., Mohamed T., Simon R., Batchelor D., Di Fino A., Aldred N., Clare A.S., Rosenhahn A. // Anal. Bioanal. Chem. 2016. V. 408. N 5. P. 1487
- Seim C., Laurenze-Landsberg C., Schroder-Smeibidl B., Mantouvalou I., de Boerd C., Kanngiesser B. // J. Anal. At. Spectrom. 2014. V. 29. N 8. P. 1354
- v Smit v Z., Janssens K., Proost K., Langus I. // Nucl. Instr. Methods Phys. Res B. 2004. V. 219-220. N 1. P. 35
- Kanngiesser B., Malzer W., Reiche I. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2003. V. 211. N 2. P. 259
- Woll A.R., Bilderback D. H., Gruner S., Gao N., Huang R., Bisulca C., Mass J. // Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2005. V. 852. P. 281
- Woll A. R., Mass J., Bisulca C., Cushman M., Griggs C., Wazny T., Ocon N. // Studies in Conservation. 2008. V. 53. N 2. P. 93
- Malzer W. // The Rigaku J. 2006. V. 23. P. 40
- Reiche I., Muller K., Eveno M., Itie E., Menu M. // J. Anal. At. Spectrom. 2012. V. 27. N 10. P. 1715
- Reiche I., M?ller K., Mysak E., Eveno M., Mottin B. // Appl. Phys. A. 2015. V. 121. N 3. P. 903
- Nakano K., Tabe A., Shimoyama S., Tsuji K. // Microchem. J. 2016. V. 126. P. 496
- Reiche I., Eveno M., Mulle K.r, Calligaro T., Pichon L., Laval E., Mysak E., Mottin B. // Appl. Phys. A. 2016. V. 122. N 11. P. 947
- Zhou P., Liu Z., Ma X., Meng Z., Xiang Z., Wang X., Sun T., Lin X., Li Y. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 464. P. 111
- Kanngiesser B., Mantouvalou I., Malzer W., Wolff T., Hahn O. // J. Anal. At. Spectrom. 2008. V. 23. N 6. P. 814
- Nakano K., Tsuji K. // X-Ray Spectrom. 2009. V. 38. N 5. P. 446
- Yi L., Qin M., Wang K., Lin X., Peng S., Sun T., Liu Z. // Appl. Phys. A. 2016. V. 122. N 9. P. 856
- Nakazawa T., Tsuji K. // X-Ray Spectrom. 2013. V. 42. N 3. P. 123
- Qin M., Y L.i, Wang J., Han Y., Sun T., Liu Z. // IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 2017. V. 269. P. 012033
- Nakano K., Akioka K., Doi T., Arai M., Takabe H., Tsuji K. // ISIJ International. 2013. V. 53. N 11. P. 1953
- Akioka K., Nakazawa T., Doi T., Arai M., Tsuji K. // Powder Diffr. 2014. V. 29. N 2. P. 151
- Menzel M., Schlifke A., Falk M., Janek J., Froba M., Fittschen U.E.A. // Spectroc. Acta B. 2013. V. 85. P. 62
- Baker A.M., Cai Y., Ziegelbauer J.M., Agyeman-Budu D., Woll A., Kongkanand A., Mukundan R., Borup R.L. // ECS Trans. 2019. V. 92. N 8. P. 107
- Tsuji K., Yonehara T., Nakano K. // Anal. Sci. 2008. V. 24. N 1. P. 99
- Perez R. D., Sanchez H. J., Perez C. A., Rubio M. // Radiat. Phys. Chem. 2010. V. 79. N 2. P. 195
- McCormick N., Velasquez V., Finney L., Vogt S., Kelleher S.L. // PLoS ONE. 2010. V. 5. P. e11078
- Rauwolf M., Turyanskaya A., Roschger A., Prost J., Simon R., Scharf O., Radtke M., Schoonjans T., Guilherme Buzanich A., Klaushofer K., Wobrauschek P., Hofstaetter J. G., Roschgerb P., Streli C. // J. Synchrotron Rad. 2017. V. 24. N 1. P. 307
- Vincze L., Vekemans B., Brenker F.E., Falkenberg G., Rickers K., Somogyi A., Kersten M., Adams F. // Anal. Chem. 2004. V. 76. N 22. P. 6786
- Schmitz S., M?ller A., Wilke M., Malzer W., Kanngiesser B., Bousquet R., Berger A., Schefer S. // Eur. J. Mineral. 2009. V. 21. N 5. P. 927
- Jiang B., Zhu Y., Sun T., Liu Z., Li F., Sun X., Wang Y., Ding K. // Spectrosc. Lett. 2017. V. 50. N 10. P. 545
