Проект двухзеркального монохроматора на диапазон энергий фотонов 8-36 keV для синхротрона "CКИФ"
Чхало Н.И.1, Гарахин С.А.1, Малышев И.В.1, Полковников В.Н.1, Торопов М.Н.1, Салащенко Н.Н.1, Уласевич Б.А.1, Ракшун Я.В.2, Чернов В.А.2, Долбня И.П.3, Ращенко С.В.4
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия
3Diamond Light Source Ltd, Diamond House, Harwell Science and Innovation Campus, OX11 0DE, Didcot, Oxfordshire, United Kingdom
4Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева СО РАН, Новосибирск, Россия
Email: chkhalo@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 14 апреля 2022 г.
В окончательной редакции: 14 апреля 2022 г.
Принята к печати: 14 апреля 2022 г.
Выставление онлайн: 12 июня 2022 г.
Сообщено о проекте монохроматора рентгеновского излучения для синхротрона "СКИФ" на основе двух плоских зеркал с многослойными отражающими покрытиями. Концепция монохроматора основана на отсутствии в вакууме прецизионных механических систем и вводов движения в вакуум, что существенно уменьшает загрязнение поверхности зеркал и повышает точность сканирования. Помимо этого, вся конструкция устройства таким способом значительно упрощается, что в свою очередь, ведет к существенному сокращению общей стоимости и трудозатрат на изготовление. Скользящий угол падения излучения на зеркала в процессе сканирования по энергии фотонов изменялся в пределах 0.5-1.3o. Длина зеркал составила 120 mm, предполагаемый размер входного пучка 1x1 mm2. Широкий рабочий диапазон энергий, 8-36 keV, достигнут за счет использования трех стрипов-зеркал с покрытиями различного химического состава, а именно Mo/B4C, W/B4C и Cr/Be. Приведены рентгенооптическая схема, ожидаемые коэффициенты отражения и спектральная селективность монохроматора, результаты расчета термоиндуцированных деформаций поверхности и соответствующие угловые ошибки (slope errors) первого зеркала. Ключевые слова: синхротронное излучение, многослойное зеркало, монохроматор, поверхность.
- S.J. Leake, G.A. Chahine, H. Djazouli, T. Zhou, C. Richter, J. Hilhorst, L. Petit, M.-I. Richard, C. Morawe, R. Barrett, L. Zhang, R.A. Homs-Regojo, V. Favre-Nicolin, P. Boesecke, T.U. Schulli. J. Synchrotron Rad., 26, 571-584 (2019). https://doi.org/10.1107/S160057751900078X
- B. Wu, A. Kumar. Appl. Phys. Rev., 1, 011104 (2014). https://doi.org/10.1063/1.4863412
- I.V. Malyshev, N.I. Chkhalo. Ultramicroscopy, 202, 76-86 (2019). DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.04.001
- U.H. Wagner, Z.D. Pev sic, A. De Fanis, C. Rau. J. Phys. Conf. Ser., 425, 182006 (2013). DOI: 10.1088/1742-6596/425/18/182006
- M.N. Boone, F. Van Assche, S. Vanheule, S. Cipiccia, H. Wang, L. Vinczec, L. Van Hoorebeke. J. Synchrotron Rad., 27, 110-118 (2020). https://doi.org/10.1107/S1600577519015212
- S.V. Rashchenko, M.A. Skamarokha, G.N. Baranov, Y.V. Zubavichus, I.V. Rakshun. AIP Conf. Proc., 2299, 060001 (2020). https://doi.org/10.1063/5.0030346
- P. Brumund, J. Reyes-Herrera, C. Morawe, T. Dufrane, H. Isern, T. Brochard, M. Sanchez del Rio, C. Detlefs. J. Synchrotron Rad., 28, 1423-1436 (2021). DOI: 10.1107/S160057752100758X
- A. Rack, Ch. Morawe, L. Mancini, D. Dreossi, D.Y. Parkinson, A.A. MacDowell, F. Siewert, T. Rack, T. Holz, M. Kramer, R. Dietsch. Proc. SPIE, 9207, 92070V (2014). DOI: 10.1117/12.2060801
- M.S. Bibishkin, N.I. Chkhalo, A.A. Fraerman, A.E. Pestov, K.A. Prokhorov, N.N. Salashchenko, Yu.A. Vainer. Nucl. Instrum. Meth. A, 543, 333-339 (2005). DOI: 10.1016/j.nima.2005.01.251
- R. Pleshkov, N. Chkhalo, V. Polkovnikov, M. Svechnikov, M. Zorina. J. Appl. Crystallogr., 54 (6), 1747 (2021). https://doi.org/10.1107/S160057672101027X
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.