Вышедшие номера
Сравнение СТМ и АСМ измерений тонких пленок Mo с моделью Кардара-Паризи-Жанга
Фомин Л.А. 1, Маликов И.В. 1, Березин В.А.1, Рассадин А.Э.2, Логинов А.Б.3, Логинов Б.А.4
1Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Черноголовка, Россия
2НИУ Высшая школа экономики, Нижний Новгород, Россия
3Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
4Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Зеленоград, Москва, Россия
Email: fomin@iptm.ru
Поступила в редакцию: 29 апреля 2021 г.
В окончательной редакции: 29 апреля 2021 г.
Принята к печати: 29 апреля 2021 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2021 г.

Методами сканирующей туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии исследован рельеф эпитаксиальных пленок Mo малых толщин, выращенных на R-плоскости сапфира. Найдена область параметров модели эволюции рельефа поверхности пленок Кардара-Паризи-Жанга, в которой она соответствует полученным экспериментальным результатам. Ключевые слова: эпитаксиальные пленки, тугоплавкие металлы, шероховатая поверхность, принцип максимума Олейник-Лакса, преобразование Коула-Хопфа.