- Choudhury S., Swanston T., Varney T.L., Cooper D.M.L., George G.N., Pickering I.J., Grimes V., Bewer B., Coulthard I. // Archaeometry. 2016. V. 58. N S1. P. 207
- Choudhury S., Agyeman-Budu D.N., Woll A.R., Swanston T., Varney T.L., Cooper D.M.L., Hallin E., George G.N., Pickering I.J., Coulthard I. // J. Anal. At. Spectrom. 2017. V. 32. N 3. P. 527
- Hampai D., Liedl A., Cappuccio G., Capitolo E., Iannarelli M., Massussi M., Tucci S., Sardella R., Sciancalepore A., Polese C., Dabagov S.B. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2017. V. 402. P. 274
- Nakano K., Nishi C., Otsuki K., Nishiwaki Y., Tsuji K. //Anal. Chem. 2011. V. 83. N 9. P. 3477
- Emoto S., Otsuki K., Nakano K., Tsuji K. // Adv. X-Ray Anal. 2013. V. 56. P. 217
- Sun X., Zhang X., Wang X., Wang Y., Li Y., Peng S., Shao S., Liu Z., Shang H., Sun T. // X-Ray Spectrom. 2020. V. 49. N 2. P. 267
- Fittschen U.E.A., Falkenberg G. //Anal. Bioanal. Chem. 2011. V. 400. N 6. P. 1743
- Schmitz S., Brenker F.E., Schoonjans T., Vekemans B., Silversmit G., Vincze L., Burghammer M., Riekel C. // Geochim. Cosmochim. Acta 2009. V. 73. N 6. P. 5483
- Mazel V., Reiche I., Busignies V., Walter P., Tchoreloff P. // Talanta. 2011. V. 85. N 1. P. 556
- Mihucz V.G., Silversmit G., Szaloki I., de Samber B., Schoonjans T., Tatar E., Vincze L., Virag I., Yao J., Zaray G. // Food Chem. 2010. V. 121. N 1. P. 290
- Giacconi R., Rossi B. // J. Geophys. Res. 1960. V. 65. P. 773
- Wille E., Bavdaz M. // Acta Astronautica. 2015. V. 116. N 1. P. 50
- Saha T.T., McClelland R.S., Zhang W.W. // Proc. SPIE. 2014. V. 9144. P. 914418
- DeRoo C.T., Allured R., Cotroneo V., Hertz E., Marquez V., Reid P.B., Schwartz E.D., Vikhlinin A.A., Trolier-McKinstry S., Walker J., Jackson T.N., Liu T.N., Tendulkar M. // J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 2018. V. 4. N 1. P. 019004
- Wallace K., Bavdaz M., Collon M., Beijersbergen M., Kraft S., Fairbend R., S?guy J., Blanquer P., Graue R., Kampf D. // Proc. SPIE. 2006. V. 10567. P. 105670U
- Beijersbergen M., Kraft S., Bavdaz M., Lumb D., Gunther R., Collon M., Mieremet A., Fairbend R., Peacock A. // Proc. SPIE. 2004. V. 5539. P. 104
- Wille E., Wallace K., Bavdaz M., Collon M.J., Gunther R., Ackermann M., Beijersbergen M.W., Riekerink M.O., Blom M., Lansdorp B., de Vreede L. // Proc. SPIE. 2017. V. 10565. P. 105652L
- Westergaard N.J., Ferreira D.D.M., Massahi S. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2017. V. 873. N 21. P. 5
- Bavdaz M., Lumb D., Peacock A., Beijersbergen M., Kraft S. // Proc. SPIE. 2004. V. 5488. P. 829
- Chapman H.N., Nugent K.A., Wilkins S.W., Davis T.J. // J. X-Ray Sci. Technol. 1990. V. 2. N 2. P. 117
- Laprade B., Cochran R.C., Langevin F., Dykstra M.W. // Proc SPIE. 1997. V. 3173. P. 474
- Willingale R., Fraser G.W., Brunton A.N., Martin A.P. // Exp. Astron. 1998. V. 8. N 4. P. 281
- Beijersbergen M.W., Bavdaz M., Peacock A.J., Tomaselli E., Fraser G., Brunton A., Flyckt E., Krumrey M.K., Souvorov A. // Proc. SPIE. 1999. V. 3765. P. 452
- Collon M., Beijersbergen M., Wallace K., Bavdaz M., Fairbend R., Seguy J., Schyns E., Krumrey M., Freyberg M. // Proc. SPIE. 2007. V. 6688. P. 668812
