Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Система визуализации плазменного факела бетатронного источника рентгеновского излучения

DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52784.80-22

Переводная версия: 10.21883/TP.2022.08.54566.80-22

Антюшин Е.С.¹, Ахсахалян А.А.¹, Зуев С.Ю.¹, Лопатин А.Я.¹, Малышев И.В.¹, Нечай А.Н.¹, Перекалов А.А.¹, Пестов А.Е.¹, Салащенко Н.Н.¹, Торопов М.Н.¹, Уласевич Б.А.¹, Цыбин Н.Н.¹, Чхало Н.И.¹, Соловьев А.А.², Стародубцев М.В.²

¹Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia

Institute for Physics of Microstructures, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia

²Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия Institute of Applied Physics, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia

Institute of Applied Physics, Russian Academy of Sciences, Nizhny Novgorod, Russia

Email: aepestov@ipm.sci-nnov.ru

Поступила в редакцию: 5 апреля 2022 г.

В окончательной редакции: 5 апреля 2022 г.

Принята к печати: 5 апреля 2022 г.

Выставление онлайн: 12 июня 2022 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Описана конструкция микроскопа для изучения бетатронного источника излучения на базе фемтосекундного лазерного комплекса PEARL в мягком рентгеновском (МР) и экстремально ультрафиолетовом (ЭУФ) диапазоне длин волн. Основной оптический элемент микроскопа - сферический объектив Шварцшильда с пятикратным увеличением. Прибор позволил исследовать размеры и пространственную структуру области взаимодействия лазерного излучения с веществом, на выбранной длине волны в ЭУФ или МР диапазоне с разрешением delta x=2.75 μm. Рабочая длина волны (λ=13.5 nm) задается многослойными рентгеновскими зеркалами. Для подавления фоновой составляющей сигнала использованы тонкопленочные абсорбционные фильтры. Ключевые слова: МР и ЭУФ излучение, изображающая рентгеновская оптика, МР микроскоп, бетатронное излучение.

A.Ya. Faenov, J. Colgan, S.B. Hansen, A. Zhidkov, T.A. Pikuz, M. Nishiuchi, S.A. Pikuz, I.Yu. Skobelev, J. Abdallah, H. Sakaki, A. Sagisaka, A.S. Pirozhkov, K. Ogura, Y. Fukuda, M. Kanasaki, N. Hasegawa, M. Nishikino, M. Kando, Y. Watanabe, T. Kawachi, S. Masuda, T. Hosokai, R. Kodama, K. Kondo. Scientific Reports, 5, 13436 (2015)
I. Kostyukov, A. Pukhov, S. Kiselev. Phys. Plasmas, 11, 5256 (2004)
W. Lu, C. Huang, M. Zhou, W. Mori, T. Katsouleas. Phys. Rev. Lett., 96, 165002 (2006)
S. Kiselev, A. Pukhov, I. Kostyukov. Phys. Rev. Lett., 93, 135004 (2004)
S. Corde, K.Ta Phuoc, G. Lambert, R. Fitour, V. Malka, A. Rousse, A. Beck, E. Lefebvre. Rev. Mod. Phys., 85, 1 (2013)
J. Wenz, S. Schleede, K. Khrennikov, M. Bech, P. Thibault, M. Heigoldt, F. Pfeiffer, S. Karsch. Nature Commun., 6, 7568 (2015)
Zs. Lecz, A. Andreev, N. Hafz. Phys. Rev. E, 102, 053205 (2020). https://doi.org/10.1103/PhysRevE.102.053205
A.A. Soloviev et al. NIM A, 653, 35--41 (2011)
V.V. Lozhkarev G.I. Freidman, V.N. Ginzburg, E.V. Katin, E.A. Khazanov, A.V. Kirsanov, G.A. Luchinin, A.N. Mal'shakov, M.A. Martyanov, O.V. Palashov, A.K. Poteomkin, A.M. Sergeev, A.A. Shaykin, I.V. Yakovlev. Laser Phys. Lett., 4, 421 (2007)
[Электронный ресурс] Режим доступа: www.zemax.com
И.Г. Забродин, М.В. Зорина, И.А. Каськов, И.В. Малышев, М.С. Михайленко, А.Е. Пестов, Н.Н. Салащенко, А.К. Чернышев, Н.И. Чхало. ЖТФ, 90 (11), 1922 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49985.112-20 [I.G. Zabrodin, M.V. Zorina, I.A. Kas'kov, I.V. Malyshev, M.S. Mikhailenko, A.E. Pestov, N.N. Salashchenko, A.K. Chernyshev, N.I. Chkhalo. Tech. Phys., 65 (11), 1837--1845 (2020). DOI: 10.1134/S1063784220110274]
[Электронный ресурс] Режим доступа: https://andor.oxinst.com/
[Электронный ресурс] Режим доступа: http://xray-optics.ru/products/software-multifitting/
S.S. Andreev, N.N. Salashchenko, L.A. Suslov, A.N. Yablonsky, S.Yu. Zuev. NIM A, 470 (1-2), 162--167 (2001)
S.A. Garakhin, N.I. Chkhalo, I.A. Kas'kov, A.Ya. Lopatin, I.V. Malyshev, A.N. Nechay, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.V. Svechnikov, N.N. Tsybin, I.G. Zabrodin, S.Yu. Zuev. Rev. Sci. Instrum., 91 (6), 063103 (2020). DOI: 10.1063/1.5144489
N.I. Chkhalo, I.V. Malyshev, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.N. Toropov, A.A. Soloviev. Appl. Opt., 55 (3), 619--625 (2016)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель