Вышедшие номера
Изучение оптически наведенного заряда наночастиц Au в пленках ZrO2(Y) методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии
Министерство науки и высшего образования РФ, проектная часть госзадания, 0729-2020-0058
РФФИ , 20-02-00830
Филатов Д.О.1, Новиков А.С.1, Шенина М.Е.1, Антонов И.Н.2, Нежданов А.В.3, Казанцева И.А.3, Горшков О.Н.1
1Научно-образовательный центр "Физика твердотельных наноструктур", Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Научно-иследовательский физико-технический институт, Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
3Физический факультет, Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: dmitry_filatov@inbox.ru
Поступила в редакцию: 6 мая 2022 г.
В окончательной редакции: 27 июля 2022 г.
Принята к печати: 1 августа 2022 г.
Выставление онлайн: 31 октября 2022 г.

Методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии исследованы аккумуляция и релаксация оптически-наведенного электрического заряда в пленках ZrO2(Y) со встроенным однослойным массивом наночастиц Au диаметром 2-3 nm в зависимости от глубины залегания наночастиц Au в слое ZrO2(Y) и мощности оптического возбуждения на длинах волн 473 и 633 nm. Ключевые слова: тонкопленочные системы, стабилизированный диоксид циркония, наночастицы, плазмонный резонанс. DOI: 10.21883/JTF.2022.12.53760.123-22