- Wallace K., Collon M., Beijersbergen M., Oemrawsingh S., Bavdaz M., Schyns E. // Proc. SPIE. 2007. V. 6688. P. 66881C
- Price G.J., Brunton A.N., Beijersbergen M.W., Fraser G.W., Bavdaz M., Boutot J.P., Fairbend R., Flyckt S.O., Peacock A., Tomaselli E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2002. V. 490. N 1-2. P. 276
- Gotz D., Osborne J., Cordier B., Paul J., Evans P., Beardmore A., Martindale A., Willingale R., O'Brien P., Basa S., Rossin C., Godet O., Webb N., Greiner J., Nandra K., Meidinger N., Perinati E., Santangelo A., Mercier K., Gonzalez F. // Proc. SPIE. 2014. V. 9144. P. 914423
- Ezoe Y., Koshiishi M., Mita M., Mitsuda K., Hoshino A., Ishisaki Y., Yang Z., Takano T., Maeda R. // Appl. Opt. 2006. V. 45. N 35. P. 8932
- Ezoe Y., Koshiishi M., Mita M., Mitsuda K., Hoshino A., Ishisaki Y., Takano T., Maeda R. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2007. V. 579. N 2. P. 817
- Ezoe Y., Mitsuishi I., Takagi U., Koshiishi M., Mitsuda K., Yamasaki N.Y., Ohashi T., Kato F., Sugiyama S., Riveros R.E., Yamaguchi H., Fujihira S., Kanamori Y., Morishita K., Nakajima K., Maeda R. // Microsyst. Technol. 2010. V. 16. N 8-9. P. 1633
- Ezoe Y., Miyoshi Y., Kasahara S., Kimura T., Ishikawa K., Fujimoto M., Mitsuda K., Sahara H., Isobe N., Nakajima H., Ohashi T., Nagata H., Funase R., Ueno M., Branduardi-Raymont G. // J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 2018. V. 4. N 4. P. 046001
- Mitsuishi I., Ezoe Y., Takagi U., Mita M., Riveros R., Yamaguchi H., Kato F., Sugiyama S., Fujiwara K., Morishita K., Nakajima K., Fujihira S., Kanamori Y., Yamasaki N., Mitsuda K., Maeda R. // Proc. SPIE. 2009. V. 7360. P. 736040
- Riveros R. E., Yamaguchi H., Mitsuishi I., Takagi U., Ezoe Y., Kato F., Sugiyama S., Yamasaki N., Mitsuda K. // Appl. Optics. 2010. V. 49. N 18. P. 3511
- Nakajima K., Fujiwara K., Pan W., Okuda H. // Nat. Mater. 2005. V. 4. N 1. P. 47
- Schmidt W.H.K. // Nucl. Instr. Meth. 1975. V. 127. P. 285
- Angel J.R.P. // Astrophys. J. 1979. V. 233. P. 364
- Chapman H.N., Nugent K.A., Wilkins S.W. // Rev. Sci. Instr. 1991. V. 62. N 6. P. 1542
- Kaaret P., Geissbuhler P. // Proc. SPIE. 1991. V. 1546. P. 82
- it Kaaret P., Geissbuhler P., Chen A., Glavinas E. // Appl. Opt. 1992. V. 31. N 34. P. 7339
- Peele A.G., Nugent K.A., Rode A.V., Gabel K., Richardson M.C., Strack R., Siegmund W. // Appl. Opt. 1996. V. 35. N 22. P. 4420
- Su L., Li W., Wu M., Su Y., Guo C., Ruan N., Yang B., Yan F. // Appl. Opt. 2017. V. 56. N 22. P. 6267
- Tamagawa T., Uchiyama K., Otsubo R., Yuasa T., Zhou Y., Mihara T., Ezoe Y., Numazawa M., Ishi D., Fukushima A., Suzuki H., Uchino T., Sakuta S., Ishikawa K., Enoto T., Sakamoto T. // J. Astron. Telesc. Instrum. Syst. 2020. V. 6. N 2. P. 025003
- Wiza J.L. // Nucl. Instr. Meth. 1979. V. 162. P. 587
- Grubsky V., Gertsenshteyn M., Shoemaker K., Jannson T. // Proc. SPIE. 2007. V. 6688. P. 66880P
- Willingale R., Pearson J.F., Martindale A., Feldman C.H., Fairbend R., Schyns E., Petit S., Osborne J. P., O'Brien P. T. // Proc. SPIE. 2016. V. 9905. P. 99051Y
- Mutz J.-L., Bonnet O., Fairbend R., Schyns E., Seguy J. // Proc SPIE. 2007. V. 6479. P. 64790F
- Peng S., Wei F., Guo Y., Ye Y. // Opt. Eng. 2019. V. 58. N 9. P. 093101
- Svendsen S., Knudsen E.B., Blake S., Oosterbroek T., Jegers A.S., Ferreira D.D.M., Prod'hommec T., Short B.t, Willingale R., O'Brien P. // Proc. SPIE. 2019. V. 11119. P. 111191R
- Peele A.G., Irving T.H.K., Nugent K.A., Mancini D.C., Christenson T.R., Petre R., Brumby S.P., Priedhorsky W.C. // Rev. Sci. Instrum. 2001. V. 72. N 3. P. 1843
- Peele A.G., Vora K.D., Shew B.-Y., Loechl B., Harvey E.C., Hayes J.P. // Microsyst. Technol. 2007. V. 13. N 5. P. 511
- Fraser G.W., Brunton A.N., Bannister N.P., Pearson J.F., Ward M., Stevenson T.J., Watson D.J., Warwick B., Whitehead S., O'Brian P., White N., Jahoda K., Black K., Hunter S.D., Deines-Jones P., Priedhorsky W.C., Brumby S.P., Borozdin K.N., Vestrand T., Fabian A.C., Nugent K.A., Peele A.G., Irving T.H.K., Price S., Eckersley S., Renouf I., Smith M., Parmar A.N., McHardy I.M., Uttley P., Lawrence A. // Proc. SPIE. 2002. V. 4497. P. 115
- Branduardi-Raymont G., Sembay S.F., Eastwood J.P., Sibeck D.G., Abbey A., Brown P., Carter J.A., Carr C.M., Forsyth C., Kataria D., Kemble S., Milan S.E., Owen C.J., Peacocke L., Read A.M., Coates A.J., Collier M.R., Cowley S.W.H., Fazakerley A.N., Fraser G.W., Jones G.H., Lallement R., Lester M., Porter F.S., Yeoman T.K. // Exp. Astron. 2012. V. 33. N 2. P. 403
- Collier M.R., Scott Porter F., Sibeck D.G., Carter J.A., Chiao M.P., Chornay D.J., Cravens T.E., Galeazzi M., Keller J.W., Koutroumpa D., Kujawski J., Kuntz K., Read A.M., Robertson I.P., Sembay S., Snowden S.L., Thomas N., Uprety Y., Walsh B.M. // Rev. Sci. Instrum. 2015. V. 86. N 7. P. 071301
- Walsh B.M., Collier M.R., Kuntz K.D., Porter F.S., Sibeck D.G., Snowden S.L., Carter J.A., Collado-Vega Y., Connor H.K., Cravens T.E., Read A.M., Sembay S., Thomas N.E. // J. Geophys. Res. Space Physics. 2016. V. 121. N 4. P. 3353
- Raab W., Branduardi-Raymont G., Wang C., Dai L., Donovan E., Enno G., Escoubet P., Holland A., Jing L., Kataria D., Li L., Read A., Rebuffat D., Romstedt J., Runciman C., Sembay S., Spanswick E., Sykes J., Thornhill J., Wielders A., Zhang A., Zheng J. // Proc. SPIE. 2016. V. 9905. P. 990502
- Feldman C., Pearson J., Willingale R., Sykes J., Drumm P., Houghton P., Bicknell C., Osborne J., Martindale A., O'Brien P., Fairbend R., Schyns E., Petit S., Roudot R., Mercier K., Le Duigou J., Gotz D. // Proc. SPIE. 2017. V. 10399. P. 103991Q
- Amati L., O'Brien P., Gotz D., Bozzo E., Tenzer C., Frontera F., Ghirlanda G., Labanti C., Osborne J.P., Stratta G., Tanvir N., Willingale R., Attina P., Campana R., Castro-Tirado A.J., Contini C., Fuschino F., Gomboc A., Hudec R., Orleanski P. // Adv. Space Res. 2018. V. 62. N 4. P. 191
- Korecki P., Sowa K.M., Jany B.R., Krok F. // Phys. Rev. Lett. 2016. V. 116. N 23. P. 233902
- Sowa K.M., Jany B.R., Korecki P. // Optica. 2018. V. 5. N 5. P. 577
- Nomoto K., Hata R., Doi K., Nawaki Y., Yajima D., Furuya R., Shinoda K., Tsuruoka K., Kodaka H. // Proc. SPIE. 2018. V. 10760. P. 107600A
- Doi K., Nomoto K., Nawaki Y., Uetsuki K., Hata R., Tsuruoka K., Kodaka H., Ito H., Harada Y., Asakawa Y. // Proc. SPIE. 2019. V. 11108. P. 11080V
- Gertsenshteyn M., Jannson T., Savant G. // Proc. SPIE. 2005. V. 5922. P. 59220N
- Ashcraft C. // Creation. 2010. V. 32. N 3. P. 21.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
